1.一種點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述點(diǎn)屏測(cè)試裝置包括主模塊以及模組連接模塊,所述主模塊與所述模組連接模塊相連;
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述主模塊包括邏輯控制模塊和顯示驅(qū)動(dòng)模塊,所述顯示驅(qū)動(dòng)模塊內(nèi)置有所述n種顯示模組型號(hào)各自對(duì)應(yīng)的點(diǎn)屏參數(shù),所述邏輯控制模塊與所述模組連接模塊相連,所述顯示驅(qū)動(dòng)模塊與所述模組連接模塊相連,所述顯示驅(qū)動(dòng)模塊與所述邏輯控制模塊相連;
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述目標(biāo)點(diǎn)屏參數(shù)包括供電參數(shù)和顯示信號(hào)參數(shù);
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述顯示模組包括mipi標(biāo)準(zhǔn)接口,所述顯示驅(qū)動(dòng)模塊包括橋接芯片;
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述點(diǎn)屏測(cè)試裝置還包括上位機(jī),所述上位機(jī)與所述主模塊相連;
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述點(diǎn)屏測(cè)試裝置還包括指示燈,所述指示燈與所述主模塊相連;
8.權(quán)利要求6所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述點(diǎn)屏測(cè)試裝置還包括點(diǎn)屏測(cè)試模塊,所述點(diǎn)屏測(cè)試模塊與所述主模塊相連,所述點(diǎn)屏測(cè)試模塊與所述模組連接模塊相連;
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述點(diǎn)屏測(cè)試模塊包括電學(xué)采樣模塊;
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述點(diǎn)屏測(cè)試模塊包括光學(xué)測(cè)試模塊;
11.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述模組連接模塊包括翻蓋結(jié)構(gòu),所述翻蓋結(jié)構(gòu)用于固定所述顯示模組;
12.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,其特征在于,所述模組連接模塊包括行程按鍵,在所述模組連接模塊與所述主模塊已連接的情況下,所述行程按鍵處于第一位置,在所述模組連接模塊與所述主模塊斷開連接的情況下,所述行程按鍵處于第二位置;
13.一種點(diǎn)屏測(cè)試方法,其特征在于,所述方法應(yīng)用于如權(quán)利要求1至12任一所述的點(diǎn)屏測(cè)試裝置,所述方法包括:
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法,其特征在于,所述方法還包括: