1.一種檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：微處理器、第一開關(guān)、第二開關(guān)、第三開關(guān)、第四開關(guān)、第一引腳、第二引腳、第三引腳與第四引腳；
所述第一引腳、所述第二引腳連接于待測(cè)門鎖所在的支路，且位于所述待測(cè)門鎖的第一側(cè)；所述第三引腳、所述第四引腳連接于所述待測(cè)門鎖所在的支路，且位于所述待測(cè)門鎖的第二側(cè)；所述第二引腳、所述第三引腳均位于所述待測(cè)門鎖側(cè)；
所述第一引腳、所述第二引腳之間串聯(lián)所述第一開關(guān)；所述第三引腳、所述第四引腳之間串聯(lián)所述第二開關(guān)；所述第一開關(guān)與所述第二開關(guān)在所述待測(cè)門鎖所對(duì)應(yīng)的門關(guān)閉時(shí)處于閉合狀態(tài)；
所述第二引腳經(jīng)所述第三開關(guān)連接至所述微處理器；所述第三引腳經(jīng)所述第四開關(guān)連接至參考電勢(shì)點(diǎn)；所述第三開關(guān)與所述第四開關(guān)在所述待測(cè)門鎖所對(duì)應(yīng)的門關(guān)閉時(shí)均處于斷開狀態(tài)；
在所述待測(cè)門鎖所對(duì)應(yīng)的門處于開門狀態(tài)時(shí)，所述第一開關(guān)、所述第二開關(guān)斷開，所述第三開關(guān)、所述第四開關(guān)閉合，所述檢測(cè)裝置與所述待測(cè)門鎖組成檢測(cè)回路；所述微處理器根據(jù)檢測(cè)到的電勢(shì)與所述參考電勢(shì)點(diǎn)處的電勢(shì)，判斷所述待測(cè)門鎖是否處于短接狀態(tài)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一開關(guān)、所述第二開關(guān)均為常閉觸點(diǎn)；所述第三開關(guān)、所述第四開關(guān)均為常開觸點(diǎn)；
所述檢測(cè)裝置還包括：繼電器；所述繼電器與所述微處理器連接；
在所述待測(cè)門鎖所對(duì)應(yīng)的門處于開門狀態(tài)時(shí)，所述微處理器控制所述繼電器通電，所述繼電器通電后動(dòng)作，觸發(fā)所述常閉觸點(diǎn)斷開，所述常開觸點(diǎn)閉合。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括二極管；所述二極管并聯(lián)在所述繼電器兩端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述參考電勢(shì)點(diǎn)的電勢(shì)為零；
所述檢測(cè)裝置還包括電壓上拉電路；所述電壓上拉電路連接于所述微處理器的管腳上，所述管腳與所述第三開關(guān)連接；所述電壓上拉電路用于在所述待測(cè)門鎖未被短接時(shí)輸出第一預(yù)設(shè)電壓；
所述微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)為零時(shí)，所述微處理器判定所述待測(cè)門鎖處于短接狀態(tài)；
所述微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)值等于所述第一預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，判定所述待測(cè)門鎖處于非短接狀態(tài)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，第一預(yù)設(shè)電壓為3.3～5伏特。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述參考電勢(shì)點(diǎn)的電勢(shì)為第一預(yù)設(shè)值；
所述檢測(cè)裝置還包括電壓下拉電路；所述電壓下拉電路連接于所述微處理器的管腳上，所述管腳與所述第三開關(guān)連接；所述電壓下拉電路用于在所述待測(cè)門鎖未被短接時(shí)輸出第二預(yù)設(shè)電壓；
所述微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)值為所述第一預(yù)設(shè)值時(shí)，所述微處理器判定所述待測(cè)門鎖處于短接狀態(tài)；
所述微處理器檢測(cè)到的電勢(shì)值等于所述第二預(yù)設(shè)電壓值時(shí)，判定所述待測(cè)門鎖處于非短接狀態(tài)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一預(yù)設(shè)值為3.3～24伏特；
所述第二預(yù)設(shè)電壓為零。
8.一種檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：微處理器、第一開關(guān)、第二開關(guān)、第三開關(guān)、第四開關(guān)、第五開關(guān)、第一引腳、第二引腳、第三引腳、第四引腳與第五引腳；
所述第一引腳、所述第二引腳、所述第三引腳、所述第四引腳與所述第五引腳連接于第一待測(cè)門鎖與第二待測(cè)門鎖所在的支路，所述第一待測(cè)門鎖與所述第二待測(cè)門鎖串聯(lián)在所述支路中；
所述第一引腳、所述第二引腳位于所述第一待測(cè)門鎖的第一側(cè)；所述第一待測(cè)門鎖的第二側(cè)為第二待測(cè)門鎖側(cè)；所述第三引腳連接于所述第一待測(cè)門鎖與所述第二待測(cè)門鎖之間的節(jié)點(diǎn)；所述第四引腳、所述第五引腳位于所述第二待測(cè)門鎖的第一側(cè)；所述第二待測(cè)門鎖的第二側(cè)為第一待測(cè)門鎖側(cè)；
所述第一引腳、所述第二引腳之間串聯(lián)所述第一開關(guān)；所述第三引腳經(jīng)所述第五開關(guān)連接至參考電勢(shì)點(diǎn)；所述第五引腳與所述第二待測(cè)門鎖連接，且所述第五引腳與所述第四引腳之間還串聯(lián)所述第二開關(guān)；在第一門與第二門均關(guān)閉時(shí)，所述第一開關(guān)與所述第二開關(guān)處于閉合狀態(tài)；所述第一門為所述第一待測(cè)門鎖所對(duì)應(yīng)的門，所述第二門為所述第二待測(cè)門鎖所對(duì)應(yīng)的門；
所述第二引腳經(jīng)所述第三開關(guān)連接至所述微處理器；所述第五引腳經(jīng)所述第四開關(guān)連接至所述微處理器；在所述第一門與所述第二門均關(guān)閉時(shí)，所述第三開關(guān)與所述第四開關(guān)均處于斷開狀態(tài)；
在所述第一門與所述第二門均處于開門狀態(tài)時(shí)，所述第一開關(guān)、所述第二開關(guān)斷開，所述第三開關(guān)、所述第四開關(guān)閉合，所述檢測(cè)裝置與所述第一待測(cè)門鎖組成第一檢測(cè)回路；所述檢測(cè)裝置與所述第二待測(cè)門鎖組成第二檢測(cè)回路；
所述微處理器根據(jù)檢測(cè)到的第一電勢(shì)與所述參考電勢(shì)點(diǎn)處的電勢(shì)，判斷所述第一待測(cè)門鎖是否處于短接狀態(tài)；所述第一電勢(shì)為所述第一待測(cè)門鎖的第一側(cè)的電勢(shì)；
所述微處理器根據(jù)檢測(cè)到的第二電勢(shì)與所述參考電勢(shì)點(diǎn)處的電勢(shì)，判斷所述第二待測(cè)門鎖是否處于短接狀態(tài)；所述第二電勢(shì)為所述第二待測(cè)門鎖的第一側(cè)的電勢(shì)。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一開關(guān)、所述第二開關(guān)均為常閉觸點(diǎn)；所述第三開關(guān)、所述第四開關(guān)、所述第五開關(guān)均為常開觸點(diǎn)；
所述檢測(cè)裝置還包括：繼電器；所述繼電器與所述微處理器連接；
在所述第一門與所述第二門均處于開門狀態(tài)時(shí)，所述微處理器控制所述繼電器通電，所述繼電器通電后動(dòng)作，觸發(fā)所述常閉觸點(diǎn)斷開，所述常開觸點(diǎn)閉合。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括二極管；所述二極管并聯(lián)在所述繼電器兩端。