本發(fā)明涉及電子產(chǎn)品測試技術(shù)，具體為一種電子產(chǎn)品重大缺陷快速激發(fā)方法。

背景技術(shù)：

電子產(chǎn)品要進行全面的產(chǎn)品壽命及可靠性測試，需要綜合考慮環(huán)境溫度高低、溫度變化快慢、振動強弱等各種因素，只有全面考慮上述各種因素，才能在產(chǎn)品進行測試時將其重大缺陷進行快速激發(fā)。目前的測試方法并不能符合上述要求，一般都是對各個因素分別進行測試，難以將各個因素綜合后對產(chǎn)品進行全面測試。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

針對以上技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種電子產(chǎn)品重大缺陷快速激發(fā)方法，其可以綜合各種因素對產(chǎn)品的可靠性進行測試，測試結(jié)果準確，能夠盡快激發(fā)產(chǎn)品可能存在的隱患和尋找產(chǎn)品極限應(yīng)力，健壯產(chǎn)品設(shè)計。

本發(fā)明為解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：

一種電子產(chǎn)品重大缺陷快速激發(fā)方法，包括：

步驟一，對電子產(chǎn)品進行溫度步進試驗，獲取低溫工作極限、低溫破壞極限、高溫工作極限以及高溫破壞極限；

步驟二，取不超過步驟一所得到的高溫破壞極限和低溫破壞極限的80％作為高低溫端點值，對電子產(chǎn)品進行快速溫度變換試驗，獲取溫度變化率極限；

步驟三，對電子產(chǎn)品進行振動步進試驗，獲取振動應(yīng)力工作極限；

步驟四，采用步驟二所獲取的溫度變化率極限及相應(yīng)的溫度變換循環(huán)條件作為溫度試驗條件，將步驟三所獲取的振動應(yīng)力工作極限分為若干等份，按每個循環(huán)遞增一份的方式對電子產(chǎn)品進行綜合環(huán)境試驗測試，直至達到電子產(chǎn)品的可工作界限及破壞界限為止。

作為優(yōu)選的實施方式，步驟一中測試起始溫度為環(huán)境溫度+20℃～+30℃，每步階穩(wěn)定溫度時執(zhí)行至少一次的通斷電啟動及拉載測試，若產(chǎn)品測試正常則以10℃的幅度進行溫度變化，以此類推直至發(fā)生功能故障，將溫度恢復(fù)至常溫并穩(wěn)定后，再執(zhí)行上電啟動及拉載測試，觀察其功能是否恢復(fù)，以判斷是否達到工作極限或破壞極限，如功能正?；謴?fù)，則將故障前的溫度值記錄為工作極限，同時再將溫度繼續(xù)變化至發(fā)現(xiàn)當恢復(fù)常溫仍然無法使功能自動恢復(fù)的溫度值，則此溫度值為破壞極限。

作為優(yōu)選的實施方式，步驟二中取不超過步驟一所得到的高溫破壞極限和低溫破壞極限的80％作為高低溫端點值，以每分鐘60℃的快速溫度變化率在此高低溫端點值之間的區(qū)間內(nèi)進行不少于5個高低溫變化循環(huán)，在每個循環(huán)的最高溫度及最低溫度都停留10min，確保溫度穩(wěn)定后再執(zhí)行通斷電試驗及拉載測試，如發(fā)生可恢復(fù)性故障，則將溫度變化率減少10℃/min再執(zhí)行溫度循環(huán)，直到5個循環(huán)皆無可恢復(fù)性故障，則此溫度變化率即為溫度變化率極限。

作為優(yōu)選的實施方式，步驟三中振動應(yīng)力的初始應(yīng)力為5Grms，步進步長為5Grms，每一階段所維持的時間最少為10分鐘，并同時在每階段的停留時間進行功能或性能測試，以此類推持續(xù)執(zhí)行振動步進試驗直到產(chǎn)品的振動應(yīng)力工作極限被確定。

作為優(yōu)選的實施方式，步驟三中每一階段結(jié)束后將應(yīng)力降至5Grms±3Grms，振動維持一段時間，以發(fā)現(xiàn)在高量級振動時出現(xiàn)的焊點斷裂的情況。

作為優(yōu)選的實施方式，步驟四中采用步驟二所獲取的溫度變化率極限及相應(yīng)的溫度變換循環(huán)條件作為溫度試驗條件，設(shè)步驟三所獲取的振動應(yīng)力工作極限為Gmax，將振動應(yīng)力自Gmax/5開始配合每個循環(huán)遞增Gmax/5，在每個循環(huán)的最高及最低溫度持續(xù)10min，待溫度穩(wěn)定后執(zhí)行通斷電及拉載測試，如此重復(fù)進行直至達到可工作界限及破壞界限為止。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明綜合考慮了影響產(chǎn)品可靠性的幾種關(guān)鍵環(huán)境因素，包括低溫、高溫、溫度快速變化、振動等，環(huán)境條件設(shè)計范圍大，環(huán)境條件可以進行強化，能夠盡快激發(fā)產(chǎn)品可能存在的隱患和尋找產(chǎn)品極限應(yīng)力，健壯產(chǎn)品設(shè)計。

附圖說明

下面結(jié)合附圖和具體實施方式進行進一步的說明：

圖1為本發(fā)明的試驗流程圖；

圖2為本發(fā)明的溫度步進試驗剖面圖；

圖3為本發(fā)明快速溫度變換試驗剖面圖；

圖4為本發(fā)明振動步進試驗剖面圖；

圖5為本發(fā)明綜合環(huán)境試驗剖面圖。

具體實施方式

參照圖1，本發(fā)明的電子產(chǎn)品重大缺陷快速激發(fā)方法主要由溫度步進試驗步驟、快速溫度變換試驗步驟、振動步進試驗步驟以及綜合環(huán)境試驗步驟組成。

步驟一為溫度步進試驗，其用于獲取低溫工作極限、低溫破壞極限、高溫工作極限以及高溫破壞極限。一般地，測試起始溫度為環(huán)境溫度+20℃～+30℃，每步階穩(wěn)定溫度時執(zhí)行至少一次的通斷電啟動及拉載測試，若產(chǎn)品測試正常則以10℃的幅度進行溫度變化，以此類推直至發(fā)生功能故障，將溫度恢復(fù)至常溫并穩(wěn)定后，再執(zhí)行上電啟動及拉載測試，觀察其功能是否恢復(fù)，以判斷是否達到工作極限或破壞極限，如功能正?；謴?fù)，則將故障前的溫度值記錄為工作極限，同時再將溫度繼續(xù)變化至發(fā)現(xiàn)當恢復(fù)常溫仍然無法使功能自動恢復(fù)的溫度值，則此溫度值為破壞極限。測試時一般先進行低溫測試，獲取到低溫工作極限和低溫破壞極限，然后再進行高溫測試，獲取到高溫工作極限和高溫破壞極限。

步驟二為快速溫度變換試驗步驟，在此步驟中，取不超過步驟一所得到的高溫破壞極限和低溫破壞極限的80％作為高低溫端點值，對電子產(chǎn)品進行快速溫度變換試驗，獲取溫度變化率極限。具體地，參照圖3，取不超過步驟一所得到的高溫破壞極限和低溫破壞極限的80％作為高低溫端點值，以每分鐘60℃的快速溫度變化率在此高低溫端點值之間的區(qū)間內(nèi)進行不少于5個高低溫變化循環(huán)，在每個循環(huán)的最高溫度及最低溫度都停留10min，確保溫度穩(wěn)定后再執(zhí)行通斷電試驗及拉載測試，如發(fā)生可恢復(fù)性故障，則將溫度變化率減少10℃/min再執(zhí)行溫度循環(huán)，直到5個循環(huán)皆無可恢復(fù)性故障，則此溫度變化率即為溫度變化率極限。

步驟三為振動步進試驗步驟，用于獲取振動應(yīng)力工作極限。此步驟一般在氣動式三軸六自由度振動臺上進行，此振動臺可產(chǎn)生多軸連續(xù)的非高斯寬帶偽隨機振動信號，振動頻率能從5Hz起振，高頻可達到10kHz，振動方向包括X、Y、Z軸向的線加速度和轉(zhuǎn)動加速度。參照圖4，工作時，振動應(yīng)力的初始應(yīng)力為5Grms，步進步長為5Grms，每一階段所維持的時間最少為10分鐘，并同時在每階段的停留時間進行功能或性能測試，以此類推持續(xù)執(zhí)行振動步進試驗直到產(chǎn)品的振動應(yīng)力工作極限被確定。作為優(yōu)選，推薦在每個(或振動量級20G后的)階段結(jié)束后將應(yīng)力降至5Grms±3Grms(微振動)，以及時發(fā)現(xiàn)在高量級振動時出現(xiàn)的焊點斷裂的情況，振動維持時間一般為2分鐘。

步驟四為綜合環(huán)境試驗步驟，具體采用步驟二所獲取的溫度變化率極限及相應(yīng)的溫度變換循環(huán)條件作為溫度試驗條件，將步驟三所獲取的振動應(yīng)力工作極限分為若干等份，按每個循環(huán)遞增一份的方式對電子產(chǎn)品進行綜合環(huán)境試驗測試，直至達到電子產(chǎn)品的可工作界限及破壞界限為止。參照圖5，步驟四中采用步驟二所獲取的溫度變化率極限及相應(yīng)的溫度變換循環(huán)條件作為溫度試驗條件，設(shè)步驟三所獲取的振動應(yīng)力工作極限為Gmax，將振動應(yīng)力自Gmax/5開始配合每個循環(huán)遞增Gmax/5，在每個循環(huán)的最高及最低溫度持續(xù)10min，待溫度穩(wěn)定后執(zhí)行通斷電及拉載測試，如此重復(fù)進行直至達到可工作界限及破壞界限為止。

以上所述僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本發(fā)明，對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，本發(fā)明可以有各種更改和變化。凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。