本技術(shù)涉及顯示，特別涉及一種點屏測試裝置及點屏測試方法。

背景技術(shù)：

1、在虛擬現(xiàn)實(virtual?reality，vr)、增強現(xiàn)實(augmented?reality，ar)和混合現(xiàn)實(mixed?reality，mr)領(lǐng)域中，顯示模組是vr、ar、mr設(shè)備的關(guān)鍵部件之一，因此需要在生產(chǎn)階段對顯示模組進行點屏測試。

2、相關(guān)技術(shù)中，通常采用點屏測試裝置對顯示模組進行點屏測試。測試過程中，會由檢測人員判斷所需檢測的顯示模組的型號，并選擇對應(yīng)的初始化配置，以及在點屏測試裝置中設(shè)置點屏測試的初始化配置。顯示模組連接后檢測人員會給點屏測試裝置上電以對顯示模組點屏。顯示模組有畫面顯示后檢測人員會用配套的光學(xué)儀器完成顯示模組參數(shù)的檢測并判斷顯示模組測試結(jié)果是否合格。然后再斷電連接其它型號的顯示模組，進行下一個顯示模組的測試，如此循環(huán)。

3、上述測試過程需要人工判斷顯示模組的型號以選擇對應(yīng)的初始化配置，存在一定的出錯風險。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本技術(shù)提供了一種點屏測試裝置及點屏測試方法，可以避免人工誤判導(dǎo)致設(shè)置錯誤的點屏初始化參數(shù)。所述技術(shù)方案如下：

2、根據(jù)本技術(shù)的一方面，提供了一種點屏測試裝置，所述點屏測試裝置包括主模塊以及模組連接模塊，所述主模塊與所述模組連接模塊相連；

3、所述模組連接模塊用于與顯示模組相連，所述模組連接模塊內(nèi)置有所述顯示模組對應(yīng)的型號識別信息，所述型號識別信息用于指示所述顯示模組的型號；

4、所述主模塊內(nèi)置有n種顯示模組型號各自對應(yīng)的參數(shù)初始化配置，n種參數(shù)初始化配置中的目標參數(shù)初始化配置與所述顯示模組的型號匹配，所述目標參數(shù)初始化配置用于配置所述顯示模組的點屏測試參數(shù)，n為大于1的正整數(shù)。

5、可選地，所述主模塊，用于通過所述模組連接模塊讀取所述型號識別信息，以及根據(jù)所述型號識別信息在所述n種參數(shù)初始化配置中確定所述目標參數(shù)初始化配置；所述主模塊，還用于根據(jù)所述目標參數(shù)初始化配置對所述顯示模組點屏以進行點屏測試。

6、可選地，所述主模塊包括邏輯控制模塊和顯示驅(qū)動模塊，所述顯示驅(qū)動模塊內(nèi)置有所述n種顯示模組型號各自對應(yīng)的點屏參數(shù)，所述邏輯控制模塊與所述模組連接模塊相連，所述顯示驅(qū)動模塊與所述模組連接模塊相連，所述顯示驅(qū)動模塊與所述邏輯控制模塊相連；

7、所述邏輯控制模塊，用于通過所述模組連接模塊讀取所述型號識別信息，以及將所述型號識別信息傳輸至所述顯示驅(qū)動模塊；所述顯示驅(qū)動模塊，用于根據(jù)所述型號識別信息在n種點屏參數(shù)中確定目標點屏參數(shù)，以及通過所述目標點屏參數(shù)驅(qū)動所述顯示模組點屏。

8、可選地，所述目標點屏參數(shù)包括供電參數(shù)和顯示信號參數(shù)；所述顯示驅(qū)動模塊，用于根據(jù)所述供電參數(shù)對所述顯示模組供電，以及根據(jù)所述顯示信號參數(shù)向所述顯示模組提供顯示信號，以驅(qū)動所述顯示模組點屏。

9、可選地，所述顯示模組包括mipi標準接口，所述顯示驅(qū)動模塊包括橋接芯片；所述橋接芯片，用于根據(jù)所述顯示信號參數(shù)將點屏測試圖像的數(shù)據(jù)進行處理，得到用于所述mipi標準接口的顯示信號。

10、可選地，所述點屏測試裝置還包括上位機，所述上位機與所述顯示驅(qū)動模塊相連；

11、所述上位機，用于向所述顯示驅(qū)動模塊傳輸所述點屏測試圖像。

12、可選地，所述點屏測試裝置還包括上位機，所述上位機與所述主模塊相連；

13、所述主模塊，用于采集所述顯示模組的點屏測試數(shù)據(jù)，以及將所述點屏測試數(shù)據(jù)以及所述型號識別信息傳輸至所述上位機；所述上位機，用于根據(jù)所述點屏測試數(shù)據(jù)以及所述型號識別信息確定所述顯示模組的點屏測試結(jié)果。

14、可選地，所述點屏測試裝置還包括指示燈，所述指示燈與所述主模塊相連；

15、所述上位機，用于將所述點屏測試結(jié)果傳輸至所述主模塊；所述主模塊，用于根據(jù)所述點屏測試結(jié)果點亮所述指示燈。

16、可選地，所述點屏測試裝置還包括點屏測試模塊，所述點屏測試模塊與所述主模塊相連，所述點屏測試模塊與所述模組連接模塊相連；所述主模塊，用于控制所述點屏測試模塊對處于點屏狀態(tài)的所述顯示模組進行點屏測試；所述點屏測試模塊，用于將所述點屏測試數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)傳輸至所述主模塊。

17、可選地，所述點屏測試模塊包括電學(xué)采樣模塊；所述主模塊，用于控制所述電學(xué)采樣模塊對處于點屏狀態(tài)的所述顯示模組進行電學(xué)采樣；所述電學(xué)采樣模塊，用于將電學(xué)采樣結(jié)果傳輸至所述主模塊；所述主模塊，用于將所述電學(xué)采樣結(jié)果以及所述型號識別信息傳輸至所述上位機；所述上位機，用于根據(jù)所述電學(xué)采樣結(jié)果以及所述型號識別信息對應(yīng)的電學(xué)測試條件確定所述顯示模組的第一點屏測試結(jié)果。

18、可選地，所述點屏測試模塊包括光學(xué)測試模塊；所述主模塊，用于控制所述電學(xué)采樣模塊對處于點屏狀態(tài)的所述顯示模組進行光學(xué)測試；所述光學(xué)測試模塊，用于將光學(xué)測試結(jié)果傳輸至所述主模塊；所述主模塊，用于將所述光學(xué)測試結(jié)果以及所述型號識別信息傳輸至所述上位機；所述上位機，用于根據(jù)所述光學(xué)測試結(jié)果以及所述型號識別信息對應(yīng)的光學(xué)測試條件確定所述顯示模組的第二點屏測試結(jié)果。

19、可選地，所述模組連接模塊包括翻蓋結(jié)構(gòu)，所述翻蓋結(jié)構(gòu)用于固定所述顯示模組；所述模組連接模塊，用于在上電且所述翻蓋結(jié)構(gòu)被打開的情況下生成第一信號。

20、可選地，所述模組連接模塊包括行程按鍵，在所述模組連接模塊與所述主模塊已連接的情況下，所述行程按鍵處于第一位置，在所述模組連接模塊與所述主模塊斷開連接的情況下，所述行程按鍵處于第二位置；所述模組連接模塊，用于在上電且所述行程按鍵處于所述第二位置的情況下生成第二信號。

21、根據(jù)本技術(shù)的另一方面，提供了一種點屏測試方法，該方法可用于上述方面所述的裝置，所述方法包括：

22、所述主模塊通過所述模組連接模塊讀取所述型號識別信息；

23、所述主模塊根據(jù)所述型號識別信息，在n種參數(shù)初始化配置中確定所述目標參數(shù)初始化配置；

24、所述主模塊根據(jù)所述目標參數(shù)初始化配置控制所述顯示模組進行點屏以進行點屏測試。

25、可選地，所述主模塊包括邏輯控制模塊和顯示驅(qū)動模塊，所述顯示驅(qū)動模塊內(nèi)置有所述n種顯示模組型號各自對應(yīng)的點屏參數(shù)；所述主模塊通過所述模組連接模塊讀取所述型號識別信息，包括：

26、所述邏輯控制模塊通過所述模組連接模塊讀取所述型號識別信息；

27、所述主模塊根據(jù)所述型號識別信息，在n種參數(shù)初始化配置中確定所述目標參數(shù)初始化配置，包括：

28、所述邏輯控制模塊將所述型號識別信息傳輸至所述顯示驅(qū)動模塊；

29、所述顯示驅(qū)動模塊根據(jù)所述型號識別信息在n種點屏參數(shù)中確定目標點屏參數(shù)；

30、所述主模塊根據(jù)所述目標參數(shù)初始化配置控制所述顯示模組進行點屏以進行點屏測試，包括：

31、所述顯示驅(qū)動模塊通過所述目標點屏參數(shù)驅(qū)動所述顯示模組點屏。

32、可選地，所述目標點屏參數(shù)包括供電參數(shù)和顯示信號參數(shù)；所述顯示驅(qū)動模塊通過所述目標點屏參數(shù)驅(qū)動所述顯示模組點屏，包括：

33、所述顯示驅(qū)動模塊根據(jù)所述供電參數(shù)對所述顯示模組供電，以及根據(jù)所述顯示信號參數(shù)向所述顯示模組提供顯示信號，以驅(qū)動所述顯示模組點屏。

34、可選地，所述顯示模組包括mipi標準接口，所述顯示驅(qū)動模塊包括橋接芯片；所述方法還包括：

35、所述橋接芯片根據(jù)所述顯示信號參數(shù)將點屏測試圖像的數(shù)據(jù)進行處理，得到用于所述mipi標準接口的顯示信號。

36、可選地，所述點屏測試裝置還包括上位機；所述方法還包括：

37、所述上位機向所述顯示驅(qū)動模塊傳輸所述點屏測試圖像。

38、可選地，所述點屏測試裝置還包括上位機；所述方法還包括：

39、所述主模塊采集所述顯示模組的點屏測試數(shù)據(jù)；

40、所述主模塊將所述點屏測試數(shù)據(jù)以及所述型號識別信息傳輸至所述上位機；

41、所述上位機根據(jù)所述點屏測試數(shù)據(jù)以及所述型號識別信息確定所述顯示模組的點屏測試結(jié)果。

42、可選地，所述點屏測試裝置還包括指示燈；所述方法還包括：

43、所述上位機將所述點屏測試結(jié)果傳輸至所述主模塊；

44、所述主模塊根據(jù)所述點屏測試結(jié)果點亮所述指示燈。

45、可選地，所述點屏測試裝置還包括點屏測試模塊；所述主模塊采集所述顯示模組的點屏測試數(shù)據(jù)，包括：

46、所述主模塊控制所述點屏測試模塊對處于點屏狀態(tài)的所述顯示模組進行點屏測試；

47、所述點屏測試模塊將所述點屏測試數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)傳輸至所述主模塊。

48、可選地，所述點屏測試模塊包括電學(xué)采樣模塊；所述主模塊控制所述點屏測試模塊對處于點屏狀態(tài)的所述顯示模組進行點屏測試，包括：

49、所述主模塊控制所述電學(xué)采樣模塊對處于點屏狀態(tài)的所述顯示模組進行電學(xué)采樣；

50、所述點屏測試模塊將所述點屏測試數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)傳輸至所述主模塊，包括：

51、所述電學(xué)采樣模塊將電學(xué)采樣結(jié)果傳輸至所述主模塊；

52、所述主模塊將所述點屏測試數(shù)據(jù)以及所述型號識別信息傳輸至所述上位機，包括：

53、所述主模塊將所述電學(xué)采樣結(jié)果以及所述型號識別信息傳輸至所述上位機；

54、所述上位機根據(jù)所述點屏測試數(shù)據(jù)以及所述型號識別信息確定所述顯示模組的點屏測試結(jié)果，包括：

55、所述上位機根據(jù)所述電學(xué)采樣結(jié)果以及所述型號識別信息對應(yīng)的電學(xué)測試條件確定所述顯示模組的第一點屏測試結(jié)果。

56、可選地，所述點屏測試模塊還包括光學(xué)測試模塊；所述主模塊控制所述點屏測試模塊對處于點屏狀態(tài)的所述顯示模組進行點屏測試，包括：

57、所述主模塊控制所述光學(xué)測試模塊對處于點屏狀態(tài)的所述顯示模組進行光學(xué)測試；

58、所述點屏測試模塊將所述點屏測試數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)傳輸至所述主模塊，包括：

59、所述光學(xué)測試模塊將光學(xué)測試結(jié)果傳輸至所述主模塊；

60、所述主模塊將所述點屏測試數(shù)據(jù)以及所述型號識別信息傳輸至所述上位機，包括：

61、所述主模塊將所述光學(xué)測試結(jié)果以及所述型號識別信息傳輸至所述上位機；

62、所述上位機根據(jù)所述點屏測試數(shù)據(jù)以及所述型號識別信息確定所述顯示模組的點屏測試結(jié)果，包括：

63、所述上位機根據(jù)所述光學(xué)測試結(jié)果以及所述型號識別信息對應(yīng)的光學(xué)測試條件確定所述顯示模組的第二點屏測試結(jié)果。

64、可選地，所述方法還包括：

65、響應(yīng)于第一信號，所述主模塊控制所述模組連接模塊和所述顯示模組的下電。

66、可選地，所述方法還包括：

67、響應(yīng)于第二信號，所述主模塊控制所述模組連接模塊和所述顯示模組的下電。

68、可選地，所述方法還包括：

69、在所述點屏測試裝置上電的情況下，所述主模塊檢測與所述模組連接模塊以及所述顯示模組的連接。

70、本技術(shù)提供的技術(shù)方案帶來的有益效果至少包括：

71、通過模組連接模塊針對不同型號的顯示模組進行設(shè)計，其內(nèi)置了對應(yīng)顯示模組的型號識別信息，連接主模塊后主模塊通過讀取該內(nèi)置信息即可完成顯示模組型號識別及參數(shù)初始化配置，實現(xiàn)多種顯示模組的自動測試，可以避免人工誤判導(dǎo)致設(shè)置錯誤的點屏初始化參數(shù)。