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一種MEMS芯片及電子設備的制作方法

文檔序號:40603884發(fā)布日期:2025-01-07 20:44閱讀:來源:國知局

技術特征:

1.一種mems芯片,其特征在于,包括:層疊設置的基底(100)、振膜(200)和背極板(500);

2.根據(jù)權利要求1所述的mems芯片,其特征在于,在所述基底(100)的厚度方向上,所述導電層(502)的投影面積小于所述第一絕緣層(501)的投影面積。

3.根據(jù)權利要求2所述的mems芯片,其特征在于,所述第二絕緣層(503)包覆多個所述第一通孔(5012)的側壁。

4.根據(jù)權利要求3所述的mems芯片,其特征在于,在所述基底(100)的厚度方向上,所述第二絕緣層(503)的靠近所述振膜(200)的一側與所述第一絕緣層(501)的靠近所述振膜(200)的一側持平。

5.根據(jù)權利要求3所述的mems芯片,其特征在于,所述背極板(500)還包括第一防粘結構(5031),在所述基底(100)的厚度方向上,所述第一防粘結構(5031)凸設于所述第一絕緣層(501)朝向所述振膜(200)的一側表面;

6.根據(jù)權利要求4所述的mems芯片,其特征在于,所述氣孔(504)包括變徑孔段,從所述導電層(502)指向所述第一絕緣層(501)的方向上,所述變徑孔段的孔徑變小。

7.根據(jù)權利要求2所述的mems芯片,其特征在于,所述第二絕緣層(503)的邊沿截止于多個所述第一通孔(5012)的側壁。

8.根據(jù)權利要求7所述的mems芯片,其特征在于,所述氣孔(504)包括變徑孔段,從所述導電層(502)指向所述第一絕緣層(501)的方向上,所述變徑孔段的孔徑變小。

9.根據(jù)權利要求1-8中任一所述的mems芯片,其特征在于,所述背極板(500)還包括第二防粘結構(5011),在所述基底(100)的厚度方向上,所述第二防粘結構(5011)凸設于所述第一絕緣層(501)朝向所述振膜(200)的一側;

10.根據(jù)權利要求1-8中任一所述的mems芯片,其特征在于,所述導電層(502)的邊界線沿多個所述第一通孔(5012)的邊緣布置。

11.根據(jù)權利要求1-8任一所述的mems芯片,其特征在于,所述振膜(200)與所述基底(100)之間設置有第一犧牲層(300),所述第一犧牲層(300)包括在其厚度上貫通的第一空腔(301),所述振膜(200)與所述背極板(500)之間設置有第二犧牲層(400),所述第二犧牲層(400)包括在其厚度上貫通的第二空腔(401);

12.根據(jù)權利要求11所述的mems芯片,其特征在于,在從所述背極板(500)指向所述振膜(200)的方向上,所述第二空腔(401)的內徑逐漸變寬。

13.一種mems芯片,其特征在于,包括:層疊設置的基底(100)、振膜(200)和背極板(500);

14.根據(jù)權利要求13所述的mems芯片,其特征在于,所述背極板(500)還包括第二防粘結構(5011),在所述基底(100)的厚度方向上,所述第二防粘結構(5011)凸設于所述第一絕緣層(501)朝向所述振膜(200)的一側;

15.根據(jù)權利要求13所述的mems芯片,其特征在于,在所述基底(100)的厚度方向上,所述導電層(502)的投影面積小于所述第一絕緣層(501)的投影面積。

16.根據(jù)權利要求15所述的mems芯片,其特征在于,所述導電層(502)的邊界線沿多個所述第一通孔(5012)的邊緣布置。

17.根據(jù)權利要求13所述的mems芯片,其特征在于,所述振膜(200)與所述基底(100)之間設置有第一犧牲層(300),所述第一犧牲層(300)包括在其厚度上貫通的第一空腔(301),所述振膜(200)與所述背極板(500)之間設置有第二犧牲層(400),所述第二犧牲層(400)包括在其厚度上貫通的第二空腔(401);

18.根據(jù)權利要求17所述的mems芯片,其特征在于,在從所述背極板(500)指向所述振膜(200)的方向上,所述第二空腔(401)的內徑逐漸變寬。

19.一種電子設備,其特征在于,包括如權利要求1-18中任一所述的mems芯片。


技術總結
本技術的實施例公開了一種MEMS芯片及電子設備,其中MEMS芯片包括:層疊設置的基底、振膜和背極板。背極板包括第一絕緣層、第二絕緣層和與第一絕緣層固定連接的導電層,第一絕緣層包括在其厚度方向上貫通的多個第一通孔,導電層包括在其厚度方向上貫通的多個第二通孔,在導電層所在的區(qū)域內,第一通孔和第二通孔一一對應并相連通,第一通孔的孔徑小于第二通孔的孔徑,第二絕緣層包覆導電層的表面以及多個第二通孔的側壁,以與第一通孔和第二通孔共同構造為背極板的氣孔。本申請通過第二絕緣層包覆導電層的表面以及多個第二通孔的側壁,有效地降低了因導電層裸露而引發(fā)的MEMS芯片失效的風險。

技術研發(fā)人員:孟燕子,康森先
受保護的技術使用者:蘇州敏芯微電子技術股份有限公司
技術研發(fā)日:20240516
技術公布日:2025/1/6
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