負(fù)載測(cè)試電路、方法和顯示裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種負(fù)載測(cè)試電路、方法和顯示裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]液晶顯示裝置(Liquid Crystal Display，簡(jiǎn)稱:IXD)由于低功耗、彩色化、信息量大以及無(wú)電磁輻射等優(yōu)點(diǎn)已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于各種顯示器中。在液晶顯示裝置中，面板上布線(layout)產(chǎn)生的負(fù)載(loading)問(wèn)題一直是影響液晶顯示裝置驅(qū)動(dòng)的一個(gè)重要問(wèn)題。若設(shè)計(jì)的負(fù)載過(guò)大且驅(qū)動(dòng)IC驅(qū)動(dòng)不足時(shí)，液晶顯示裝置顯示會(huì)產(chǎn)生各種異常現(xiàn)象。因此，準(zhǔn)確獲得數(shù)據(jù)線(source)的負(fù)載值，以使驅(qū)動(dòng)IC能夠進(jìn)行良好的驅(qū)動(dòng)。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)于液晶顯示裝置中數(shù)據(jù)線的負(fù)載測(cè)試還處于模擬值測(cè)試階段，即僅能通過(guò)模擬方式得出數(shù)據(jù)線的模擬負(fù)載值，而通常模擬負(fù)載值與實(shí)際負(fù)載值具有較大偏差。
[0004]綜上所述，現(xiàn)有技術(shù)中還沒(méi)有一種能夠測(cè)試出數(shù)據(jù)線實(shí)際的負(fù)載值的方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供一種負(fù)載測(cè)試電路、方法和顯示裝置，用于測(cè)試出待測(cè)數(shù)據(jù)線的實(shí)際負(fù)載值。
[0006]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種負(fù)載測(cè)試電路，包括:信號(hào)生成單元、測(cè)試數(shù)據(jù)線、待測(cè)數(shù)據(jù)線、第一開關(guān)管和第二開關(guān)管，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線的第一端、所述第一開關(guān)管、所述第二開關(guān)管和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的第一端依次連接；
[0007]所述測(cè)試數(shù)據(jù)線的第二端為第一測(cè)試點(diǎn)，所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的第二端為第二測(cè)試點(diǎn)，所述第一測(cè)試點(diǎn)和所述第二測(cè)試點(diǎn)均用于供負(fù)載測(cè)試設(shè)備進(jìn)行負(fù)載測(cè)試；
[0008]所述信號(hào)生成單元用于向所述第一開關(guān)管提供第一電壓以及向所述第二開關(guān)管提供第二電壓。
[0009]可選地，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線的第一端和所述第一開關(guān)管的第一極連接，所述第二開關(guān)管的第一極和所述第一開關(guān)管的第二極連接，所述第二開關(guān)管的第二極和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的第一端連接，所述第一開關(guān)管的控制極和所述第二開關(guān)管的控制極均與所述信號(hào)生成單元連接。
[0010]可選地，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線為增設(shè)的數(shù)據(jù)線，所述待測(cè)數(shù)據(jù)線為原始數(shù)據(jù)線；
[0011]或者，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線為相鄰的兩條原始數(shù)據(jù)線。
[0012]可選地，負(fù)載測(cè)試時(shí)，所述第一電壓和所述第二電壓的極性相同。
[0013]可選地，所述第一開關(guān)管和第二開關(guān)管均為NMOS管，所述第一電壓和所述第二電壓為正電壓；或者，所述第一開關(guān)管和所述第二開關(guān)管均為PMOS管，所述第一電壓和所述第二電壓為負(fù)電壓。
[0014]可選地，畫面顯示時(shí)，所述第一電壓和所述第二電壓的極性相反。
[0015]可選地，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線相同。
[0016]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種顯示裝置，包括:上述負(fù)載測(cè)試電路。
[0017]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種負(fù)載測(cè)試方法，所述方法用于對(duì)上述負(fù)載測(cè)試電路進(jìn)行測(cè)試；
[0018]所述方法包括:
[0019]將負(fù)載測(cè)試設(shè)備與所述第一測(cè)試點(diǎn)和所述第二測(cè)試點(diǎn)連接；
[0020]通過(guò)所述信號(hào)生成單元向所述第一開關(guān)管提供第一電壓以使所述第一開關(guān)管導(dǎo)通以及向所述第二開關(guān)管提供所述第二電壓以使所述第二開關(guān)管導(dǎo)通；
[0021]通過(guò)所述負(fù)載測(cè)試設(shè)備獲取負(fù)載測(cè)試值；
[0022]根據(jù)所述負(fù)載測(cè)試值生成所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值。
[0023]可選地，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線相同；所述根據(jù)所述負(fù)載測(cè)試值生成待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值包括:
[0024]將所述負(fù)載測(cè)試值減去所述第一開關(guān)管的負(fù)載值和所述第二開關(guān)管的負(fù)載值得出計(jì)算結(jié)果；
[0025]將所述計(jì)算結(jié)果除以二生成所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值。
[0026]可選地，所述第一電壓和所述第二電壓的極性相同。
[0027]本發(fā)明具有以下有益效果:
[0028]本發(fā)明提供的負(fù)載測(cè)試電路、方法和顯示裝置的技術(shù)方案中，負(fù)載測(cè)試電路包括信號(hào)生成單元、測(cè)試數(shù)據(jù)線、待測(cè)數(shù)據(jù)線、第一開關(guān)管和第二開關(guān)管，測(cè)試數(shù)據(jù)線的第二端為第一測(cè)試點(diǎn)，待測(cè)數(shù)據(jù)線的第二端為第二測(cè)試點(diǎn)，第一測(cè)試點(diǎn)和第二測(cè)試點(diǎn)均用于供負(fù)載測(cè)試設(shè)備進(jìn)行負(fù)載測(cè)試，信號(hào)生成單元用于向第一開關(guān)管提供第一電壓以及向第二開關(guān)管提供第二電壓，采用本發(fā)明的負(fù)載測(cè)試電路能夠測(cè)試出待測(cè)數(shù)據(jù)線實(shí)際的負(fù)載值。
【附圖說(shuō)明】
[0029]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種負(fù)載測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0030]圖2為本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種負(fù)載測(cè)試方法的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0031]為使本領(lǐng)域的技術(shù)人員更好地理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明提供的負(fù)載測(cè)試電路、方法和顯示裝置進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0032]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的一種負(fù)載測(cè)試電路的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，該負(fù)載測(cè)試電路包括:信號(hào)生成單元11、測(cè)試數(shù)據(jù)線12、待測(cè)數(shù)據(jù)線13、第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2，測(cè)試數(shù)據(jù)線12的第一端A、第一開關(guān)管Ml、第二開關(guān)管M2和待測(cè)數(shù)據(jù)線13的第一端B依次連接。測(cè)試數(shù)據(jù)線12的第二端C為第一測(cè)試點(diǎn)，待測(cè)數(shù)據(jù)線13的第二端D為第二測(cè)試點(diǎn)，第一測(cè)試點(diǎn)和第二測(cè)試點(diǎn)均用于供負(fù)載測(cè)試設(shè)備進(jìn)行負(fù)載測(cè)試。信號(hào)生成單元11用于向第一開關(guān)管Ml提供第一電壓以及向第二開關(guān)管M2提供第二電壓。
[0033]具體地，測(cè)試數(shù)據(jù)線12的第一端A和第一開關(guān)管Ml的第一極連接，第二開關(guān)管M2的第一極和第一開關(guān)管Ml的第二極連接，第二開關(guān)管Ml的第二極和待測(cè)數(shù)據(jù)線13的第一端B連接，第一開關(guān)管Ml的控制極和第二開關(guān)管M2的控制極均與信號(hào)生成單元11連接。本實(shí)施例中，信號(hào)生成單元11可以為驅(qū)動(dòng)1C，負(fù)載測(cè)試設(shè)備可以為電阻測(cè)試儀。
[0034]測(cè)試數(shù)據(jù)線12可以為增設(shè)的數(shù)據(jù)線，待測(cè)數(shù)據(jù)線13為原始數(shù)據(jù)線，當(dāng)采用此種方案時(shí)，需要在待測(cè)數(shù)據(jù)線13的旁邊新增一條數(shù)據(jù)線?；蛘?，測(cè)試數(shù)據(jù)線12和待測(cè)數(shù)據(jù)線13為相鄰的兩條原始數(shù)據(jù)線，當(dāng)采用此種方案時(shí)，可直接采用原始數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試，無(wú)需再新增數(shù)據(jù)線。
[0035]本實(shí)施例中，優(yōu)選地，第一電壓和第二電壓可以采用GOA電路中的正掃描控制信號(hào)CN和反掃描控制信號(hào)CNB。
[0036]在顯示裝置進(jìn)行負(fù)載測(cè)試時(shí)，第一電壓和第二電壓的極性相同。
[0037]第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2均為N型金屬氧化物半導(dǎo)體(Negative channel-Metal-Oxide-Semiconductor，簡(jiǎn)稱:NM0S)管，負(fù)載測(cè)試時(shí)第一電壓和第二電壓為正電壓。信號(hào)生成單元11向第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2提供正電壓以使第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2導(dǎo)通。
[0038]或者，第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2均為P型金屬氧化物半導(dǎo)體(Positive channe1-Metal-Oxide-Semiconductor,簡(jiǎn)稱:PM0S)管，負(fù)載測(cè)試時(shí)第一電壓和第二電壓為負(fù)電壓。信號(hào)生成單元11向第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2提供負(fù)電壓以使第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2導(dǎo)通。
[0039]在顯示裝置進(jìn)行畫面顯示時(shí)，第一電壓和第二電壓的極性相反。這樣，第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2中，一個(gè)導(dǎo)通，另一個(gè)關(guān)閉，使得測(cè)試數(shù)據(jù)線12和待測(cè)數(shù)據(jù)線13中的一個(gè)作為工作數(shù)據(jù)線，從而不影響顯示裝置的畫面顯示。例如:第一開關(guān)管Ml關(guān)閉，第二開關(guān)管M2導(dǎo)通；或者，第一開關(guān)管Ml導(dǎo)通，第二開關(guān)管M2關(guān)閉。具體地，第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2均為NMOS管，畫面顯示時(shí)第一電壓為負(fù)電壓以使第一開關(guān)管Ml關(guān)閉以及第二電壓為正電壓以使第二開關(guān)管M2導(dǎo)通，此時(shí)待測(cè)數(shù)據(jù)線13作為畫面顯示時(shí)的工作數(shù)據(jù)線；或者，第一開關(guān)管Ml和第二開關(guān)管M2均為PMOS管，畫面顯示時(shí)第一電壓為正電壓以使第一開關(guān)管Ml導(dǎo)通以及第二電壓為負(fù)電壓以使第二開關(guān)管M2關(guān)閉，此時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)線12作為畫面顯示時(shí)的工作數(shù)據(jù)線。
[0040]本實(shí)施例中，優(yōu)選地，測(cè)試數(shù)據(jù)線和待測(cè)數(shù)據(jù)線相同。
[0041]采用實(shí)施例一的負(fù)載測(cè)試電路測(cè)試出待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值的過(guò)程可參見(jiàn)下述實(shí)施例三，此處不再贅述。
[0042]本實(shí)施例提供的負(fù)載測(cè)試電路包括信號(hào)生成單元、測(cè)試數(shù)據(jù)線、待測(cè)數(shù)據(jù)線、第一開關(guān)管和第二開關(guān)管，測(cè)試數(shù)據(jù)線的第二端為第一測(cè)試點(diǎn)，待測(cè)數(shù)據(jù)線的第二端為第二測(cè)試點(diǎn)，第一測(cè)試點(diǎn)和第二測(cè)試點(diǎn)均用于供負(fù)載測(cè)試設(shè)備進(jìn)行負(fù)載測(cè)試，信號(hào)生成單元用于向第一開關(guān)管提供第一電壓以及向第二開關(guān)管提供第二電壓，采用本實(shí)施例的負(fù)載測(cè)試電路能夠測(cè)試出待測(cè)數(shù)據(jù)線實(shí)際的負(fù)載值。負(fù)載測(cè)試過(guò)程實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單、成本低，從而具有很強(qiáng)的實(shí)用性。測(cè)試