技術(shù)總結(jié)
本實用新型公開了一種表面波檢測近表面埋藏缺陷的試塊，包括試塊本體，試塊本體的內(nèi)部設(shè)有第一橫通孔、第二橫通孔、第三橫通孔及第四橫通孔，其中第一橫通孔、第二橫通孔、第三橫通孔及第四橫通孔距試塊本體的表面距離均不同。本實用新型能夠用于超聲檢測儀及表面波探頭的校驗，同時能夠用于表面波的檢測靈敏度及缺陷大小的確定。

技術(shù)研發(fā)人員：張紅軍;孟永樂;殷尊;高磊;呂一楠
受保護的技術(shù)使用者：西安熱工研究院有限公司
文檔號碼：201620668618
技術(shù)研發(fā)日：2016.06.28
技術(shù)公布日：2016.12.07