1.一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償方法，其特征在于，包括如下步驟：
獲取總間距測量設(shè)備、自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別識別到的第一缺陷坐標(biāo)、第二缺陷坐標(biāo)、第三缺陷坐標(biāo)；
將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第一對比結(jié)果，判斷第一對比結(jié)果是否滿足第一條件；
將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第二對比結(jié)果，判斷第二對比結(jié)果是否滿足第二條件；
當(dāng)?shù)谝粚Ρ冉Y(jié)果滿足第一條件且第二對比結(jié)果滿足第二條件時(shí)，計(jì)算所述第二缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的坐標(biāo)偏差值；
根據(jù)所述坐標(biāo)偏差值進(jìn)行面板缺陷位置的補(bǔ)償。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的偏移補(bǔ)償方法，其特征在于，還包括，當(dāng)所述第一對比結(jié)果不滿足第一條件時(shí)，則對自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備進(jìn)行故障排查。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偏移補(bǔ)償方法，其特征在于，還包括，當(dāng)所述第二對比結(jié)果不滿足第二條件時(shí)，則對修補(bǔ)設(shè)備進(jìn)行故障排查。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的偏移補(bǔ)償方法，其特征在于，根據(jù)所述坐標(biāo)偏差值進(jìn)行面板缺陷位置的補(bǔ)償?shù)牟襟E，包括：
將所述坐標(biāo)偏差值寫入到所述自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備的DFS文件中。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3或4所述的偏移補(bǔ)償方法，其特征在于，所述總間距測量設(shè)備為TP設(shè)備。
6.一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償裝置，其特征在于，包括：
坐標(biāo)獲取單元，用于獲取總間距測量設(shè)備、自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別識別到的第一缺陷坐標(biāo)、第二缺陷坐標(biāo)、第三缺陷坐標(biāo)；
第一比較單元，用于將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第二缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第一對比結(jié)果，判斷第一對比結(jié)果是否滿足第一條件；
第二比較單元，用于將所述第一缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)進(jìn)行對比得到第二對比結(jié)果，判斷第二對比結(jié)果是否滿足第二條件；
缺陷坐標(biāo)計(jì)算單元，用于當(dāng)?shù)谝粚Ρ冉Y(jié)果滿足第一條件且第二對比結(jié)果滿足第二條件時(shí)，計(jì)算所述第二缺陷坐標(biāo)與所述第三缺陷坐標(biāo)的坐標(biāo)偏差值；
補(bǔ)償單元，用于根據(jù)所述坐標(biāo)偏差值進(jìn)行面板缺陷位置的補(bǔ)償。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的偏移補(bǔ)償裝置，其特征在于，還包括第一故障排查單元，用于當(dāng)所述第一對比結(jié)果不滿足第一條件時(shí)，則對自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備進(jìn)行故障排查。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的偏移補(bǔ)償裝置，其特征在于，還包括第二故障排查單元，用于當(dāng)所述第二對比結(jié)果不滿足第二條件時(shí)，則對修補(bǔ)設(shè)備進(jìn)行故障排查。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的偏移補(bǔ)償裝置，其特征在于，所述補(bǔ)償單元包括補(bǔ)償子單元，用于將所述坐標(biāo)偏差值寫入到所述自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備的DFS文件中。
10.一種面板缺陷位置的偏移補(bǔ)償系統(tǒng)，其特征在于，包括
總間距測量設(shè)備，用于識別第一缺陷坐標(biāo)；
自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備，用于識別第二缺陷坐標(biāo)；
修補(bǔ)設(shè)備，用于識別第三缺陷坐標(biāo)；
權(quán)利要求6-9任一項(xiàng)所述的偏移補(bǔ)償裝置，與所述獲取總間距測量設(shè)備、自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備、修補(bǔ)設(shè)備分別連接，用于對面板缺陷位置進(jìn)行補(bǔ)償。