出的待測(cè)數(shù)據(jù)線的實(shí)際負(fù)載值對(duì)顯示裝置的驅(qū)動(dòng)過(guò)程有良好的參考價(jià)值，從而避免出現(xiàn)顯示裝置無(wú)法驅(qū)動(dòng)的現(xiàn)象。測(cè)試過(guò)程不會(huì)影響顯示裝置的正常畫面顯示。
[0043]本發(fā)明實(shí)施例二提供了一種顯示裝置，該顯示裝置包括:負(fù)載測(cè)試電路。本實(shí)施例中，該負(fù)載測(cè)試電路可采用上述實(shí)施例一提供的負(fù)載測(cè)試電路。所述顯示裝置可以為:液晶面板、電子紙、OLED面板、液晶電視、液晶顯示器、數(shù)碼相框、手機(jī)、平板電腦等任何具有顯示功能的產(chǎn)品或部件。
[0044]本實(shí)施例提供的顯示裝置中，負(fù)載測(cè)試電路包括信號(hào)生成單元、測(cè)試數(shù)據(jù)線、待測(cè)數(shù)據(jù)線、第一開(kāi)關(guān)管和第二開(kāi)關(guān)管，測(cè)試數(shù)據(jù)線的第二端為第一測(cè)試點(diǎn)，待測(cè)數(shù)據(jù)線的第二端為第二測(cè)試點(diǎn)，第一測(cè)試點(diǎn)和第二測(cè)試點(diǎn)均用于供負(fù)載測(cè)試設(shè)備進(jìn)行負(fù)載測(cè)試，信號(hào)生成單元用于向第一開(kāi)關(guān)管提供第一電壓以及向第二開(kāi)關(guān)管提供第二電壓，采用本實(shí)施例的負(fù)載測(cè)試電路能夠測(cè)試出待測(cè)數(shù)據(jù)線實(shí)際的負(fù)載值。負(fù)載測(cè)試過(guò)程實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單、成本低，從而具有很強(qiáng)的實(shí)用性。測(cè)試出的待測(cè)數(shù)據(jù)線的實(shí)際負(fù)載值對(duì)顯示裝置的驅(qū)動(dòng)過(guò)程有良好的參考價(jià)值，從而避免出現(xiàn)顯示裝置無(wú)法驅(qū)動(dòng)的現(xiàn)象。測(cè)試過(guò)程不會(huì)影響顯示裝置的正常畫面顯不O
[0045]圖2為本發(fā)明實(shí)施例三提供的一種負(fù)載測(cè)試方法的流程圖，如圖2所示，該方法用于對(duì)負(fù)載測(cè)試電路進(jìn)行測(cè)試，該負(fù)載測(cè)試電路包括:信號(hào)生成單元、測(cè)試數(shù)據(jù)線、待測(cè)數(shù)據(jù)線、第一開(kāi)關(guān)管和第二開(kāi)關(guān)管，測(cè)試數(shù)據(jù)線的第一端、第一開(kāi)關(guān)管、第二開(kāi)關(guān)管和待測(cè)數(shù)據(jù)線的第一端依次連接；待測(cè)試數(shù)據(jù)線的第二端為第一測(cè)試點(diǎn)，待測(cè)數(shù)據(jù)線的第二端為第二測(cè)試點(diǎn)，第一測(cè)試點(diǎn)和第二測(cè)試點(diǎn)均用于供負(fù)載測(cè)試設(shè)備進(jìn)行負(fù)載測(cè)試；信號(hào)生成單元用于向第一開(kāi)關(guān)管提供第一電壓以及向第二開(kāi)關(guān)管提供第二電壓。具體描述可參見(jiàn)上述實(shí)施例一和附圖1中的描述。
[0046]所述方法包括:
[0047]步驟101、將負(fù)載測(cè)試設(shè)備與第一測(cè)試點(diǎn)和第二測(cè)試點(diǎn)連接。
[0048]本實(shí)施例中，負(fù)載測(cè)試設(shè)備可以為電阻測(cè)試儀。具體地，可將電阻測(cè)試儀的兩個(gè)測(cè)試端分別與第一測(cè)試點(diǎn)和第二測(cè)試點(diǎn)連接
[0049]步驟102、通過(guò)信號(hào)生成單元向第一開(kāi)關(guān)管提供第一電壓以使第一開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通以及向第二開(kāi)關(guān)管提供第二電壓以使第二開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通。
[0050]如圖1所示，當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)管Ml和第二開(kāi)關(guān)管M2均導(dǎo)通時(shí)，第一開(kāi)關(guān)管M1、第二開(kāi)關(guān)管M2、測(cè)試數(shù)據(jù)線12、待測(cè)數(shù)據(jù)線13和負(fù)載測(cè)試設(shè)備形成電路回路。優(yōu)選地，第一電壓和第二電壓的極性相同。
[0051]具體地，當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)管Ml和第二開(kāi)關(guān)管M2均為NMOS管時(shí)，第一電壓和第二電壓為正電壓，以使第一開(kāi)關(guān)管Ml和第二開(kāi)關(guān)管M2導(dǎo)通；或者，當(dāng)?shù)谝婚_(kāi)關(guān)管Ml和第二開(kāi)關(guān)管M2均為PMOS管時(shí)，第一電壓和第二電壓為負(fù)電壓，以使第一開(kāi)關(guān)管Ml和第二開(kāi)關(guān)管M2導(dǎo)通。
[0052]步驟103、通過(guò)負(fù)載測(cè)試設(shè)備獲取負(fù)載測(cè)試值。
[0053]本實(shí)施例中，可從負(fù)載測(cè)試設(shè)備上直接讀取出負(fù)載測(cè)試值，該負(fù)載測(cè)試值為整個(gè)負(fù)載測(cè)試電路的負(fù)載值，即:該負(fù)載測(cè)試值為第一開(kāi)關(guān)管Ml的負(fù)載值、第二開(kāi)關(guān)管M2的負(fù)載值、測(cè)試數(shù)據(jù)線12的負(fù)載值和待測(cè)數(shù)據(jù)線13的負(fù)載值之和。
[0054]步驟104、根據(jù)負(fù)載測(cè)試值生成待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值。
[0055]本實(shí)施例中，測(cè)試數(shù)據(jù)線12和待測(cè)數(shù)據(jù)線13相同，因此，測(cè)試數(shù)據(jù)線12的負(fù)載值和待測(cè)數(shù)據(jù)線13的負(fù)載值相同。則步驟104具體可包括:
[0056]步驟1041、將負(fù)載測(cè)試值減去第一開(kāi)關(guān)管的負(fù)載值和第二開(kāi)關(guān)管的負(fù)載值得出計(jì)算結(jié)果。
[0057]該計(jì)算結(jié)果為測(cè)試數(shù)據(jù)線12的負(fù)載值和待測(cè)數(shù)據(jù)線13的負(fù)載值之和。
[0058]步驟1042、將計(jì)算結(jié)果除以二生成待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值。
[0059]由于測(cè)試數(shù)據(jù)線12的負(fù)載值和待測(cè)數(shù)據(jù)線13的負(fù)載值相同，因此，將計(jì)算結(jié)果除以二即可得出待測(cè)數(shù)據(jù)線13的負(fù)載值。計(jì)算出的待測(cè)數(shù)據(jù)線13的負(fù)載值為待測(cè)數(shù)據(jù)線13的實(shí)際的負(fù)載值。
[0060]本實(shí)施例提供的負(fù)載測(cè)試方法中，將負(fù)載測(cè)試設(shè)備與第一測(cè)試點(diǎn)和第二測(cè)試點(diǎn)連接，通過(guò)信號(hào)生成單元向第一開(kāi)關(guān)管提供第一電壓以使第一開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通以及向第二開(kāi)關(guān)管提供第二電壓以使第二開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通，通過(guò)負(fù)載測(cè)試設(shè)備獲取負(fù)載測(cè)試值，根據(jù)負(fù)載測(cè)試值生成待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值，采用本實(shí)施例的負(fù)載測(cè)試方法能夠測(cè)試出待測(cè)數(shù)據(jù)線實(shí)際的負(fù)載值。負(fù)載測(cè)試過(guò)程實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單、成本低，從而具有很強(qiáng)的實(shí)用性。測(cè)試出的待測(cè)數(shù)據(jù)線的實(shí)際負(fù)載值對(duì)顯示裝置的驅(qū)動(dòng)過(guò)程有良好的參考價(jià)值，從而避免出現(xiàn)顯示裝置無(wú)法驅(qū)動(dòng)的現(xiàn)象。測(cè)試過(guò)程不會(huì)影響顯示裝置的正常畫面顯示。
[0061]可以理解的是，以上實(shí)施方式僅僅是為了說(shuō)明本發(fā)明的原理而采用的示例性實(shí)施方式，然而本發(fā)明并不局限于此。對(duì)于本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言，在不脫離本發(fā)明的精神和實(shí)質(zhì)的情況下，可以做出各種變型和改進(jìn)，這些變型和改進(jìn)也視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種負(fù)載測(cè)試電路，其特征在于，包括:信號(hào)生成單元、測(cè)試數(shù)據(jù)線、待測(cè)數(shù)據(jù)線、第一開(kāi)關(guān)管和第二開(kāi)關(guān)管，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線的第一端、所述第一開(kāi)關(guān)管、所述第二開(kāi)關(guān)管和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的第一端依次連接； 所述測(cè)試數(shù)據(jù)線的第二端為第一測(cè)試點(diǎn)，所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的第二端為第二測(cè)試點(diǎn)，所述第一測(cè)試點(diǎn)和所述第二測(cè)試點(diǎn)均用于供負(fù)載測(cè)試設(shè)備進(jìn)行負(fù)載測(cè)試； 所述信號(hào)生成單元用于向所述第一開(kāi)關(guān)管提供第一電壓以及向所述第二開(kāi)關(guān)管提供第二電壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的負(fù)載測(cè)試電路，其特征在于，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線的第一端和所述第一開(kāi)關(guān)管的第一極連接，所述第二開(kāi)關(guān)管的第一極和所述第一開(kāi)關(guān)管的第二極連接，所述第二開(kāi)關(guān)管的第二極和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的第一端連接，所述第一開(kāi)關(guān)管的控制極和所述第二開(kāi)關(guān)管的控制極均與所述信號(hào)生成單元連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的負(fù)載測(cè)試電路，其特征在于，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線為增設(shè)的數(shù)據(jù)線，所述待測(cè)數(shù)據(jù)線為原始數(shù)據(jù)線； 或者，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線為相鄰的兩條原始數(shù)據(jù)線。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的負(fù)載測(cè)試電路，其特征在于，負(fù)載測(cè)試時(shí)，所述第一電壓和所述第二電壓的極性相同。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的負(fù)載測(cè)試電路，其特征在于，所述第一開(kāi)關(guān)管和第二開(kāi)關(guān)管均為NMOS管，所述第一電壓和所述第二電壓為正電壓；或者，所述第一開(kāi)關(guān)管和所述第二開(kāi)關(guān)管均為PMOS管，所述第一電壓和所述第二電壓為負(fù)電壓。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的負(fù)載測(cè)試電路，其特征在于，畫面顯示時(shí)，所述第一電壓和所述第二電壓的極性相反。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的負(fù)載測(cè)試電路，其特征在于，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線相同。
8.—種顯示裝置，其特征在于，包括:權(quán)利要求1至7任一所述的負(fù)載測(cè)試電路。
9.一種負(fù)載測(cè)試方法，其特征在于，所述方法用于對(duì)權(quán)利要求1所述的負(fù)載測(cè)試電路進(jìn)行測(cè)試； 所述方法包括: 將負(fù)載測(cè)試設(shè)備與所述第一測(cè)試點(diǎn)和所述第二測(cè)試點(diǎn)連接； 通過(guò)所述信號(hào)生成單元向所述第一開(kāi)關(guān)管提供第一電壓以使所述第一開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通以及向所述第二開(kāi)關(guān)管提供所述第二電壓以使所述第二開(kāi)關(guān)管導(dǎo)通； 通過(guò)所述負(fù)載測(cè)試設(shè)備獲取負(fù)載測(cè)試值； 根據(jù)所述負(fù)載測(cè)試值生成所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的負(fù)載測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線相同；所述根據(jù)所述負(fù)載測(cè)試值生成待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值包括: 將所述負(fù)載測(cè)試值減去所述第一開(kāi)關(guān)管的負(fù)載值和所述第二開(kāi)關(guān)管的負(fù)載值得出計(jì)算結(jié)果； 將所述計(jì)算結(jié)果除以二生成所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的負(fù)載值。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的負(fù)載測(cè)試方法，其特征在于，所述第一電壓和所述第二電壓的極性相同。
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種負(fù)載測(cè)試電路、方法和顯示裝置。該負(fù)載測(cè)試電路包括：信號(hào)生成單元、測(cè)試數(shù)據(jù)線、待測(cè)數(shù)據(jù)線、第一開(kāi)關(guān)管和第二開(kāi)關(guān)管，所述測(cè)試數(shù)據(jù)線的第一端、所述第一開(kāi)關(guān)管、所述第二開(kāi)關(guān)管和所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的第一端依次連接；所述測(cè)試數(shù)據(jù)線的第二端為第一測(cè)試點(diǎn)，所述待測(cè)數(shù)據(jù)線的第二端為第二測(cè)試點(diǎn)，所述第一測(cè)試點(diǎn)和所述第二測(cè)試點(diǎn)均用于供負(fù)載測(cè)試設(shè)備進(jìn)行負(fù)載測(cè)試；所述信號(hào)生成單元用于向所述第一開(kāi)關(guān)管提供第一電壓以及向所述第二開(kāi)關(guān)管提供第二電壓。采用本發(fā)明的負(fù)載測(cè)試電路能夠測(cè)試出待測(cè)數(shù)據(jù)線實(shí)際的負(fù)載值。
【IPC分類】G09G3-00, G09G3-36
【公開(kāi)號(hào)】CN104637426
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510096736
【發(fā)明人】唐秀珠
【申請(qǐng)人】京東方科技集團(tuán)股份有限公司, 成都京東方光電科技有限公司
【公開(kāi)日】2015年5月20日
【申請(qǐng)日】2015年3月4日