本發(fā)明涉及面板檢測領(lǐng)域，具體涉及一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償方法及裝置。

背景技術(shù)：

近年來，顯示技術(shù)快速發(fā)展，對顯示面板的要求也越來越高。然而，現(xiàn)有的顯示面板的制造技術(shù)，無法完全避免顯示缺陷的發(fā)生，因此在面板的生成過程中，對面板缺陷的檢測至關(guān)重要。對于存在缺陷的面板，為了避免浪費(fèi)、節(jié)約資源，不是將存在缺陷的面板全部淘汰，而是采用修補(bǔ)設(shè)備對存在缺陷的面板產(chǎn)品進(jìn)行修補(bǔ)，從而有效挽救產(chǎn)品的良率。

修補(bǔ)設(shè)備的修補(bǔ)成功率及修補(bǔ)效率是面板生產(chǎn)過程中的關(guān)鍵因素，在實(shí)際使用修補(bǔ)設(shè)備的過程中，上游設(shè)備傳過來的缺陷坐標(biāo)信息與修補(bǔ)設(shè)備坐標(biāo)系存在一定偏差，作業(yè)人員需要人工檢查后才能找到需要實(shí)施修補(bǔ)的缺陷位置，然后再進(jìn)行修補(bǔ)，這種方式不僅需要花費(fèi)較多的時(shí)間，人工檢查也容易導(dǎo)致定位不準(zhǔn)確的缺陷，因此使得修補(bǔ)設(shè)備的產(chǎn)能低下。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

因此，本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于現(xiàn)有技術(shù)的面板修補(bǔ)過程中上游設(shè)備和修補(bǔ)設(shè)備的坐標(biāo)存在誤差。

為此，本發(fā)明提供一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償方法，包括如下步驟：獲取總間距測量設(shè)備、自動光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別識別到的第一缺陷坐標(biāo)、第二缺陷坐標(biāo)、第三缺陷坐標(biāo)；將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第一對比結(jié)果，判斷第一對比結(jié)果是否滿足第一條件；將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第二對比結(jié)果，判斷第二對比結(jié)果是否滿足第二條件；當(dāng)?shù)谝粚Ρ冉Y(jié)果滿足第一條件且第二對比結(jié)果滿足第二條件時(shí)，計(jì)算所述第二缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的坐標(biāo)偏差值；根據(jù)所述坐標(biāo)偏差值進(jìn)行面板缺陷位置的補(bǔ)償。

優(yōu)選地，當(dāng)所述第一對比結(jié)果不滿足第一條件時(shí)，則對自動光學(xué)檢測設(shè)備進(jìn)行故障排查。

優(yōu)選地，當(dāng)所述第二對比結(jié)果不滿足第二條件時(shí)，則對修補(bǔ)設(shè)備進(jìn)行故障排查。

優(yōu)選地，根據(jù)所述坐標(biāo)偏差值進(jìn)行面板缺陷位置的補(bǔ)償?shù)牟襟E，包括：將所述坐標(biāo)偏差值寫入到所述自動光學(xué)檢測設(shè)備的DFS文件中。

優(yōu)選地，所述總間距測量設(shè)備為TP設(shè)備。

此外，本發(fā)明還提供一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償裝置，包括：坐標(biāo)獲取單元，用于獲取總間距測量設(shè)備、自動光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別識別到的第一缺陷坐標(biāo)、第二缺陷坐標(biāo)、第三缺陷坐標(biāo)；第一比較單元，用于將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第一對比結(jié)果，判斷第一對比結(jié)果是否滿足第一條件；第二比較單元，用于將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第二對比結(jié)果，判斷第二對比結(jié)果是否滿足第二條件；缺陷坐標(biāo)計(jì)算單元，用于當(dāng)?shù)谝粚Ρ冉Y(jié)果滿足第一條件且第二對比結(jié)果滿足第二條件時(shí)，計(jì)算所述第二缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的坐標(biāo)偏差值；補(bǔ)償單元，用于根據(jù)所述坐標(biāo)偏差值進(jìn)行面板缺陷位置的補(bǔ)償。

優(yōu)選地，還包括第一故障排查單元，用于當(dāng)所述第一對比結(jié)果不滿足第一條件時(shí)，則對自動光學(xué)檢測設(shè)備進(jìn)行故障排查。

優(yōu)選地，還包括第二故障排查單元，用于當(dāng)所述第二對比結(jié)果不滿足第二條件時(shí)，則對修補(bǔ)設(shè)備進(jìn)行故障排查。

優(yōu)選地，所述補(bǔ)償單元包括補(bǔ)償子單元，用于將所述坐標(biāo)偏差值寫入到所述自動光學(xué)檢測設(shè)備的DFS文件中。

此外，本發(fā)明還提供一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償系統(tǒng)，包括總間距測量設(shè)備，用于識別第一缺陷坐標(biāo)；自動光學(xué)檢測設(shè)備，用于識別第二缺陷坐標(biāo)；修補(bǔ)設(shè)備，用于識別第三缺陷坐標(biāo)；所述的偏移補(bǔ)償裝置，與所述獲取總間距測量設(shè)備、自動光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別連接，用于對面板缺陷位置進(jìn)行補(bǔ)償。

本發(fā)明技術(shù)方案，具有如下優(yōu)點(diǎn)：

本發(fā)明提供的面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償方法，首先獲取總間距測量設(shè)備、自動光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別識別到的第一缺陷坐標(biāo)、第二缺陷坐標(biāo)、第三缺陷坐標(biāo)，然后將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比，將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比，均滿足條件時(shí)，即第一對比結(jié)果小于預(yù)設(shè)的第一閾值，第二對比結(jié)果小于預(yù)設(shè)的第二閾值時(shí)，計(jì)算所述第二缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的坐標(biāo)偏差值，根據(jù)該坐標(biāo)偏差值進(jìn)行補(bǔ)償，其中第一閾值和第二閾值根據(jù)AOI設(shè)備和修補(bǔ)設(shè)備的允許誤差合理設(shè)置，該方案可以及時(shí)修正上游設(shè)備及修補(bǔ)設(shè)備坐標(biāo)偏差，避免了人工查找?guī)淼娜毕?，提高了面板缺陷位置定位的?zhǔn)確性，提高了補(bǔ)償?shù)募皶r(shí)性，從而提高了面板修補(bǔ)的產(chǎn)能。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明具體實(shí)施方式或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對具體實(shí)施方式或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實(shí)施方式，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例1中面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償方法的一個(gè)具體示例的流程圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例2中面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償裝置的一個(gè)具體示例的結(jié)構(gòu)框圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例3中面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償系統(tǒng)的一個(gè)具體示例的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。此外，術(shù)語“第一”、“第二”、“第三”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。

在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，還可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通，可以是無線連接，也可以是有線連接。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。

此外，下面所描述的本發(fā)明不同實(shí)施方式中所涉及的技術(shù)特征只要彼此之間未構(gòu)成沖突就可以相互結(jié)合。

實(shí)施例1

本實(shí)施例中提供一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償方法，用于修正面板缺陷位置的坐標(biāo)，該方法可以設(shè)置在CIM系統(tǒng)中，CIM全稱為Computer Integrated Manufacturing,即計(jì)算機(jī)集成制造系統(tǒng)，是指在所有與生產(chǎn)有關(guān)企業(yè)部門中集成地用電子數(shù)據(jù)處理的系統(tǒng)，該面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償方法包括如下步驟：

S1、獲取總間距測量設(shè)備、自動光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別識別到的第一缺陷坐標(biāo)、第二缺陷坐標(biāo)、第三缺陷坐標(biāo)。

總間距測量設(shè)備，簡稱TP設(shè)備是用于測量陣列圖形形變量的設(shè)備，其中TP是Total Pitch的縮寫，Total Pitch是指在面板制造工序中產(chǎn)生的、玻璃基板上兩點(diǎn)之間距離的變化。TP設(shè)備可以測量上述Total Pitch，TP設(shè)備的測量精度比較高，使用TP設(shè)備獲得的缺陷位置的坐標(biāo)作為第一缺陷坐標(biāo)。自動光學(xué)檢測設(shè)備(AOI設(shè)備)是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進(jìn)行檢測的設(shè)備，也可以得到一個(gè)缺陷坐標(biāo)，作為第二缺陷坐標(biāo)。修補(bǔ)設(shè)備(Repair設(shè)備)是用于進(jìn)行修補(bǔ)校正的設(shè)備，也對應(yīng)一個(gè)缺陷坐標(biāo)，作為第三缺陷坐標(biāo)。

S2、將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第一對比結(jié)果，判斷第一對比結(jié)果是否滿足第一條件，第一條件為第一對比結(jié)果是否小于預(yù)設(shè)的第一閾值Spec1，如果不小于執(zhí)行S6，如果滿足該條件(即第一對比結(jié)果小于預(yù)設(shè)的第一閾值)且滿足S3的條件時(shí)執(zhí)行S4。此處的第一閾值Spec1是預(yù)先設(shè)定的一個(gè)數(shù)值，第一缺陷坐標(biāo)是準(zhǔn)確度比較高的一個(gè)值，如果第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)的差別比較大，說明自動光學(xué)檢測設(shè)備存在問題，導(dǎo)致第二缺陷坐標(biāo)的誤差較大，此時(shí)無法進(jìn)行缺陷位置補(bǔ)償，第一閾值根據(jù)第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)的合理誤差范圍來確定，第一閾值根據(jù)TP設(shè)備的允許誤差范圍和AOI設(shè)備的允許誤差范圍確定，第一閾值可以選擇為TP設(shè)備的最大允許誤差和AOI設(shè)備的最大允許誤差之和，第一對比結(jié)果小于該第一閾值可以認(rèn)為是合理的誤差，超出該第一閾值時(shí)，由于TP設(shè)備準(zhǔn)確度高，則說明AOI設(shè)備出現(xiàn)了故障。

S3、將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第二對比結(jié)果，判斷第二對比結(jié)果是否滿足第二條件，第二條件為第二對比結(jié)果是否小于預(yù)設(shè)的第二閾值Spec2，如果不小于預(yù)設(shè)的第二閾值Spec2則執(zhí)行S7，如果小于預(yù)設(shè)的第二閾值Spec2且滿足S2條件時(shí)執(zhí)行S4。此處的第二閾值Spec2也是預(yù)先設(shè)定的一個(gè)數(shù)值，根據(jù)第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的合理誤差范圍來確定。第一缺陷坐標(biāo)是準(zhǔn)確度比較高的一個(gè)值，如果第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的差別比較大，說明修補(bǔ)設(shè)備存在問題，導(dǎo)致第三缺陷坐標(biāo)的誤差較大，此時(shí)無法進(jìn)行缺陷位置補(bǔ)償。第二閾值根據(jù)TP設(shè)備的允許誤差范圍和修補(bǔ)設(shè)備的允許誤差范圍確定，第二閾值可以選擇為TP設(shè)備的最大允許誤差和修補(bǔ)設(shè)備的最大允許誤差之和，第二對比結(jié)果小于該第二閾值可以認(rèn)為是合理的誤差，超出該第二閾值時(shí)，由于TP設(shè)備準(zhǔn)確度高，則說明修補(bǔ)設(shè)備出現(xiàn)了故障。

S4、當(dāng)?shù)谝粚Ρ冉Y(jié)果滿足第一條件且第二對比結(jié)果滿足第二條件時(shí)，也就是說第一對比結(jié)果小于預(yù)設(shè)的第一閾值Spec1且第二對比結(jié)果小于預(yù)設(shè)的第二閾值Spec2時(shí)，此時(shí)計(jì)算所述第二缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的坐標(biāo)偏差值。

S5、根據(jù)所述坐標(biāo)偏差值進(jìn)行面板缺陷位置的補(bǔ)償，該步驟中將坐標(biāo)偏差值寫入到AOI設(shè)備的DFS文件中，repair設(shè)備讀取該文件，找到正確的坐標(biāo)位置，實(shí)現(xiàn)缺陷位置的補(bǔ)償校正。

S6、當(dāng)所述第一對比結(jié)果不滿足第一條件，也就是說第一對比結(jié)果大于或等于預(yù)設(shè)的第一閾值時(shí)，則對自動光學(xué)檢測設(shè)備進(jìn)行故障排查。由于此時(shí)第一對比結(jié)果較大，第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)的差別已經(jīng)超出了合理的范圍，說明自動光學(xué)檢測設(shè)備存在問題，因此需要對自動光學(xué)檢測設(shè)備進(jìn)行排查，從而降低面板缺陷。

S7、當(dāng)所述第二對比結(jié)果不滿足第二條件時(shí)，也就是說第二對比結(jié)果大于或等于預(yù)設(shè)的第二閾值時(shí)，則對修補(bǔ)設(shè)備進(jìn)行故障排查。當(dāng)?shù)诙Ρ冉Y(jié)果的值超出第二閾值時(shí)，說明第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的差別已經(jīng)超出了合理的范圍，說明修補(bǔ)設(shè)備出現(xiàn)了問題，此時(shí)需要對修補(bǔ)設(shè)備進(jìn)行排查，排除故障，降低面板缺陷。

本方案中的面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償方法，以TP設(shè)備識別的缺陷坐標(biāo)位置為標(biāo)準(zhǔn)，對AOI設(shè)備和Repair設(shè)備識別的缺陷坐標(biāo)位置進(jìn)行監(jiān)控，并在AOI設(shè)備和Repair設(shè)備均無異常的情況下，通過CIM系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)AOI設(shè)備與Repair設(shè)備間缺陷坐標(biāo)偏差的補(bǔ)正，使缺陷位于修補(bǔ)換面的中央，節(jié)約時(shí)間，提升產(chǎn)生。

實(shí)施例2：

本實(shí)施例中提供一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償裝置，結(jié)構(gòu)框圖如圖2所示，包括：

坐標(biāo)獲取單元021，用于獲取總間距測量設(shè)備、自動光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別識別到的第一缺陷坐標(biāo)、第二缺陷坐標(biāo)、第三缺陷坐標(biāo)；

第一比較單元022，用于將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第一對比結(jié)果，判斷第一對比結(jié)果是否滿足第一條件；

第二比較單元023，用于將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第二對比結(jié)果，判斷第二對比結(jié)果是否滿足第二條件；

缺陷坐標(biāo)計(jì)算單元024，用于當(dāng)?shù)谝粚Ρ冉Y(jié)果滿足第一條件且第二對比結(jié)果滿足第二條件時(shí)，計(jì)算所述第二缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的坐標(biāo)偏差值；

補(bǔ)償單元025，用于根據(jù)所述坐標(biāo)偏差值進(jìn)行面板缺陷位置的補(bǔ)償。

此外，還包括第一故障排查單元026，用于當(dāng)所述第一對比結(jié)果不滿足第一條件時(shí)，則對自動光學(xué)檢測設(shè)備進(jìn)行故障排查。

進(jìn)一步，還包括第二故障排查單元027，用于當(dāng)所述第二對比結(jié)果不滿足第二條件時(shí)，則對修補(bǔ)設(shè)備進(jìn)行故障排查。

其中，所述補(bǔ)償單元包括補(bǔ)償子單元，用于將所述坐標(biāo)偏差值寫入到所述自動光學(xué)檢測設(shè)備的DFS文件中，使得缺陷位置位于修補(bǔ)畫面的中央。

實(shí)施例3：

一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)圖如圖3所示，包括

總間距測量設(shè)備031，用于識別第一缺陷坐標(biāo)；

自動光學(xué)檢測設(shè)備032，用于識別第二缺陷坐標(biāo)；

修補(bǔ)設(shè)備033，用于識別第三缺陷坐標(biāo)；

偏移補(bǔ)償裝置034，與所述獲取總間距測量設(shè)備031、自動光學(xué)檢測設(shè)備032、修補(bǔ)設(shè)備033分別連接，用于對面板缺陷位置進(jìn)行補(bǔ)償。該偏移補(bǔ)償裝置034與實(shí)施例2中的偏移補(bǔ)償裝置相同，在此不再贅述。

本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明的實(shí)施例可提供為方法、系統(tǒng)、或計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。因此，本發(fā)明可采用完全硬件實(shí)施例、完全軟件實(shí)施例、或結(jié)合軟件和硬件方面的實(shí)施例的形式。而且，本發(fā)明可采用在一個(gè)或多個(gè)其中包含有計(jì)算機(jī)可用程序代碼的計(jì)算機(jī)可用存儲介質(zhì)(包括但不限于磁盤存儲器、CD-ROM、光學(xué)存儲器等)上實(shí)施的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的形式。

本發(fā)明是參照根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的方法、設(shè)備(系統(tǒng))、和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的流程圖和/或方框圖來描述的。應(yīng)理解可由計(jì)算機(jī)程序指令實(shí)現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結(jié)合。可提供這些計(jì)算機(jī)程序指令到通用計(jì)算機(jī)、專用計(jì)算機(jī)、嵌入式處理機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器以產(chǎn)生一個(gè)機(jī)器，使得通過計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的裝置。

這些計(jì)算機(jī)程序指令也可存儲在能引導(dǎo)計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備以特定方式工作的計(jì)算機(jī)可讀存儲器中，使得存儲在該計(jì)算機(jī)可讀存儲器中的指令產(chǎn)生包括指令裝置的制造品，該指令裝置實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能。

這些計(jì)算機(jī)程序指令也可裝載到計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備上，使得在計(jì)算機(jī)或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的處理，從而在計(jì)算機(jī)或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的步驟。

顯然，上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說明所作的舉例，而并非對實(shí)施方式的限定。對于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動。這里無需也無法對所有的實(shí)施方式予以窮舉。而由此所引伸出的顯而易見的變化或變動仍處于本發(fā)明創(chuàng)造的保護(hù)范圍之中。