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發(fā)光模塊及使用該發(fā)光模塊的視覺檢驗系統(tǒng)的制作方法_3

文檔序號:8497524閱讀:來源:國知局
31可以照射可見光區(qū)域、紫外光區(qū)域、紅外光區(qū)域內(nèi)的光。
[0085]具體地,根據(jù)本示例性實施方式的發(fā)光部件130可以由照射具有在紫外光區(qū)域或鄰近紫外光區(qū)域的可見光區(qū)域內(nèi)波長的光的光源131配置而成。
[0086]與可見光區(qū)域相比,在紫外光區(qū)域或者紅外光區(qū)域的波段內(nèi),檢驗?zāi)繕?biāo)P表面上的折射率及透射率更好。因此,相對于可見光區(qū)域,其更易于檢測檢驗?zāi)繕?biāo)P表面的缺陷。
[0087]相機模塊2被安裝在圓頂狀反射部件110的外部以通過圓頂狀反射部件110的光傳輸單元112使檢驗?zāi)繕?biāo)P成像。因此,相機模塊2可以安裝在相機模塊與檢驗?zāi)繕?biāo)P相對的方向上。具體地,相機模塊2可以被布置在檢驗?zāi)繕?biāo)P的法線方向上。
[0088]此外,在本示例性實施方式中,相機模塊2被安裝在圓頂狀反射部件110的外側(cè)的情況是以示例方式被描述,但是如果需要,相機模塊2可以進行不同地安裝。例如,相機模塊2可以被安裝在圓頂狀反射部件110內(nèi)。
[0089]在如上所述配置的根據(jù)本示例性實施方式的發(fā)光模塊I中,從發(fā)光部件130照射的光可以入射在圓頂狀反射部件110的內(nèi)表面上。然后,入射在圓頂狀反射部件110內(nèi)表面上的光可以相應(yīng)于圓頂狀反射部件I1內(nèi)表面的曲率而被反射。此外,反射光可以在各種不同的方向被輻射以進而被照射至檢驗?zāi)繕?biāo)P上或者再入射到圓頂狀反射部件110的內(nèi)表面上,再次被反射,然后照射至檢驗?zāi)繕?biāo)P上。
[0090]也就是說,根據(jù)本示例性實施方式的發(fā)光模塊I可以使用發(fā)光部件130間接地將光照射至檢驗?zāi)繕?biāo)P上并使用相機模塊2對檢驗?zāi)繕?biāo)P成像。因此,通過光學(xué)減少由檢驗?zāi)繕?biāo)P的表面狀態(tài)引起的偽缺陷,可以獲得能夠防止非漏檢與過檢的精確的圖像。
[0091]此外,根據(jù)本示例性實施方式的發(fā)光部件130被配置為多個光源131。因此,當(dāng)光入射至其上以不同角度布置有檢驗?zāi)繕?biāo)P的位置上,在檢驗?zāi)繕?biāo)P的全部表面上的亮度可以被進一步增強。
[0092]此外,根據(jù)本示例性實施方式的發(fā)光模塊I可以使用在紫外光區(qū)域或紅外光區(qū)域的光源131。因此,對于輪廓邊界部分的形式缺陷、電極中的電極分離(detachment)缺陷等的檢測能力可以被顯著改善。
[0093]圖5是示出使用根據(jù)本公開的示例性實施方式的改善的發(fā)光模塊拍攝的圖像與使用根據(jù)相關(guān)技術(shù)的發(fā)光模塊拍攝的圖像的對照表。
[0094]這里,使用根據(jù)相關(guān)技術(shù)的發(fā)光模塊(現(xiàn)有照明)的圖像通過使用具有在可見光區(qū)域內(nèi)的波長的高亮度LED作為光源的直接照明方式來拍攝。此外,使用根據(jù)本示例性實施方式的發(fā)光模塊(改善的照明)的圖像使用上述的具有在紫外光區(qū)域的波長的功率LED作為光源的通過間接照明方式來拍攝。
[0095]參考圖5,在通過根據(jù)相關(guān)技術(shù)的發(fā)光模塊拍攝的圖像中,存在反差,由于電極部分中形成的細小彎曲導(dǎo)致好像電極中存在缺陷。因此,很難通過肉眼精確地確定檢驗產(chǎn)品是否為有效產(chǎn)品或者有缺陷產(chǎn)品。
[0096]在另一方面,在通過根據(jù)本示例性實施方式的發(fā)光模塊拍攝的圖像中,電極表面的偽缺陷可以通過間接照明被光學(xué)地減少。因此,不產(chǎn)生由于細小彎曲而引起的反差,并且僅僅在缺陷實質(zhì)發(fā)生的部分清楚地產(chǎn)生反差。因此,相較于相關(guān)技術(shù),其可易于辨別優(yōu)良產(chǎn)品/缺陷產(chǎn)品。
[0097]如上文所述,根據(jù)本公開的示例性實施方式,使用發(fā)光模塊,使用發(fā)光部件光可以被間接地照射至檢驗?zāi)繕?biāo)上,并且使用相機模塊檢驗?zāi)繕?biāo)可以被拍攝。因此,通過光學(xué)地減少由檢驗?zāi)繕?biāo)的表面狀態(tài)引起的偽缺陷,可以獲得能夠防止漏檢及過檢的精確圖像。
[0098]此外,根據(jù)本公開的發(fā)光模塊可以使用在紫外光區(qū)域或紅外光區(qū)域的光源。因此,對于在電極中的輪廓邊界部分的形狀缺陷、電極分離缺陷等的檢測能力可以被顯著提高。
[0099]進一步地,通過使用功率LED,可以保證充足量的光,以使高速檢測可以被執(zhí)行。
[0100]盡管上文已經(jīng)示出和描述了示例性實施方式,對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說顯而易見的是,在不脫離隨附權(quán)利要求定義的本發(fā)明的范圍的情況下,可以進行修改和變形。
【主權(quán)項】
1.一種發(fā)光模塊,該發(fā)光模塊包括: 外殼,該外殼的內(nèi)表面在其中被形成為圓頂形狀;以及 發(fā)光部件,該發(fā)光部件被布置在所述外殼內(nèi),并且發(fā)射將由所述外殼的所述內(nèi)表面反射的光以使檢驗?zāi)繕?biāo)隨后將被間接地照射, 其中,所述發(fā)光部件包括至少一個光源,該至少一個光源發(fā)射具有在紫外光區(qū)域或紅外光區(qū)域內(nèi)的波長的光。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光模塊,其中,所述發(fā)光部件向所述內(nèi)表面照射光以使從所述內(nèi)表面反射的將入射到所述檢驗?zāi)繕?biāo)上的光的最大入射角被設(shè)置為45°或更大。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光模塊,其中,所述外殼包括: 圓頂狀反射部件,該圓頂狀反射部件具有形成為圓頂形狀的內(nèi)表面并且反射從所述發(fā)光部件照射的所述光;以及 光源布置部件,該光源布置部件從所述圓頂狀反射部件的下邊沿向內(nèi)凸出。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光模塊,其中,所述圓頂狀反射部件被形成為積分球。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光模塊,其中,光通過其被傳輸?shù)墓鈧鬏攩卧恍纬稍谒鰣A頂狀反射部件的最頂端。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的發(fā)光模塊,其中,所述發(fā)光模塊還包括相機模塊,該相機模塊被布置在所述圓頂狀反射部件的外部并且通過所述光傳輸單元使所述檢驗?zāi)繕?biāo)成像。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的發(fā)光模塊,其中,所述發(fā)光模塊包括至少一個光源,該至少一個光源將光照射至鄰近所述光傳輸單元的位置。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光模塊,其中,所述圓頂狀反射部件的所述內(nèi)表面被形成為光滑的表面或者包括形成在其內(nèi)的細小粗糙度部分。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光模塊,其中,所述發(fā)光部件布置在其上的所述光源布置部件的一個表面被形成為斜面。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的發(fā)光模塊,其中,在所述光源布置部件中,傾斜的角度是0°至 45°。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光模塊,其中,所述發(fā)光部件使用至少一個功率發(fā)光二極管(功率LED)作為所述光源。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的發(fā)光模塊,其中,所述圓頂狀反射部件具有20至200mm的半徑。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的發(fā)光模塊,其中,所述功率LED具有350至370mW的功率。
14.一種視覺檢驗系統(tǒng),該視覺檢驗系統(tǒng)包括: 發(fā)光模塊,該發(fā)光模塊包括外殼,該外殼的內(nèi)表面在其中被形成圓頂形狀,并且所述發(fā)光模塊還包括發(fā)光部件,該發(fā)光部件被布置在所述外殼中并發(fā)射將由所述外殼的所述內(nèi)表面反射的光以使檢驗?zāi)繕?biāo)然后將被間接照射;以及 相機模塊,該相機模塊布置在所述檢驗?zāi)繕?biāo)之上以對所述檢驗?zāi)繕?biāo)的外部成像, 其中,所述發(fā)光模塊照射具有在紫外光區(qū)域或者鄰近所述紫外光區(qū)域的可見光區(qū)域內(nèi)的波長的光。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的視覺檢驗系統(tǒng),其中,所述發(fā)光部件向所述外殼的所述內(nèi)表面照射光以使入射在所述檢驗?zāi)繕?biāo)上的所述光的最大入射角被設(shè)置為45°或更大。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的視覺檢驗系統(tǒng),其中,所述視覺檢驗系統(tǒng)還包括控制部件,該控制部件與所述發(fā)光模塊和所述相機模塊相連接以控制所述發(fā)光模塊和所述相機模塊的功能。
17.一種視覺檢驗系統(tǒng),該視覺檢驗系統(tǒng)包括: 權(quán)利要求1所述的發(fā)光模塊; 相機模塊,該相機模塊對由所述發(fā)光模塊利用光照射的檢驗?zāi)繕?biāo)的外部成像;以及控制部件,該控制部件與所述發(fā)光模塊和所述相機模塊相連接以控制所述發(fā)光模塊和所述相機模塊的功能。
【專利摘要】于此,提供一種發(fā)光模塊,該發(fā)光模塊能夠在檢驗?zāi)繕?biāo)的整個檢驗表面上照射光以獲得圖像。藉此,根據(jù)本公開的所述發(fā)光模塊可以包括:外殼,該外殼的內(nèi)表面在其中被形成為圓頂狀;以及發(fā)光部件,該發(fā)光部件被布置在所述外殼內(nèi),并且發(fā)射將被所述外殼的內(nèi)表面反射的光以間接地將光照射至所述檢驗?zāi)繕?biāo)上,其中,所述發(fā)光部件包括至少一個光源,該至少一個光源發(fā)射具有在紫外或紅外光區(qū)域內(nèi)波長的光。
【IPC分類】F21V19-00, G01N21-88, F21Y101-02, F21V33-00, F21V7-22, F21V7-10, F21S8-00
【公開號】CN104819405
【申請?zhí)枴緾N201410853967
【發(fā)明人】田善一, 李昞勛, 吉暎培
【申請人】三星電機株式會社
【公開日】2015年8月5日
【申請日】2014年12月31日
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