本實(shí)用新型涉及電梯零部件技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種檢測(cè)裝置。
背景技術(shù):
現(xiàn)有技術(shù)中,電梯的門(mén)鎖(轎門(mén)鎖和廳門(mén)鎖)是被串聯(lián)在一起后進(jìn)行整體檢測(cè)的,對(duì)每一個(gè)門(mén)鎖的狀態(tài)無(wú)法獨(dú)立檢測(cè)。而且,在檢測(cè)門(mén)鎖短接時(shí)門(mén)鎖回路被旁路,這時(shí),如果任一轎門(mén)或者廳門(mén)處于未閉合位置,而電梯控制器無(wú)法得知這一狀況卻控制電梯轎廂運(yùn)行,這種情況下轎廂運(yùn)行可能帶來(lái)人身傷害,存在安全隱患。另外,若檢測(cè)到門(mén)鎖回路被短接,但是,由于不能確定具體被短接的門(mén)鎖,所以導(dǎo)致維修檢測(cè)的效率很低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本實(shí)用新型實(shí)施方式的目的在于提供一種檢測(cè)裝置,可以獨(dú)立檢測(cè)每個(gè)電梯門(mén)鎖的狀態(tài),消除門(mén)鎖短接檢測(cè)待來(lái)的安全隱患,提高維修效率。
為解決上述技術(shù)問(wèn)題,本實(shí)用新型的實(shí)施方式提供了一種檢測(cè)裝置,包括:微處理器、第一開(kāi)關(guān)、第二開(kāi)關(guān)、第三開(kāi)關(guān)、第四開(kāi)關(guān)、第一引腳、第二引腳、第三引腳與第四引腳;
所述第一引腳、所述第二引腳連接于待測(cè)門(mén)鎖所在的支路,且位于所述待測(cè)門(mén)鎖的第一側(cè);所述第三引腳、所述第四引腳連接于所述待測(cè)門(mén)鎖所在的支路,且位于所述待測(cè)門(mén)鎖的第二側(cè);所述第二引腳、所述第三引腳均位于所述待測(cè)門(mén)鎖側(cè);
所述第一引腳、所述第二引腳之間串聯(lián)所述第一開(kāi)關(guān);所述第三引腳、所述第四引腳之間串聯(lián)所述第二開(kāi)關(guān);所述第一開(kāi)關(guān)與所述第二開(kāi)關(guān)在所述待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)關(guān)閉時(shí)處于閉合狀態(tài);
所述第二引腳經(jīng)所述第三開(kāi)關(guān)連接至所述微處理器;所述第三引腳經(jīng)所述第四開(kāi)關(guān)連接至參考電勢(shì)點(diǎn);所述第三開(kāi)關(guān)與所述第四開(kāi)關(guān)在所述待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)關(guān)閉時(shí)均處于斷開(kāi)狀態(tài);
在所述待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),所述第一開(kāi)關(guān)、所述第二開(kāi)關(guān)斷開(kāi),所述第三開(kāi)關(guān)、所述第四開(kāi)關(guān)閉合,所述檢測(cè)裝置與所述待測(cè)門(mén)鎖組成檢測(cè)回路;所述微處理器根據(jù)檢測(cè)到的電勢(shì)與所述參考電勢(shì)點(diǎn)處的電勢(shì),判斷所述待測(cè)門(mén)鎖是否處于短接狀態(tài)。
本實(shí)用新型的實(shí)施方式還提供了一種檢測(cè)裝置,包括:微處理器、第一開(kāi)關(guān)、第二開(kāi)關(guān)、第三開(kāi)關(guān)、第四開(kāi)關(guān)、第五開(kāi)關(guān)、第一引腳、第二引腳、第三引腳、第四引腳與第五引腳;
所述第一引腳、所述第二引腳、所述第三引腳、所述第四引腳與所述第五引腳連接于第一待測(cè)門(mén)鎖與第二待測(cè)門(mén)鎖所在的支路,所述第一待測(cè)門(mén)鎖與所述第二待測(cè)門(mén)鎖串聯(lián)在所述支路中;
所述第一引腳、所述第二引腳位于所述第一待測(cè)門(mén)鎖的第一側(cè);所述第一待測(cè)門(mén)鎖的第二側(cè)為第二待測(cè)門(mén)鎖側(cè);所述第三引腳連接于所述第一待測(cè)門(mén)鎖與所述第二待測(cè)門(mén)鎖之間的節(jié)點(diǎn);所述第四引腳、所述第五引腳位于所述第二待測(cè)門(mén)鎖的第一側(cè);所述第二待測(cè)門(mén)鎖的第二側(cè)為第一待測(cè)門(mén)鎖側(cè);
所述第一引腳、所述第二引腳之間串聯(lián)所述第一開(kāi)關(guān);所述第三引腳經(jīng)所述第五開(kāi)關(guān)連接至參考電勢(shì)點(diǎn);所述第五引腳與所述第二待測(cè)門(mén)鎖連接,且所述第五引腳與所述第四引腳之間還串聯(lián)所述第二開(kāi)關(guān);在第一門(mén)與第二門(mén)均關(guān)閉時(shí),所述第一開(kāi)關(guān)與所述第二開(kāi)關(guān)處于閉合狀態(tài);所述第一門(mén)為所述第一待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén),所述第二門(mén)為所述第二待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén);
所述第二引腳經(jīng)所述第三開(kāi)關(guān)連接至所述微處理器;所述第五引腳經(jīng)所述第四開(kāi)關(guān)連接至所述微處理器;在所述第一門(mén)與所述第二門(mén)均關(guān)閉時(shí),所述第三開(kāi)關(guān)與所述第四開(kāi)關(guān)均處于斷開(kāi)狀態(tài);
在所述第一門(mén)與所述第二門(mén)均處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),所述第一開(kāi)關(guān)、所述第二開(kāi)關(guān)斷開(kāi),所述第三開(kāi)關(guān)、所述第四開(kāi)關(guān)閉合,所述檢測(cè)裝置與所述第一待測(cè)門(mén)鎖組成第一檢測(cè)回路;所述檢測(cè)裝置與所述第二待測(cè)門(mén)鎖組成第二檢測(cè)回路;
所述微處理器根據(jù)檢測(cè)到的第一電勢(shì)與所述參考電勢(shì)點(diǎn)處的電勢(shì),判斷所述第一待測(cè)門(mén)鎖是否處于短接狀態(tài);所述第一電勢(shì)為所述第一待測(cè)門(mén)鎖的第一側(cè)的電勢(shì);
所述微處理器根據(jù)檢測(cè)到的第二電勢(shì)與所述參考電勢(shì)點(diǎn)處的電勢(shì),判斷所述第二待測(cè)門(mén)鎖是否處于短接狀態(tài);所述第二電勢(shì)為所述第二待測(cè)門(mén)鎖的第一側(cè)的電勢(shì)。
本實(shí)用新型實(shí)施方式相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言,在待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),第一開(kāi)關(guān)、第二開(kāi)關(guān)斷開(kāi),這樣,就將待測(cè)門(mén)鎖與所在支路斷開(kāi)連接,將待測(cè)門(mén)鎖從所在支路中截取出來(lái),同時(shí),第三開(kāi)關(guān)、第四開(kāi)關(guān)閉合,這樣,檢測(cè)裝置與待測(cè)門(mén)鎖就組成了檢測(cè)回路;微處理器根據(jù)檢測(cè)到的電勢(shì)與參考電勢(shì)點(diǎn)處的電勢(shì),判斷待測(cè)門(mén)鎖是否處于短接狀態(tài)。這樣,可以獨(dú)立檢測(cè)每個(gè)電梯門(mén)鎖的狀態(tài),消除門(mén)鎖短接檢測(cè)待來(lái)的安全隱患,提高維修效率。
另外,所述第一開(kāi)關(guān)、所述第二開(kāi)關(guān)均為常閉觸點(diǎn);所述第三開(kāi)關(guān)、所述第四開(kāi)關(guān)均為常開(kāi)觸點(diǎn);所述檢測(cè)裝置還包括:繼電器;所述繼電器與所述微處理器連接;在所述待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),所述微處理器控制所述繼電器通電,所述繼電器通電后動(dòng)作,觸發(fā)所述常閉觸點(diǎn)斷開(kāi),所述常開(kāi)觸點(diǎn)閉合。通過(guò)繼電器與觸點(diǎn)配合的方式,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)裝置中的開(kāi)關(guān),可以有效地控制所有開(kāi)關(guān)同步動(dòng)作。
另外,檢測(cè)裝置還包括二極管;所述二極管并聯(lián)在所述繼電器兩端。在繼電器失電時(shí),釋放繼電器的線圈上的殘余電勢(shì),這樣,可以保護(hù)繼電器線圈,避免線圈被反向電動(dòng)勢(shì)燒毀。
附圖說(shuō)明
圖1是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施方式中各個(gè)待測(cè)門(mén)鎖所在的支路的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是根據(jù)本實(shí)用新型第一實(shí)施方式的檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是根據(jù)本實(shí)用新型第一實(shí)施方式中的檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是根據(jù)本實(shí)用新型第一實(shí)施方式中的檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5是根據(jù)本實(shí)用新型第二實(shí)施方式中的檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6是根據(jù)本實(shí)用新型第三實(shí)施方式的檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖7是根據(jù)本實(shí)用新型第三實(shí)施方式中的檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚,下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解,在本實(shí)用新型各實(shí)施方式中,為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是,即使沒(méi)有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改,也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)所要求保護(hù)的技術(shù)方案。
圖1為本實(shí)用新型實(shí)施方式中各個(gè)待測(cè)門(mén)鎖所在的支路的結(jié)構(gòu)示意圖,在該支路中,待測(cè)門(mén)鎖M1、M2、M3、......、MX依次串聯(lián),X為最后一個(gè)門(mén)鎖的序號(hào)。電梯控制器會(huì)根據(jù)檢測(cè)裝置對(duì)各個(gè)待測(cè)門(mén)鎖的檢測(cè)結(jié)果控制電梯轎廂的運(yùn)行。其中,待測(cè)門(mén)鎖可以是轎門(mén)鎖,也可以是廳門(mén)鎖。在實(shí)際應(yīng)用時(shí),門(mén)鎖可以是門(mén)鎖觸點(diǎn)。
下面的實(shí)施例中將會(huì)以對(duì)待測(cè)門(mén)鎖M1進(jìn)行檢測(cè)和對(duì)待測(cè)門(mén)鎖M1、M2同時(shí)進(jìn)行檢測(cè)為例,對(duì)檢測(cè)裝置進(jìn)行詳細(xì)介紹。
本實(shí)用新型的第一實(shí)施方式涉及一種檢測(cè)裝置,具體如圖2所示,該檢測(cè)裝置1包括:微處理器、第一開(kāi)關(guān)C1、第二開(kāi)關(guān)C2、第三開(kāi)關(guān)C3、第四開(kāi)關(guān)C4、第一引腳PIN1、第二引腳PIN2、第三引腳PIN3與第四引腳PIN4。
具體地,第一引腳PIN1、第二引腳PIN2連接于待測(cè)門(mén)鎖所在的支路,且位于待測(cè)門(mén)鎖的第一側(cè)(第一側(cè)為圖中左側(cè));第三引腳PIN3、第四引腳PIN4連接于待測(cè)門(mén)鎖所在的支路,且位于待測(cè)門(mén)鎖的第二側(cè);第二引腳PIN2、第三引腳PIN3均位于待測(cè)門(mén)鎖側(cè);第一引腳PIN1、第二引腳PIN2之間串聯(lián)第一開(kāi)關(guān)C1;第三引腳PIN3、第四引腳PIN4之間串聯(lián)第二開(kāi)關(guān)C2;第一開(kāi)關(guān)C1與第二開(kāi)關(guān)C2在待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)關(guān)閉時(shí)處于閉合狀態(tài)。
第二引腳PIN2經(jīng)第三開(kāi)關(guān)C3連接至微處理器;第三引腳PIN3經(jīng)第四開(kāi)關(guān)C4連接至參考電勢(shì)點(diǎn)Ref;第三開(kāi)關(guān)C3與第四開(kāi)關(guān)C4在待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)關(guān)閉時(shí)均處于斷開(kāi)狀態(tài)。在待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)關(guān)閉時(shí)處于閉合狀態(tài)時(shí),檢測(cè)裝置1與待測(cè)門(mén)鎖之間斷路,不對(duì)其進(jìn)行短接檢測(cè)。
在待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),第一開(kāi)關(guān)C1、第二開(kāi)關(guān)C2斷開(kāi),第三開(kāi)關(guān)C3、第四開(kāi)關(guān)C4閉合,檢測(cè)裝置與待測(cè)門(mén)鎖組成檢測(cè)回路;微處理器根據(jù)檢測(cè)到的電勢(shì)與參考電勢(shì)點(diǎn)Ref處的電勢(shì),判斷待測(cè)門(mén)鎖是否處于短接狀態(tài)。
相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言,可以對(duì)單個(gè)待測(cè)門(mén)鎖進(jìn)行狀態(tài)檢測(cè);在待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),第一開(kāi)關(guān)C1、第二開(kāi)關(guān)C2斷開(kāi),這樣,就將待測(cè)門(mén)鎖與所在支路斷開(kāi)連接,將待測(cè)門(mén)鎖從所在支路中截取出來(lái),同時(shí),第三開(kāi)關(guān)C3、第四開(kāi)關(guān)C4閉合,這樣,檢測(cè)裝置與待測(cè)門(mén)鎖就組成了檢測(cè)回路;微處理器根據(jù)檢測(cè)到的電勢(shì)與參考電勢(shì)點(diǎn)Ref處的電勢(shì),判斷待測(cè)門(mén)鎖是否處于短接狀態(tài)。這樣,可以獨(dú)立檢測(cè)每個(gè)電梯門(mén)鎖的狀態(tài),消除門(mén)鎖短接檢測(cè)待來(lái)的安全隱患,提高維修效率。
在本實(shí)施方式中,如圖3所示,第一開(kāi)關(guān)C1、第二開(kāi)關(guān)C2均為常閉觸點(diǎn);第三開(kāi)關(guān)C3、第四開(kāi)關(guān)C4均為常開(kāi)觸點(diǎn);檢測(cè)裝置還包括:繼電器;繼電器與微處理器連接;在待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),微處理器控制繼電器通電,繼電器通電后動(dòng)作,觸發(fā)常閉觸點(diǎn)斷開(kāi),常開(kāi)觸點(diǎn)閉合。通過(guò)繼電器與觸點(diǎn)配合的方式,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)裝置中的開(kāi)關(guān),可以有效地控制所有開(kāi)關(guān)同步動(dòng)作。
如圖3所示,檢測(cè)裝置1還包括二極管D;二極管D并聯(lián)在繼電器兩端。在繼電器失電時(shí),釋放繼電器的線圈上的殘余電勢(shì),這樣,可以保護(hù)繼電器線圈,避免線圈被反向電動(dòng)勢(shì)燒毀。
在本實(shí)施方式中,如圖4所示,參考電勢(shì)點(diǎn)Ref的電勢(shì)為零;檢測(cè)裝置還包括電壓上拉電路401;電壓上拉電路401連接于微處理器的管腳上,管腳與第三開(kāi)關(guān)C3連接;電壓上拉電路401用于在待測(cè)門(mén)鎖未被短接時(shí)輸出第一預(yù)設(shè)電壓,具體地,第一預(yù)設(shè)電壓可以為3.3~5伏特;微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)為零時(shí),微處理器判定待測(cè)門(mén)鎖處于短接狀態(tài);微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)值等于第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí),判定待測(cè)門(mén)鎖處于非短接狀態(tài)。其中,微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)可以是微處理器的管腳上的電勢(shì)。
具體地,上述的電壓上拉電路401包括一個(gè)電阻R,該電阻R連接在第三開(kāi)關(guān)C3與零電勢(shì)之間,電路簡(jiǎn)單,易于實(shí)現(xiàn)。
在實(shí)際應(yīng)用時(shí),檢測(cè)裝置可以封裝為檢測(cè)板,4個(gè)引腳PIN1、PIN2、PIN3與PIN4延伸至該檢測(cè)板的外部,該檢測(cè)板通過(guò)4個(gè)引腳與待測(cè)待門(mén)鎖連接,形成檢測(cè)回路。
本實(shí)用新型的第二實(shí)施方式涉及一種檢測(cè)裝置。第二實(shí)施方式與第一實(shí)施方式大致相同,主要區(qū)別之處在于:在第一實(shí)施方式中,參考電勢(shì)點(diǎn)Ref的電勢(shì)為零;檢測(cè)裝置還包括電壓上拉電路401,電壓上拉電路401用于在待測(cè)門(mén)鎖未被短接時(shí)輸出第一預(yù)設(shè)電壓。而在本實(shí)用新型第二實(shí)施方式中,參考電勢(shì)點(diǎn)Ref的電勢(shì)為第一預(yù)設(shè)值;檢測(cè)裝置還包括電壓下拉電路501;電壓下拉電路501用于在待測(cè)門(mén)鎖未被短接時(shí)輸出第二預(yù)設(shè)電壓;微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)值等于第二預(yù)設(shè)電壓值時(shí),判定待測(cè)門(mén)鎖處于非短接狀態(tài)。這樣,豐富了本實(shí)用新型的實(shí)施方式。
具體地,如圖5所示,電壓下拉電路501連接于微處理器的管腳上,管腳與第三開(kāi)關(guān)C3連接;電壓下拉電路501用于在待測(cè)門(mén)鎖未被短接時(shí)輸出第二預(yù)設(shè)電壓;微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)值為第一預(yù)設(shè)值時(shí),微處理器判定待測(cè)門(mén)鎖處于短接狀態(tài);微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)值等于第二預(yù)設(shè)電壓值時(shí),判定待測(cè)門(mén)鎖處于非短接狀態(tài)。其中,第一預(yù)設(shè)值可以為3.3~24伏特,第二預(yù)設(shè)電壓為零。
本實(shí)用新型第三實(shí)施方式涉及一種檢測(cè)裝置,如圖6所示,本實(shí)施方式中的檢測(cè)裝置1可以同時(shí)對(duì)2個(gè)待測(cè)門(mén)鎖進(jìn)行狀態(tài)檢測(cè)。該檢測(cè)裝置1包括:微處理器、第一開(kāi)關(guān)C1、第二開(kāi)關(guān)C2、第三開(kāi)關(guān)C3、第四開(kāi)關(guān)C4、第五開(kāi)關(guān)C5、第一引腳PIN1、第二引腳PIN2、第三引腳PIN3、第四引腳PIN4與第五引腳PIN5。
具體地,第一引腳PIN1、第二引腳PIN2、第三引腳PIN3、第四引腳PIN4與第五引腳PIN5連接于第一待測(cè)門(mén)鎖M1與第二待測(cè)門(mén)鎖M2所在的支路,第一待測(cè)門(mén)鎖M1與第二待測(cè)門(mén)鎖M2串聯(lián)在支路中;第一引腳PIN1、第二引腳PIN2位于第一待測(cè)門(mén)鎖M1的第一側(cè);第一待測(cè)門(mén)鎖M1的第二側(cè)為第二待測(cè)門(mén)鎖M2側(cè);第三引腳PIN3連接于第一待測(cè)門(mén)鎖M1與第二待測(cè)門(mén)鎖M2之間的節(jié)點(diǎn);第四引腳PIN4、第五引腳PIN5位于第二待測(cè)門(mén)鎖M2的第一側(cè);第二待測(cè)門(mén)鎖M2的第二側(cè)為第一待測(cè)門(mén)鎖M1側(cè)。
第一引腳PIN1、第二引腳PIN2之間串聯(lián)第一開(kāi)關(guān)C1;第三引腳PIN3經(jīng)第五開(kāi)關(guān)C5連接至參考電勢(shì)點(diǎn)Ref;第五引腳PIN5與第二待測(cè)門(mén)鎖M2連接,且第五引腳PIN5與第四引腳PIN4之間還串聯(lián)第二開(kāi)關(guān)C2;在第一門(mén)與第二門(mén)均關(guān)閉時(shí),第一開(kāi)關(guān)C1與第二開(kāi)關(guān)C2處于閉合狀態(tài);第一門(mén)為第一待測(cè)門(mén)鎖M1所對(duì)應(yīng)的門(mén),第二門(mén)為第二待測(cè)門(mén)鎖M2所對(duì)應(yīng)的門(mén);第二引腳PIN2經(jīng)第三開(kāi)關(guān)C3連接至微處理器;第五引腳PIN5經(jīng)第四開(kāi)關(guān)C4連接至微處理器;在第一門(mén)與第二門(mén)均關(guān)閉時(shí),第三開(kāi)關(guān)C3與第四開(kāi)關(guān)C4均處于斷開(kāi)狀態(tài)。
在第一門(mén)與第二門(mén)均處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),第一開(kāi)關(guān)C1、第二開(kāi)關(guān)C2斷開(kāi),第三開(kāi)關(guān)C3、第四開(kāi)關(guān)C4閉合,檢測(cè)裝置與第一待測(cè)門(mén)鎖M1組成第一檢測(cè)回路;檢測(cè)裝置與第二待測(cè)門(mén)鎖M2組成第二檢測(cè)回路;微處理器根據(jù)檢測(cè)到的第一電勢(shì)與參考電勢(shì)點(diǎn)Ref處的電勢(shì),判斷第一待測(cè)門(mén)鎖M1是否處于短接狀態(tài);第一電勢(shì)為第一待測(cè)門(mén)鎖M1的第一側(cè)的電勢(shì),具體地,第一電勢(shì)可以是微處理器與第三開(kāi)關(guān)C3的節(jié)點(diǎn)處的電勢(shì);微處理器根據(jù)檢測(cè)到的第二電勢(shì)與參考電勢(shì)點(diǎn)Ref處的電勢(shì),判斷第二待測(cè)門(mén)鎖M2是否處于短接狀態(tài);第二電勢(shì)為第二待測(cè)門(mén)鎖M2的第一側(cè)的電勢(shì),具體地,第二電勢(shì)可以是微處理器與第四開(kāi)關(guān)C4的節(jié)點(diǎn)處的電勢(shì)。
相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)而言,可以對(duì)2個(gè)待測(cè)門(mén)鎖同時(shí)進(jìn)行狀態(tài)檢測(cè);在待測(cè)門(mén)鎖所對(duì)應(yīng)的門(mén)處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),第一開(kāi)關(guān)C1、第二開(kāi)關(guān)C2斷開(kāi),這樣,就將待測(cè)門(mén)鎖與所在支路斷開(kāi)連接,將待測(cè)門(mén)鎖從所在支路中截取出來(lái),同時(shí),第三開(kāi)關(guān)C3、第四開(kāi)關(guān)C4閉合,這樣,檢測(cè)裝置與第一待測(cè)門(mén)鎖就組成了第一檢測(cè)回路,檢測(cè)裝置與第二待測(cè)門(mén)鎖就組成了第二檢測(cè)回路;微處理器根據(jù)檢測(cè)到的第一電勢(shì)與參考電勢(shì)點(diǎn)Ref處的電勢(shì),判斷第一待測(cè)門(mén)鎖是否處于短接狀態(tài),微處理器根據(jù)檢測(cè)到的第二電勢(shì)與參考電勢(shì)點(diǎn)Ref處的電勢(shì),判斷第二待測(cè)門(mén)鎖是否處于短接狀態(tài)。這樣,可以獨(dú)立檢測(cè)每個(gè)電梯門(mén)鎖的狀態(tài),消除門(mén)鎖短接檢測(cè)待來(lái)的安全隱患,提高維修效率。
在本實(shí)施方式中,如圖7所示,第一開(kāi)關(guān)C1、第二開(kāi)關(guān)C2均為常閉觸點(diǎn);第三開(kāi)關(guān)C3、第四開(kāi)關(guān)C4、第五開(kāi)關(guān)C5均為常開(kāi)觸點(diǎn);檢測(cè)裝置還包括:繼電器;繼電器與微處理器連接;在第一門(mén)與第二門(mén)均處于開(kāi)門(mén)狀態(tài)時(shí),微處理器控制繼電器通電,繼電器通電后動(dòng)作,觸發(fā)常閉觸點(diǎn)斷開(kāi),常開(kāi)觸點(diǎn)閉合。通過(guò)繼電器與觸點(diǎn)配合的方式,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)裝置中的開(kāi)關(guān),可以有效地控制所有開(kāi)關(guān)同步動(dòng)作。
如圖7所示,檢測(cè)裝置1還包括二極管D;二極管D并聯(lián)在繼電器兩端。在繼電器失電時(shí),釋放繼電器的線圈上的殘余電勢(shì),這樣,可以保護(hù)繼電器線圈,避免線圈被反向電動(dòng)勢(shì)燒毀。
本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解,上述各實(shí)施方式是實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的具體實(shí)施例,而在實(shí)際應(yīng)用中,可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作各種改變,而不偏離本實(shí)用新型的精神和范圍。