1.一種用于物體(14)的幾何測量的裝置，具有：
-一個基座(11)及配置在基座(11)上的用于該物體(14)的支座設備(12)，
-至少一個基準物體(18,20)，其可相對于該基座(11)而固定，
-至少一個間距測量設備(70)，借助于該間距測量設備(70)可測定該基準物體(18，20)和該物體(14)的面向該基準物體(18，20)的表面(14a，14b)之間的間距，以及
-一個物體支架(100)，其具有上側(104)和下側(106)，物體(14)可固定在該物體支架(100)上，其中該物體支架(100)可選擇性地以第一方位取向(1)和第二方位取向(2)配置在該支座設備(12)上，
-其中該間距測量設備(70)和該物體支架(100)相對于彼此移動，以掃描該物體(14)的表面(14a,14b),并且其中該物體支架(100)在其上側(104)以及在其下側(106)分別具有一個對應于該物體支架(100)和該間距測量設備(70)的相對運動的基準結構(108，110)。
2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其中在該物體(14)的容納區(qū)(124)的外部，該物體支架(100)在其上側(104)具有一個上方基準結構(108)，并在其下側(106)具有一個下方基準結構(110)。
3.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其中該上方基準結構(108)可與該物體(14)設置在該物體支架(100)上側(104)的表面(14a)一起掃描，且該下方基準結構(110)可與該物體(14)設置在該物體支架(100)下側(106)的表面(14b)一起掃描。
4.根據(jù)前述權利要求中的任一項所述的裝置，還另具有一個控制設備(60)，借助于該控制設備(60)，物體(14)在該物體支架(100)的上側(104)和下側(106)相對反向設置且借助該間距測量設備(70)掃描的表面(14a,14b)可借助于與物體表面(14a,14b)一起掃描的上方和下方基準結構(108，110)來互相配屬。
5.根據(jù)前述權利要求中的任一項所述的裝置，其中該物體支架(100)在其上側(104)和在其下側(106)之間具有一個由外部接近的外部基準結構(112)。
6.根據(jù)前述權利要求中的任一項所述的裝置，其中該間距測量設備(70)相對于該基準物體(18，20)和該支座設備(12)中的至少一個而在平面(x,z)中移動。
7.根據(jù)前述權利要求中的任一項所述的裝置，其中該物體支架(100)可旋轉地安置在該支座設備上(12)上。
8.根據(jù)前述權利要求中的任一項所述的裝置，其中該物體支架(100)可線性平移地安置在該支座設備上(12)上。
9.根據(jù)前述權利要求中的任一項所述的裝置，其中該間距測量設備(70)具有一個可相對于該基準物體(18，20)而移動的支架(26)，支架上配置有一個基準物件(28)、一個第一間距傳感器(34)以及一個第二間距傳感器(36)，其中所述第一和第二間距傳感器(34，36)可相對于該基準物件(28)旋轉地安置。
10.根據(jù)權利要求9所述的裝置，其中至少一個構成為間距傳感器的基準傳感器(46，48)配置在該支架(26)上，借助于該基準傳感器(46，48)可測定該支架(26)相對于該基準物體(18，20)的間距(46，48)和/或方位取向。
11.一種用于物體(14)的幾何測量的方法，借助于前述權利要求任一項所述的裝置進行，該方法具有以下步驟：
-將設有待測量的物體(14)的物體支架(100)以第一方位取向(1)配置在支座設備(12)上，
-借助于間距測量設備(70)來掃描該物體(14)的第一表面(14a)和該物體支架(100)的上方基準結構(108)，且產(chǎn)生第一表面圖像(4)，
-將該物體支架(100)以第二方位取向(2)配置在該支座設備(12)上，
-借助于該間距測量設備(70)來掃描該物體(14)的第二表面(14b)和該物體支架(100)的下方基準結構(110)，且產(chǎn)生第二表面圖像(5)，
-依據(jù)上方和下方基準結構(108，110)來配屬第一和第二表面圖像(4，5)。
12.根據(jù)權利要求11所述的方法，其中對第一和第二表面(14a,14b)之一以及分別所屬的基準結構(108，110)的掃描在時間上依次通過間距測量設備(70)來進行。
13.根據(jù)前述權利要求11或12所述的方法，其中所述上方和下方基準結構(108，110)中的至少一個或該物體(14)的表面(14a,14b)中的至少一個與該物體支架(100)的外部基準結構(112)一起掃描。
14.根據(jù)前述權利要求11至13之一所述的方法，其中所述基準結構(108，110，112)中的至少一個以及該物體(14)的表面(14a,14b)中的至少一個的掃描通過相同的間距測量設備(70)來進行。
15.根據(jù)前述權利要求10至14之一所述的方法，其中由第一和第二表面圖像(4，5)的相互間的配屬至少可測得該物體(14)的厚度和/或該物體(14)的楔形誤差。
16.一種用于物體(14)的幾何測量的計算機程序，借助于根據(jù)前述權利要求1至10之一所述的裝置進行，該計算機程序具有：
-用于對該物體(14)的第一表面(14a)和以第一方位取向(1)配置在該支座設備(12)的物體支架(100)的上方基準結構(108)進行掃描并且用于產(chǎn)生該物體(14)的第一表面圖像(4)的程序工具，
-用于對該物體(14)的第二表面(14b)和以第二方位取向(2)配置在該支座設備(12)的物體支架(100)的下方基準結構(110)進行掃描并且用于產(chǎn)生該物體(14)的第二表面圖像(5)的程序工具，以及
-依據(jù)上方和下方基準結構(108，110)對第一和第二表面圖像(4，5)進行配屬用的程序工具。