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一種雙區(qū)加熱的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積腔體晶圓基座的制作方法

文檔序號(hào):12550116閱讀:727來(lái)源:國(guó)知局

本實(shí)用新型涉及一種雙區(qū)加熱的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積腔體晶圓基座,屬于半導(dǎo)體芯片生產(chǎn)設(shè)備的技術(shù)領(lǐng)域。



背景技術(shù):

隨著半導(dǎo)體芯片制造技術(shù)的發(fā)展,300mm直徑尺寸晶圓的芯片制造已經(jīng)成為當(dāng)今半導(dǎo)體芯片制造業(yè)的主流。在芯片制造過(guò)程中,等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)技術(shù)被廣泛應(yīng)用于硅的氧化物、氮化物和多晶硅等薄膜的沉積工藝。300mm的晶圓尺寸較大,在等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積過(guò)程中,晶圓表面中心區(qū)域和邊緣區(qū)域的薄膜沉積速率會(huì)有差異,而造成整片晶圓薄膜厚度的均勻性下降。薄膜厚度的均勻性差會(huì)影響后續(xù)工藝的生產(chǎn),嚴(yán)重時(shí)會(huì)造成晶圓報(bào)廢。目前傳統(tǒng)的300mm等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積設(shè)備的腔體晶圓基座(Heater)普遍采用單區(qū)加熱溫控,無(wú)法通過(guò)改變晶圓基座不同區(qū)域的溫度來(lái)調(diào)節(jié)薄膜沉積速率和改善厚度的均勻性。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本實(shí)用新型設(shè)計(jì)的雙區(qū)加熱的腔體晶圓基座(Dual Zone Heater)是在傳統(tǒng)的腔體晶圓基座技術(shù)的基礎(chǔ)上引入了雙區(qū)加熱溫控技術(shù),可以獨(dú)立加熱腔體晶圓基座中心區(qū)域和邊緣區(qū)域。

具體結(jié)構(gòu)為:包括基座主體,所述基座主體上設(shè)置晶圓凹槽,其特征在于:晶圓凹槽分為中心區(qū)域和邊緣區(qū)域兩部分,中心區(qū)域和邊緣區(qū)域采用兩套內(nèi)嵌加熱元件及溫度傳感器來(lái)獨(dú)立加熱,中心區(qū)域位置設(shè)置中心區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件,中心區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件連接中心區(qū)域加熱元件電源線和中心區(qū)域熱電偶溫度傳感器,邊緣區(qū)域位置設(shè)置邊緣區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件,邊緣區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件連接邊緣區(qū)域加熱元件電源線和邊緣區(qū)域熱電偶溫度傳感器。

以基座主體的中心為圓心,直徑150~250mm的區(qū)域?yàn)橹行膮^(qū)域,以晶圓凹槽的外緣為基準(zhǔn),向內(nèi)側(cè)延伸25~75mm的圓環(huán)區(qū)域?yàn)檫吘墔^(qū)域。

所述基座主體內(nèi)設(shè)置內(nèi)嵌接地電極,所述基座主體的下方設(shè)置接地,所述基座主體的下方設(shè)置真空密封。

有益效果:在等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積工藝過(guò)程中,反應(yīng)氣體通入真空條件下的腔體內(nèi),在射頻(RF)的作用下氣體分子電離產(chǎn)生等離子體。等離子體中含有的諸多高活性化學(xué)基團(tuán)擴(kuò)散并吸附在晶圓表面發(fā)生一系列反應(yīng),形成固態(tài)薄膜。薄膜的沉積速率受晶圓表面沉積溫度的影響。

傳統(tǒng)的晶圓基座(Heater)只含有一套內(nèi)嵌入的加熱組件,沉積過(guò)程中晶圓表面各區(qū)域只能控制在同一個(gè)溫度。本實(shí)用新型設(shè)計(jì)的雙區(qū)加熱的腔體晶圓基座(Dual Zone Heater)采用兩套內(nèi)嵌入的加熱組件,可以獨(dú)立加熱晶圓表面中心區(qū)域和邊緣區(qū)域。通過(guò)對(duì)兩個(gè)區(qū)域溫度的獨(dú)立控制,起到減少兩個(gè)區(qū)域晶圓表面薄膜的沉積速率的差異,從而改善300mm晶圓薄膜沉積厚度的均勻性,達(dá)到提高產(chǎn)品良率的作用。

附圖說(shuō)明

圖1本實(shí)用新型設(shè)計(jì)的一種雙區(qū)加熱的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積腔體晶圓基座(Dual Zone Heater)的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖中0-邊緣區(qū)域,01-中心區(qū)域,1-基座主體,2-內(nèi)嵌接地電極,3-晶圓凹槽,4-中心區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件,5-邊緣區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件,6-真空密封,7-中心區(qū)域加熱元件電源線,8-邊緣區(qū)域加熱元件電源線,9-中心區(qū)域熱電偶溫度傳感器,10-邊緣區(qū)域熱電偶溫度傳感器,11-接地。

具體實(shí)施方式

本實(shí)用新型設(shè)計(jì)的一種雙區(qū)加熱的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積腔體晶圓基座(Dual Zone Heater),采用兩套內(nèi)嵌加熱組件用來(lái)獨(dú)立加熱晶圓基座中心區(qū)域01和邊緣區(qū)域0。如圖1所示,腔體晶圓基座分為中心區(qū)域01和邊緣區(qū)域0,中心區(qū)域01的加熱組件由中心區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件4、中心區(qū)域加熱元件電源線7和中心區(qū)域熱電偶溫度傳感器9組成,邊緣區(qū)域0的加熱組件由邊緣區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件5、邊緣區(qū)域加熱元件電源線8和邊緣區(qū)域熱電偶溫度傳感器10組成。中心區(qū)域01和邊緣區(qū)域0的晶圓基座溫度可以由上述兩套加熱組件結(jié)合外圍的溫度控制器獨(dú)立控制。

本實(shí)用新型設(shè)計(jì)的一種雙區(qū)加熱的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積腔體晶圓基座(Dual Zone Heater),應(yīng)用于300mm尺寸晶圓的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)設(shè)備,以基座主體1中心為圓心,直徑150~250mm的區(qū)域定義為中心區(qū)域01;加熱組件由中心區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件4、中心區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件電源線7和中心區(qū)域熱電偶溫度傳感器9組成。以晶圓凹槽3外緣為基準(zhǔn),向內(nèi)側(cè)延伸25~75mm的圓環(huán)區(qū)域定義為邊緣區(qū)域0;加熱組件由邊緣區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件5、邊緣區(qū)域內(nèi)嵌加熱元件電源線8和邊緣區(qū)域熱電偶溫度傳感器10組成。

由上述可知,本實(shí)用新型設(shè)計(jì)的雙區(qū)加熱的等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積腔體晶圓基座(Dual Zone Heater),可以通過(guò)獨(dú)立調(diào)控腔體晶圓基座不同區(qū)域的溫度來(lái)改善300mm尺寸晶圓在等離子增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)工藝中薄膜沉積的均勻性,從而提高產(chǎn)品的良率。

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