技術總結
本發(fā)明公開了一種基于偏振散射特征的顆粒物形態(tài)測量方法和裝置，該方法包括以下步驟：探測當前顆粒物對激光散射后的散射光，其中對70?110度范圍內的特定散射角度θ下的散射偏振光進行測量；提取散射光的偏振通道電壓，計算散射光的Stokes矢量，根據(jù)Stokes矢量得到Mueller矩陣M中的元素a2(θ)、b1(θ)、a1(θ)、b1(θ)，并通過對元素a2(θ)、b1(θ)、a1(θ)、b1(θ)的計算，得到特征偏振參量K2；根據(jù)K2的值分析和確定顆粒物形態(tài)。本發(fā)明操作簡單快捷，測量范圍廣，局限性小，減少了探測器的數(shù)量，降低了成本。

技術研發(fā)人員：曾楠;馬輝;陳玥蓉;何永紅;李達
受保護的技術使用者：清華大學深圳研究生院
文檔號碼：201611123394
技術研發(fā)日：2016.12.08
技術公布日：2017.05.31