一種噴涂表面缺陷檢測機的制作方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種噴涂表面缺陷檢測機。
【背景技術】
[0002]目前手機行業(yè)有很大部分手機殼都需要做表面噴涂處理，以達到想要的表面效果，但是噴涂過程中有很多不確定因素都會造成表面噴涂效果不良，不良品目前沒有什么非常有效的檢測設備，基本上都是由作業(yè)員在燈光和放大鏡下目測出來的，同時人工檢測穩(wěn)定性不高，經常出現(xiàn)漏檢，并且一些細微的斑點很難辨別出來，檢測時間長了容易導致作業(yè)員疲勞，甚至對作業(yè)員視力造成不良影響。

【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明的主要目的在于針對現(xiàn)有技術的不足，提供一種高效、精準且高度自動化的噴涂表面缺陷檢測機。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術方案:
[0005]一種噴涂表面缺陷檢測機，包括入料口、出料口、送料機構以及設置在所述入料口與所述出料口之間的第一 CCD(Charge-coupled Device，電荷親合元件)檢測模塊和第二CCD檢測模塊，其中所述第一 CCD檢測模塊相對于所述第二 CCD檢測模塊靠近所述入料口設置，所述第一 CCD檢測模塊用于對產品的表面缺陷進行CCD粗檢，并將經檢測具有預定的較大表面缺陷的不良產品剔除，所述第二 CCD檢測模塊用于對產品的表面缺陷進行CCD微檢，并將經檢測具有預定的較小表面缺陷的不良產品剔除。
[0006]進一步地:
[0007]所述第一 CXD檢測模塊包括第一輸送皮帶、第一輸送皮帶傳感器、第一支架、第一CCD檢測單元、同軸光源和第一不良品剔除機構，所述第一輸送皮帶傳感器用于在檢測到待檢產品到達時觸發(fā)所述第一輸送皮帶啟動，所述第一 CCD檢測單元和所述同軸光源設置在所述調節(jié)支架上，所述同軸光源位于所述第一輸送皮帶上方，所述第一 CCD檢測單元位于所述同軸光源上方，所述第一不良品剔除機構設置在所述第一 CCD檢測單元的檢測位置的前方，用于將所述第一 CCD檢測單元檢測到的不良產品剔除。
[0008]所述第二 CXD檢測模塊包括第二輸送皮帶、第二輸送皮帶傳感器、第二 CXD檢測單元、明暗柵格光源、光源移動機構、光源調節(jié)支架和第二不良品剔除機構，所述第二輸送皮帶傳感器用于在檢測到待檢產品達到時觸發(fā)所述第二輸送皮帶暫停運行，所述光源移動機構設置在光源調節(jié)支架上，所述明暗柵格光源設置在所述光源移動機構上并位于所述第二輸送皮帶上方，所述明暗柵格光源能夠在所述光源移動機構的帶動下移動，所述第二 CCD檢測單元用于在所述明暗柵格光源處在不同位置時拍攝待檢產品的多幅圖像，并經圖像合成后檢測其是否為不良產品，拍攝完畢后觸發(fā)所述第二輸送皮帶重新啟動，所述第二不良品剔除機構設置在所述第二 CCD檢測單元的檢測位置的前方，用于將所述第二 CCD檢測單元檢測到的不良產品剔除。
[0009]所述光源移動機構包括同步帶傳動結構、伺服電機、支撐板、光源移動導軌、滑塊和光源固定支架，所述明暗柵格光源固定在所述光源固定支架上，所述光源固定支架通過所述滑塊以可滑動的方式安裝在所述光源移動導軌上，所述伺服電機耦合并驅動所述同步帶傳動結構，所述同步帶傳動結構耦合并驅動所述光源固定支架沿所述光源移動導軌移動，所述光源移動導軌和所述同步帶傳動結構固定在所述支撐板上，所述支撐板固定在所述光源調節(jié)支架上。
[0010]所述光源移動機構還包括一對光源角度調節(jié)盤，所述支撐板通過所述光源角度調節(jié)盤安裝到所述光源調節(jié)支架上，且通過所述光源角度調節(jié)盤能夠調節(jié)所述支撐板相對于水平面的傾角。
[0011]所述明暗柵格光源包括平面光源和平行設置在所述平面光源下方的明暗柵格板。
[0012]所述光源移動導軌沿著平行于所述第二輸送皮帶的方向設置。
[0013]還包括與所述第一不良品剔除機構相對應設置的不良品導槽，所述不良品導槽的尾端設置有不良品收納盒。
[0014]所述第二 CCD檢測單元拍攝待檢產品的多幅圖像時，所述光源固定支架在所述光源移動導軌上保持勻速運動，取像時間跨度為至少移動3格明暗區(qū)域。
[0015]所述第二 CCD檢測單元通過將多幅圖像合成的圖像與預定的正常產品表面圖像的像素色差進行對比，來判別出良品與不良品。
[0016]本發(fā)明的有益效果:
[0017]本發(fā)明能夠高效地檢測出電子產品如手機的外殼噴涂后表面的各種外觀缺陷，如顆粒、劃傷、細微斑點、色差等，快速準確地分離出良品與不良品，尤其具有以下優(yōu)點:
[0018]1.粗檢和微檢分開進行，節(jié)省了時間，提高了效率。
[0019]2.由于粗檢之后有微檢過程，可以確保對非常細微的缺陷進行檢測，防止漏檢。
[0020]3.大大減輕操作人員的勞動強度。
[0021 ] 4.實現(xiàn)自動在線檢測，可配合全自動生產線上段工藝與下段工藝，無需人工參與，自動化程度高。
【附圖說明】
[0022]圖1是本發(fā)明實施例的噴涂表面缺陷檢測機的外觀立體圖；
[0023]圖2是圖1所不嗔涂表面缺陷檢測機內部視圖；
[0024]圖3是本發(fā)明實施例的噴涂表面缺陷檢測機的俯視圖；
[0025]圖4是本發(fā)明實施例中的第一 CXD檢測模塊的立體示意圖；
[0026]圖5是本發(fā)明實施例中的第二 CXD檢測模塊的立體示意圖；
[0027]圖6是本發(fā)明實施例中的光源移動機構的立體示意圖；
[0028]圖7是本發(fā)明實施例中的第二CCD檢測模塊的成像示意圖；
[0029]圖8是本發(fā)明實施例的噴涂表面缺陷檢測機工作流程圖。
【具體實施方式】
[0030]以下對本發(fā)明的實施方式作詳細說明。應該強調的是，下述說明僅僅是示例性的，而不是為了限制本發(fā)明的范圍及其應用。
[0031]參閱圖1至圖7，在一種實施例中，一種噴涂表面缺陷檢測機，包括入料口 1、出料口 2、送料機構以及設置在所述入料口 I與所述出料口 2之間的第一 CXD檢測模塊3和第二 CCD檢測模塊4，其中所述第一 CCD檢測模塊3相對于所述第二 CCD檢測模塊4靠近所述入料口 I設置，所述第一 CXD檢測模塊3用于對產品25的表面缺陷進行CXD粗檢，并將經檢測具有預定的較大表面缺陷的不良產品剔除，所述第二 CCD檢測模塊4用于對產品25的表面缺陷進行CCD微檢，并將經檢測具有預定的較小表面缺陷的不良產品剔除。通過采用2個CXD檢測模塊，第一 CXD檢測模塊3對一些比較大的缺陷進行檢測，第二 CXD檢測模塊4針對非常細微的缺陷進行檢測，既能保證不對產品的細微缺陷漏檢，又能夠顯著提高整體的檢測效率。噴涂表面缺陷檢測機的工作流程如圖8所示。
[0032]在優(yōu)選的實施例中，所述第一 CXD檢測模塊3包括第一輸送皮帶5、第一輸送皮帶傳感器(未圖示)、第一支架6、第一 CCD檢測單元7、同軸光源8和第一不良品剔除機構9，所述第一輸送皮帶傳感器用于在檢測到待檢產品到達時觸發(fā)所述第一輸送皮帶5啟動，所述第一 CCD檢測單元7和所述同軸光源8設置在所述調節(jié)支架上，所述同軸光源8位于所述第一輸送皮帶5上方，所述第一 CCD檢測單元7位于所述同軸光源8上方，所述第一不良品剔除機構9設置在所述第一 CCD檢測單元7的檢測位置的前方，用于將所述第一 CCD檢測單元7檢測到的不良產品剔除。第一支架6優(yōu)選為可調節(jié)第一 CCD檢測單元7和同軸光源8的位置的可調支架。
[0033]工作時，產品經過同軸光源8下方時，同軸光源8上方的第一 CXD檢測單元7對其掃描取像，對于比較明顯的缺陷可很快直接判別出來，如0.5秒左右就可完成，然后通過不良品剔除機構將不良品直接剔除，良品直接流入第二 CCD檢測模塊4。
[0034]在優(yōu)選的實施例中，所述第二 CXD檢測模塊4包括第二輸送皮帶10、第二輸送皮帶傳感器(未圖示)、第二 CCD檢測單元11、明暗柵格光源12、光源移動機構13、光源調節(jié)支架14和第二不良品剔除機構15，所述第二輸送皮帶傳感器用于在檢測到待檢產品25達到時觸發(fā)所述第二輸送皮帶10暫停運行，所述光源移動機構13設置在光源調節(jié)支架14上，所述明暗柵格