一種鐵氧體粉末及其所制備的成型體的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及磁記錄介質(zhì)領(lǐng)域，尤其涉及一種鐵氧體粉末及其所制備的成型體。
【背景技術(shù)】
[0002] 粘結(jié)磁體是將高分子粘結(jié)劑與鐵氧體磁粉復(fù)合而成的永磁材料，不僅具有永磁鐵 氧體的磁特性，而且具有高分子材料的容易加工、產(chǎn)品尺寸精確諸多優(yōu)良特性，改進(jìn)了燒結(jié) 磁體不易加工等缺點(diǎn)。
[0003] 近年來(lái)，隨著科技水平的發(fā)展，各種應(yīng)用粘結(jié)磁體的設(shè)備都要求使用性和可靠性 能夠大幅提尚，這就要求粘結(jié)磁體以及用于制備粘結(jié)磁體的鐵氧體粉末具有更尚的性能及 更好的穩(wěn)定性。
[0004] 磁記錄介質(zhì)（例如：磁質(zhì)車票、磁卡等）是粘結(jié)磁體的主要應(yīng)用領(lǐng)域之一，為了在 更小的體積上記錄更多的信息，磁記錄介質(zhì)需要具有更高的磁記錄密度以及良好的環(huán)境穩(wěn) 定性。本申請(qǐng)的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)：對(duì)于用作磁記錄介質(zhì)的粘結(jié)鐵氧體粉末而言，SFD(英文全稱 為SwitchingFieldDistribution，譯為開(kāi)關(guān)場(chǎng)分布）越小，矯頑力均一化程度越高，在形 成磁記錄介質(zhì)時(shí)，記錄位之間的過(guò)渡區(qū)越小，記錄密度越高，錄放信號(hào)的靈敏度越好，所形 成磁記錄介質(zhì)的復(fù)印效應(yīng)越小，重寫性能越好；但在現(xiàn)有技術(shù)中，SFD基本都在0. 32以上， 這使得所制備出磁記錄介質(zhì)的性能受到了很大限制。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的上述不足之處，本發(fā)明提供了一種鐵氧體粉末及其所制備的成 型體，能夠?qū)FD有效控制在0? 30以下，使得矯頑力均一化程度更高、磁力均勻性更好、磁 性能更強(qiáng)，從而在形成磁記錄介質(zhì)時(shí)，記錄位之間的過(guò)渡區(qū)更小，記錄密度更高，信號(hào)靈敏 度更好，所制備出磁記錄介質(zhì)的復(fù)印效應(yīng)更小，重寫性能更好。
[0006] 本發(fā)明的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：
[0007] -種鐵氧體粉末，在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測(cè)定中，粒度分布的幾何 標(biāo)準(zhǔn)偏差是1. 4~1. 59,平均體積粒徑是0. 9~1. 5ym，篩下物累積比例為10 %的粒徑X10 是0. 35~0. 55ym，且篩下物累積比例為90%的粒徑X90是1. 5~2. 5ym。
[0008] 優(yōu)選地，在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測(cè)定中，平均體積粒徑1. 0~ 1. 2um〇
[0009] -種成型體，該成型體為磁記錄介質(zhì)，采用上述技術(shù)方案中所述鐵氧體粉末制成。
[0010] 由上述本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實(shí)施例所提供的鐵氧體粉末通過(guò) 對(duì)鐵氧體粉末粒度分布的幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差、平均體積粒徑、粒徑X10、粒徑X90進(jìn)行調(diào)整，從而 能夠?qū)FD有效控制在0. 30以下，使得矯頑力均一化程度更高、磁力均勻性更好、磁性能更 強(qiáng)，從而在形成磁記錄介質(zhì)時(shí)，記錄位之間的過(guò)渡區(qū)更小，記錄密度更高，信號(hào)靈敏度更好， 所制備出磁記錄介質(zhì)的復(fù)印效應(yīng)更小，重寫性能更好。
【具體實(shí)施方式】
[0011] 下面對(duì)本發(fā)明中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是 本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在 沒(méi)有付出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0012] 下面分別對(duì)本發(fā)明所提供的鐵氧體粉末及其所制備的成型體進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0013] -種鐵氧體粉末，其具體內(nèi)容包括：在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測(cè)定中， 粒度分布的幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差是1. 4~1. 59,平均體積粒徑是0. 9~1. 5ym，篩下物累積比 例為10 %的粒徑X10是0. 35~0. 55ym，且篩下物累積比例為90 %的粒徑X90是1. 5~ 2. 5um〇
[0014] 其中，該鐵氧體粉末的具體實(shí)施方案可以包括：
[0015] (1)計(jì)算幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差的公式為：幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差=(X84/X16)P1/2P，其中，X84是篩 下物的累積比例按體積標(biāo)準(zhǔn)為84%時(shí)的粒徑，X16是篩下物的累積比例按體積標(biāo)準(zhǔn)為16% 時(shí)的粒徑。在現(xiàn)有技術(shù)中，本領(lǐng)域技術(shù)人員一直認(rèn)為用于制備磁記錄介質(zhì)的鐵氧體粉末其 粒度分布的幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差最好在1. 6~2. 2之間，但本申請(qǐng)的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，當(dāng)鐵氧體粉末的 粒度分布的幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差在1. 6~2. 2這一區(qū)間時(shí)，SFD值較大，所制得的磁記錄介質(zhì)的性 能較差，因而本發(fā)明所提供的鐵氧體粉末在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測(cè)定中，粒 度分布的幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差在1. 4~1. 59之間；如果該幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差大于1. 59,則該鐵氧體粉 末的SFD數(shù)值較大，矯頑力分布范圍較寬，所制備出的磁記錄介質(zhì)靈敏度較低，重寫性能較 差，因而不優(yōu)選；而要將該幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差控制到小于1. 4,目前的技術(shù)水平是難以做到的， 即使能夠做到，那么制造工序也會(huì)相當(dāng)復(fù)雜，成本很高，因而不優(yōu)選。
[0016] (2)平均體積粒徑是用全部顆粒的體積總和除以全部顆粒數(shù)求出的粒徑。本發(fā)明 所提供的鐵氧體粉末在激光衍射式粒度分布儀的粒度分布測(cè)定中，平均體積粒徑為〇. 9~ 1. 5ym;如果平均體積粒徑大于1. 5ym，則該鐵氧體粉末的顆粒尺寸增大，單位面積排布 的顆?？倲?shù)減少，SFD數(shù)值變大，所制備出的磁記錄介質(zhì)的磁記錄密度會(huì)大幅下降，因而不 優(yōu)選；如果平均體積粒徑小于〇. 9ym，則該鐵氧體粉末的分散性會(huì)大幅下降，因而不優(yōu)選。 在實(shí)際應(yīng)用中，平均體積粒徑可以為0. 9~1. 5ym，但最好為1. 0~1. 2ym。
[0017] (3)X10是篩下物的累積比例按體積標(biāo)準(zhǔn)為10%時(shí)的粒徑，X90是篩下物的累積 比例按體積標(biāo)準(zhǔn)為90%時(shí)的粒徑。本發(fā)明所提供的鐵氧體粉末在激光衍射式粒度分布儀 的粒度分布測(cè)定中，篩下物累積比例為10%的粒徑X10是0. 35~0. 55ym，且篩下物累積 比例為90 %的粒徑X90是1. 5~2. 5ym;如果粒徑X10小于0. 35ym并且粒徑X90大于 2. 5ym，則該鐵氧體粉末的SFD數(shù)值較大，矯頑力分布范圍較寬，所制備出的磁記錄介質(zhì)靈 敏度較低，重寫性能較差，因而不優(yōu)選；而將粒徑X10控制到大于0. 55ym并且將粒徑X90 控制到小于1. 5ym，制備難度非常大，不容易實(shí)現(xiàn)，成本很高，因而不優(yōu)選；如果粒徑X10小 于0. 35且粒徑X90小于1. 5,會(huì)造成平均粒度偏小，因而不優(yōu)選；如果粒徑X10大于0. 55且 粒徑X90大于2. 5,會(huì)造成平均粒度偏大，因而不優(yōu)選。
[0018] (4)本發(fā)明所提供的鐵氧體粉末的矯頑力最好為2500~30000e，這不僅可以使所 制備出的磁記錄介質(zhì)具有較小的復(fù)印效應(yīng)、較好的靈敏度和重寫性能，而且制備工藝相對(duì) 簡(jiǎn)單，生產(chǎn)效率較高。
[0019] (5)本發(fā)明中鐵氧體粉末的幾何標(biāo)準(zhǔn)偏差、平均體積粒徑、X10、X90均可以是采用 HELOS&RODOS激光衍射式粒度分布儀