技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提出了一種可提供統(tǒng)一測試環(huán)境的LED批量抗靜電測試基座。通過利用它，可控制測試人員在批量樣品靜電測試中引入環(huán)境因素。該方法在恒溫條件下，將待測元件通過基座接入靜電測試系統(tǒng)。適用于人體模型，機械模型，TLP模型等各種靜電檢測終端?？膳懦郎y試過程中環(huán)境的光，熱，靜電等因素，有效的固定樣品，保持測試的統(tǒng)一性。

技術(shù)研發(fā)人員：程海霞
受保護的技術(shù)使用者：南通海軼鍶換熱設(shè)備有限公司
文檔號碼：201610918121
技術(shù)研發(fā)日：2016.10.20
技術(shù)公布日：2017.02.22