技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種內(nèi)嵌式觸控測(cè)試電路，其包括：n個(gè)控制信號(hào)源；電容耦合模塊；開(kāi)關(guān)模塊，其包括m個(gè)輸入端、n個(gè)控制端和一個(gè)輸出端；其中，輸入端與相應(yīng)的觸控電極連接，控制端與相應(yīng)的控制信號(hào)源連接，輸出端與觸控信號(hào)采集端子連接,電容耦合模塊與觸控電極耦合連接，n、m為正整數(shù)，m小于等于2^n。本發(fā)明的內(nèi)嵌式觸控測(cè)試電路通過(guò)電容耦合模塊觸發(fā)觸控電極生成觸控信號(hào)，并通過(guò)開(kāi)關(guān)模塊逐個(gè)采集每個(gè)觸控電極生成的觸控信號(hào)，將采集到的觸控信號(hào)進(jìn)行對(duì)比，從而完成觸摸屏的觸屏功能測(cè)試，進(jìn)而不會(huì)造成芯片和排線等物料的浪費(fèi)，并且提高了生產(chǎn)效率。

技術(shù)研發(fā)人員：黃耀立;賀興龍
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢華星光電技術(shù)有限公司
文檔號(hào)碼：201610656668
技術(shù)研發(fā)日：2016.08.11
技術(shù)公布日：2017.02.22