技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種電子產(chǎn)品重大缺陷快速激發(fā)方法，主要由溫度步進試驗步驟、快速溫度變換試驗步驟、振動步進試驗步驟以及綜合環(huán)境試驗步驟組成。本發(fā)明綜合考慮了影響產(chǎn)品可靠性的幾種關(guān)鍵環(huán)境因素，包括低溫、高溫、溫度快速變化、振動等，環(huán)境條件設(shè)計范圍大，環(huán)境條件可以進行強化，能夠盡快激發(fā)產(chǎn)品可能存在的隱患和尋找產(chǎn)品極限應(yīng)力，健壯產(chǎn)品設(shè)計。

技術(shù)研發(fā)人員：李明峻;侯衛(wèi)國;李驍;劉永明;李響
受保護的技術(shù)使用者：蕪湖賽寶信息產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究院有限公司
文檔號碼：201610559332
技術(shù)研發(fā)日：2016.07.15
技術(shù)公布日：2016.12.07