本發(fā)明涉及在彩膜玻璃基板進(jìn)行PS工藝后的修復(fù)設(shè)備設(shè)備上對黑缺陷進(jìn)行檢測、判斷并研磨修復(fù)的過程，而白缺陷則可直接進(jìn)行判定(白缺陷的Ink修復(fù)一般在PS線之前)，所以本發(fā)明不涉及對彩膜玻璃基板上的白缺陷進(jìn)行處理的過程。
[0041]步驟S200，對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測，并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與修復(fù)設(shè)備中的產(chǎn)品的無缺陷信息進(jìn)行對比，以得出缺陷的位置及面積信息。
[0042]在該步驟中，對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測的檢測設(shè)備優(yōu)選為自動光學(xué)檢測儀(Automatic Optic Inspect1n的全稱是自動光學(xué)檢測儀)。修復(fù)設(shè)備根據(jù)AOI提供的需修復(fù)的黑缺陷數(shù)據(jù)信息(包括坐標(biāo)點(diǎn)和面積大小)，確定需要修復(fù)的缺陷坐標(biāo)位置，同時(shí)將缺陷坐標(biāo)位置與PS點(diǎn)位分布信息進(jìn)行比對，請一并參閱圖4和圖5，圖4是彩膜玻璃基板無缺陷PS點(diǎn)位分布信息圖，圖5是彩膜玻璃基板缺陷坐標(biāo)位置信息圖。圖中3-1表示為PS點(diǎn)，3-2和3-4表示為黑缺陷，3-3表示為白缺陷。在將缺陷坐標(biāo)位置信息圖與無缺陷PS點(diǎn)位分布信息圖對比之后，以避免誤將PS點(diǎn)當(dāng)黑缺陷進(jìn)行研磨修復(fù)。當(dāng)黑缺陷與PS太近時(shí)如圖5中的3-4所示，可根據(jù)實(shí)際情況(如PS點(diǎn)擋住了研磨頭的下降研磨動作時(shí))可以將相鄰的PS點(diǎn)研磨掉。
[0043]步驟S300，根據(jù)缺陷的位置及面積信息并結(jié)合修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作。
[0044]修復(fù)操作具體步驟可以為:從待修復(fù)的彩膜玻璃基板的一角往橫向或縱向進(jìn)行移動，對需研磨修復(fù)的缺陷進(jìn)行逐一判定并修復(fù)。
[0045]優(yōu)選地，該彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法在步驟根據(jù)缺陷的位置及面積信息并結(jié)合缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作之后還包括步驟S400，對修復(fù)完成的彩膜玻璃基板進(jìn)行再次判定。
[0046]如果判定為合格，則進(jìn)入步驟S600，結(jié)束判定及修復(fù)過程；如果判定結(jié)果為不合格，則返回步驟S300，重復(fù)執(zhí)行修復(fù)操作的步驟。
[0047]在步驟S400，對修復(fù)完成的彩膜玻璃基板進(jìn)行再次判定之后，進(jìn)一步包括步驟S500，將判定結(jié)果的信息保存在修復(fù)設(shè)備的系統(tǒng)文件中，便于在保存的系統(tǒng)文件中定期檢查修復(fù)設(shè)備的判定是否有異常。
[0048]優(yōu)選地，本實(shí)施例中修復(fù)設(shè)備的整個(gè)修復(fù)及判定的過程都在其對應(yīng)的顯示器界面進(jìn)行顯示，以便于監(jiān)測修復(fù)設(shè)備是否處于正常的工作狀態(tài)。顯示器可以為外設(shè)的電腦，或者修復(fù)設(shè)備自身帶有的顯示裝置，在本領(lǐng)域技術(shù)人員的理解范圍內(nèi)，此處不再贅述。
[0049]另外，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)系統(tǒng)，請參閱圖6，圖6是本發(fā)明TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)系統(tǒng)一優(yōu)選實(shí)施例的組成結(jié)構(gòu)簡圖。該系統(tǒng)包括但不限于以下設(shè)備:修復(fù)設(shè)備610和檢測設(shè)備620。
[0050]具體而言，修復(fù)設(shè)備610進(jìn)一步包括接收模塊611、修復(fù)模塊612、判定模塊613、顯示模塊614以及存儲模塊615。
[0051]接收模塊611用于接收產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序。檢測設(shè)備620用于對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測，并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與修復(fù)設(shè)備610中的產(chǎn)品的無缺陷信息進(jìn)行對比，以得出缺陷的位置及面積信息；修復(fù)模塊612根據(jù)缺陷的位置及面積信息并結(jié)合修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作；判定模塊613用于對修復(fù)完成的彩膜玻璃基板進(jìn)行再次判定，如果判定為合格，則結(jié)束判定及修復(fù)過程；如果判定結(jié)果為不合格，則修復(fù)模塊612重復(fù)執(zhí)行修復(fù)操作；顯示模塊614用于顯示修復(fù)設(shè)備的修復(fù)及判定的過程；存儲模塊615用于存儲判定模塊613的判定結(jié)果信息，便于在存儲模塊615中定期檢查修復(fù)設(shè)備的判定是否有異常。
[0052]其中，修復(fù)設(shè)備610優(yōu)選為自動研磨機(jī)；檢測設(shè)備620優(yōu)選為自動光學(xué)檢測儀。而關(guān)于修復(fù)設(shè)備610中各功能模塊以及檢測設(shè)備620具體的工作過程，請參閱上述TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法實(shí)施例中的相關(guān)描述，此處亦不再贅述。
[0053]相對于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法及其系統(tǒng)，通過將產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序輸入進(jìn)修復(fù)設(shè)備中，修復(fù)設(shè)備可以自行對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測和修復(fù)，相較于傳統(tǒng)的通過人工進(jìn)行檢測判定、研磨修復(fù)的方法來講，大大降低了人力成本，同時(shí)也克服了人工操作所帶來的準(zhǔn)確性、效率以及安全性低的問題，本發(fā)明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法，可以提高產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率，保障產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性。另外，還利用顯示裝置對整個(gè)檢測判定以及修復(fù)步驟進(jìn)行全程顯示，以便更好地控制和管理修復(fù)設(shè)備的工作流程。
[0054]以上所述僅為本發(fā)明的一種實(shí)施例，并非因此限制本發(fā)明的保護(hù)范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效裝置或等效流程變換，或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法，其特征在于，所述方法包括: 在修復(fù)設(shè)備中輸入產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序； 對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測，并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與所述修復(fù)設(shè)備中的產(chǎn)品的無缺陷信息進(jìn)行對比，以得出缺陷的位置及面積信息； 根據(jù)所述缺陷的位置及面積信息并結(jié)合所述修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述產(chǎn)品的無缺陷信息包括彩膜玻璃基板的無缺陷隔墊物點(diǎn)位完整坐標(biāo)體系及掃描圖片。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測的步驟中的檢測設(shè)備為自動光學(xué)檢測儀；所述修復(fù)設(shè)備為自動研磨機(jī)。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法在所述步驟根據(jù)所述缺陷的位置及面積信息并結(jié)合所述缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作之后還包括: 對修復(fù)完成的彩膜玻璃基板進(jìn)行再次判定，如果判定為合格，則結(jié)束判定及修復(fù)過程；如果判定結(jié)果為不合格，則重復(fù)執(zhí)行修復(fù)操作的步驟。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述修復(fù)設(shè)備的修復(fù)及判定的過程在其對應(yīng)的顯示器界面進(jìn)行顯示，以便于監(jiān)測所述修復(fù)設(shè)備是否處于正常的工作狀態(tài)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括:將所述判定結(jié)果的信息保存在所述修復(fù)設(shè)備的系統(tǒng)文件中，便于在保存的系統(tǒng)文件中定期檢查所述修復(fù)設(shè)備的判定是否有異常。7.—種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括:修復(fù)設(shè)備和檢測設(shè)備；其中，所述修復(fù)設(shè)備進(jìn)一步包括接收模塊和修復(fù)模塊，所述接收模塊用于接收產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序；所述檢測設(shè)備用于對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測，并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與所述修復(fù)設(shè)備中的產(chǎn)品的無缺陷信息進(jìn)行對比，以得出缺陷的位置及面積信息；所述修復(fù)模塊根據(jù)所述缺陷的位置及面積信息并結(jié)合所述修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述修復(fù)設(shè)備為自動研磨機(jī)；所述檢測設(shè)備為自動光學(xué)檢測儀。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述修復(fù)設(shè)備還包括判定模塊，所述判定模塊用于對修復(fù)完成的彩膜玻璃基板進(jìn)行再次判定，如果判定為合格，則結(jié)束判定及修復(fù)過程；如果判定結(jié)果為不合格，則修復(fù)模塊重復(fù)執(zhí)行修復(fù)操作。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述修復(fù)設(shè)備進(jìn)一步包括顯示模塊和存儲模塊，所述顯示模塊用于顯示修復(fù)設(shè)備的修復(fù)及判定的過程，所述存儲模塊用于存儲所述判定模塊的判定結(jié)果信息，便于在所述存儲模塊中定期檢查所述修復(fù)設(shè)備的判定是否有異常。
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種TFT-LCD彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法及其系統(tǒng)，其中該方法包括：在修復(fù)設(shè)備中輸入產(chǎn)品的無缺陷信息以及對應(yīng)每種缺陷的修復(fù)說明和修復(fù)程序；對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測，并將檢測到存在缺陷的彩膜玻璃基板與修復(fù)設(shè)備中的產(chǎn)品的無缺陷信息進(jìn)行對比，以得出缺陷的位置及面積信息；根據(jù)缺陷的位置及面積信息并結(jié)合修復(fù)說明和修復(fù)程序執(zhí)行修復(fù)操作。本發(fā)明提供的彩膜玻璃基板的檢測和修復(fù)方法及其系統(tǒng)，通過修復(fù)設(shè)備可以自行對彩膜玻璃基板進(jìn)行檢測和修復(fù)，相較于傳統(tǒng)的通過人工進(jìn)行檢測判定、研磨修復(fù)的方法來講，大大降低了人力成本，同時(shí)還可以提高產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率，保障產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性。
【IPC分類】G02F1/13
【公開號】CN105242423
【申請?zhí)枴緾N201510769372
【發(fā)明人】徐海樂, 李啟明, 伊文超, 吳利峰
【申請人】武漢華星光電技術(shù)有限公司
【公開日】2016年1月13日
【申請日】2015年11月11日