Tft-lcd彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法及其系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ] 本發(fā)明涉及TFT-1XD彩膜玻璃基板加工工藝的技術(shù)領(lǐng)域，具體是涉及一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法及其系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前在TFT-LCD的彩膜工廠中，會安排做完P(guān)S(Post Spacer，TFT-LCD panel內(nèi)部支撐液晶盒后的隔墊物，彩膜的最后一道Photo工序)之后有黑缺陷的基板(PR膠殘留或者存在異物)到Impair Line進行修復(fù)，而在PS工藝后的檢測和修復(fù)工序則需要人工手動操作修復(fù)設(shè)備研磨修復(fù)黑缺陷，以及根據(jù)制定的不良判定標(biāo)準(zhǔn)人工對各類微觀缺陷進行0K&NG的判定。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中對彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)過程如下:
[0004]1、首先AOI (Automatic Optic Inspect1n的全稱是自動光學(xué)檢測)將檢查到的缺陷信息(包括各缺陷的在玻璃基板的缺陷位置以及缺陷的大小)傳輸?shù)絉epair設(shè)備的軟件系統(tǒng)；
[0005]2、每張玻璃基板進入Repair后，Repair將讀取該基板對應(yīng)的信息，反饋到對應(yīng)的操作電腦界面；
[0006]3、根據(jù)反饋的信息，操作人員每人管理1?2臺Impair設(shè)備，手動對黑缺陷逐一進行研磨，同時對研磨過后的黑缺陷以及白缺陷根據(jù)制定的缺陷判定標(biāo)準(zhǔn)進行人工判定。
[0007]現(xiàn)有技術(shù)存在的問題:
[0008]1、人工手動操作Impair設(shè)備研磨修復(fù)黑缺陷，以及缺陷的判定需要消耗大量的人力；
[0009]2、人為的操作研磨修復(fù)及判定過程存在風(fēng)險性、滯后性以及準(zhǔn)確性的問題；
[0010]3、過多的人員進入生產(chǎn)線，增加帶入的灰塵等，不利于生產(chǎn)產(chǎn)品品質(zhì)的保障。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0011 ] 本發(fā)明實施例提供一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法及其系統(tǒng)，以解決現(xiàn)有技術(shù)中人工檢測和修復(fù)存在的人力成本大以及效率及準(zhǔn)確性低的技術(shù)問題。
[0012]為解決上述問題，本發(fā)明實施例提供了一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法，所述方法包括:
[0013]在修復(fù)設(shè)備中輸入產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序;
[0014]對彩膜玻璃基板進行檢測，并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與所述修復(fù)設(shè)備中的產(chǎn)品的無缺陷信息進行對比，以得出缺陷的位置及面積信息；
[0015]根據(jù)所述缺陷的位置及面積信息并結(jié)合所述修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作。
[0016]根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例，所述產(chǎn)品的無缺陷信息包括彩膜玻璃基板的無缺陷隔墊物點位完整坐標(biāo)體系及掃描圖片。
[0017]根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例，所述對彩膜玻璃基板進行檢測的步驟中的檢測設(shè)備為自動光學(xué)檢測儀，所述修復(fù)設(shè)備為自動研磨機。
[0018]根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例，所述方法在所述步驟根據(jù)所述缺陷的位置及面積信息并結(jié)合所述缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作之后還包括:
[0019]對修復(fù)完成的彩膜玻璃基板進行再次判定，如果判定為合格，則結(jié)束判定及修復(fù)過程；如果判定結(jié)果為不合格，則重復(fù)執(zhí)行修復(fù)操作的步驟。
[0020]根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例，所述修復(fù)設(shè)備的修復(fù)及判定的過程在其對應(yīng)的顯示器界面進行顯示，以便于監(jiān)測所述修復(fù)設(shè)備是否處于正常的工作狀態(tài)。
[0021]根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例，所述方法還包括:將所述判定結(jié)果的信息保存在所述修復(fù)設(shè)備的系統(tǒng)文件中，便于在保存的系統(tǒng)文件中定期檢查所述修復(fù)設(shè)備的判定是否有異常。
[0022]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明還提供一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:修復(fù)設(shè)備和檢測設(shè)備；其中，所述修復(fù)設(shè)備進一步包括接收模塊和修復(fù)模塊，所述接收模塊用于接收產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序；所述檢測設(shè)備用于對彩膜玻璃基板進行檢測，并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與所述修復(fù)設(shè)備中的產(chǎn)品的無缺陷信息進行對比，以得出缺陷的位置及面積信息；所述修復(fù)模塊根據(jù)所述缺陷的位置及面積信息并結(jié)合所述修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作。
[0023]根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例，所述修復(fù)設(shè)備為自動研磨機；所述檢測設(shè)備為自動光學(xué)檢測儀。
[0024]根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例，所述修復(fù)設(shè)備還包括判定模塊，所述判定模塊用于對修復(fù)完成的彩膜玻璃基板進行再次判定，如果判定為合格，則結(jié)束判定及修復(fù)過程；如果判定結(jié)果為不合格，則修復(fù)模塊重復(fù)執(zhí)行修復(fù)操作。
[0025]根據(jù)本發(fā)明一優(yōu)選實施例，所述修復(fù)設(shè)備進一步包括顯示模塊和存儲模塊，所述顯示模塊用于顯示修復(fù)設(shè)備的修復(fù)及判定的過程，所述存儲模塊用于存儲所述判定模塊的判定結(jié)果信息，便于在所述存儲模塊中定期檢查所述修復(fù)設(shè)備的判定是否有異常。
[0026]相對于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法及其系統(tǒng)，通過將產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序輸入進修復(fù)設(shè)備中，修復(fù)設(shè)備可以自行對彩膜玻璃基板進行檢測和修復(fù)，相較于傳統(tǒng)的通過人工進行檢測判定、研磨修復(fù)的方法來講，大大降低了人力成本，同時也克服了人工操作所帶來的準(zhǔn)確性、效率以及安全性低的問題，本發(fā)明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法，可以提高產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率，保障產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性。另外，還利用顯示裝置對整個檢測判定以及修復(fù)步驟進行全程顯示，以便更好地控制和管理修復(fù)設(shè)備的工作流程。
【附圖說明】
[0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0028]圖1是本發(fā)明TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法一優(yōu)選實施例的流程示意圖；
[0029]圖2是一種彩膜玻璃基板的部分PS點位分布不意圖；
[0030]圖3a是彩膜玻璃基板黑缺陷的示意圖；
[0031]圖3b是彩膜玻璃基板白缺陷的示意圖；
[0032]圖4是彩膜玻璃基板無缺陷PS點位分布信息圖；
[0033]圖5是彩膜玻璃基板缺陷坐標(biāo)位置信息圖；以及
[0034]圖6是本發(fā)明TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)系統(tǒng)一優(yōu)選實施例的組成結(jié)構(gòu)簡圖。
【具體實施方式】
[0035]下面結(jié)合附圖和實施例，對本發(fā)明作進一步的詳細描述。特別指出的是，以下實施例僅用于說明本發(fā)明，但不對本發(fā)明的范圍進行限定。同樣的，以下實施例僅為本發(fā)明的部分實施例而非全部實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0036]請參閱圖1，圖1為本發(fā)明TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法一優(yōu)選實施例的流程示意圖，該方法包括但不限于以下步驟。
[0037]步驟S100，在修復(fù)設(shè)備中輸入產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序。
[0038]本發(fā)明中所指的修復(fù)設(shè)備優(yōu)選為自動研磨機，彩膜玻璃基板為TFT-LCD彩膜玻璃基板。產(chǎn)品的無缺陷信息則包括彩膜玻璃基板的無缺陷PS點位完整坐標(biāo)體系及掃描圖片等作為修復(fù)設(shè)備執(zhí)行檢測和修復(fù)時的對比參照信息。缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序通常根據(jù)缺陷的高度及大小兩數(shù)值來確定。
[0039]請參閱圖2，圖2為一種彩膜玻璃基板的部分PS(Post Spacer，TFT-LCD panel內(nèi)部支撐液晶盒后的隔墊物，彩膜的最后一道Photo工序)點位分布示意圖，該圖中包括了彩膜玻璃基板主PS點分布(1-1)和彩膜玻璃基板副PS點分布(1-2)兩種PS點分布的情況，還包括在彩膜玻璃基板橫向和縱向呈周期性的分布PS點的情況，如圖中1-3所表示的PS點周期分布所示。該圖中所表示的在彩膜玻璃基板主PS點分布(1-1)中，PS點的橫向反復(fù)周期為1/15，即每15個PS點重現(xiàn)一次較大或者較小的PS點(在該圖中為較小的PS點)，反復(fù)周期間距為708.75um ;在彩膜玻璃基板副PS點分布(1_2)中表示均勻分布的同樣大小的PS點；1-3表示PS點縱向周期分布的情況，其中，反復(fù)周期為1/6，反復(fù)周期間距為 850.5um。
[0040]需要說明的是，彩膜玻璃基板常見的缺陷一般包括黑缺陷和白缺陷兩種，請參閱圖3a和圖3b，兩幅圖分別給出了彩膜玻璃基板兩種常見缺陷的示意圖。