本實(shí)用新型涉及一種試塊，具體涉及一種表面波檢測(cè)近表面埋藏缺陷的試塊。

背景技術(shù)：

近年來，加工制造、材料、冶金、裝配等行業(yè)技術(shù)的發(fā)展非常迅速，技術(shù)的發(fā)展對(duì)材料和構(gòu)件的表面和近表面提出了越來越高的要求，同時(shí)，為了使這些技術(shù)應(yīng)用于大批量工業(yè)生產(chǎn)，沒有齊全的質(zhì)量檢測(cè)手段是無法保證材料和構(gòu)件質(zhì)量。在影響材料和構(gòu)件質(zhì)量及安全性的諸多因素中，隱藏在材料和構(gòu)件近表面的缺陷往往是一些致命缺陷的起點(diǎn)，更有隱蔽性和危害性。超聲表面波技術(shù)具有能夠發(fā)現(xiàn)近表面埋藏缺陷的特征。因此，有必要設(shè)計(jì)一種表面波檢測(cè)近表面埋藏缺陷專用試塊，用于超聲檢測(cè)儀和表面波探頭的組合性能的校驗(yàn)、表面波的檢測(cè)靈敏度和缺陷大小的確定。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本實(shí)用新型的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供了一種表面波檢測(cè)近表面埋藏缺陷的試塊，該試塊能夠用于超聲檢測(cè)儀及表面波探頭的校驗(yàn)，同時(shí)能夠用于表面波的檢測(cè)靈敏度及缺陷大小的確定。

為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型所述的表面波檢測(cè)近表面埋藏缺陷的試塊包括試塊本體，試塊本體的內(nèi)部設(shè)有第一橫通孔、第二橫通孔、第三橫通孔及第四橫通孔，其中第一橫通孔、第二橫通孔、第三橫通孔及第四橫通孔距試塊本體的表面距離均不同。

第一橫通孔的直徑、第二橫通孔的直徑、第三橫通孔的直徑及第四橫通孔的直徑均為1mm。

第一橫通孔距試塊本體表面的距離、第二橫通孔距試塊本體表面的距離、第三橫通孔距試塊本體表面的距離及第四橫通孔距試塊本體的表面距離分別為1mm、2mm、3mm及4mm。

試塊本體為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)。

第一橫通孔、第二橫通孔、第三橫通孔及第四橫通孔距試塊本體端面的距離大于等于50mm。

本實(shí)用新型具有以下有益效果：

本實(shí)用新型表面波檢測(cè)近表面埋藏缺陷的試塊在使用時(shí)，通過超聲檢測(cè)儀及表面波探頭完成對(duì)各橫通孔的檢測(cè)，然后根據(jù)檢測(cè)的結(jié)果與各橫通孔的實(shí)際位置及大小進(jìn)行對(duì)比完成超聲檢測(cè)儀和表面波探頭的組合性能的校驗(yàn)、表面波的檢測(cè)靈敏度和缺陷大小的確定，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，實(shí)用性極強(qiáng)。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型的正視圖；

圖2為本實(shí)用新型的俯視圖；

圖3為本實(shí)用新型中第一橫通孔1的截面圖；

圖4為本實(shí)用新型中第二橫通孔2的截面圖；

圖5為本實(shí)用新型中第三橫通孔3的截面圖；

圖6為本實(shí)用新型中第四橫通孔4的截面圖。

其中，1為第一橫通孔、2為第二橫通孔、3為第三橫通孔、4為第四橫通孔、5為試塊本體。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步詳細(xì)描述：

參考圖1，本實(shí)用新型所述的表面波檢測(cè)近表面埋藏缺陷的試塊包括試塊本體5，試塊本體5的內(nèi)部設(shè)有第一橫通孔1、第二橫通孔2、第三橫通孔3及第四橫通孔4，其中第一橫通孔1、第二橫通孔2、第三橫通孔3及第四橫通孔4距試塊本體5的表面距離均不同。

需要說明的是，第一橫通孔1的直徑、第二橫通孔2的直徑、第三橫通孔3的直徑及第四橫通孔4的直徑均為1mm；第一橫通孔1距試塊本體5表面的距離、第二橫通孔2距試塊本體5表面的距離、第三橫通孔3距試塊本體5表面的距離及第四橫通孔4距試塊本體5的表面距離分別為1mm、2mm、3mm及4mm；試塊本體5為長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu)；第一橫通孔1、第二橫通孔2、第三橫通孔3及第四橫通孔4距試塊本體5端面的距離大于等于50mm。

所述試塊本體5的側(cè)面與端面構(gòu)成90°棱角，其棱角用于表面波探頭檢測(cè)距離的測(cè)試，通過超聲檢測(cè)儀及表面波探頭完成對(duì)第一橫通孔1的檢測(cè)，然后根據(jù)檢測(cè)的結(jié)果與第一橫通孔1的實(shí)際位置及大小進(jìn)行對(duì)比完成超聲檢測(cè)儀和表面波探頭的組合性能的校驗(yàn)、表面波的檢測(cè)靈敏度和缺陷大小的確定、檢測(cè)距離的調(diào)整及缺陷位置的確定，通過檢測(cè)各橫通孔用于表面波聲場(chǎng)深度的測(cè)試。