1.一種過(guò)流組件測(cè)試裝置，包括：
測(cè)試平臺(tái)，用于設(shè)置待測(cè)過(guò)流組件，在所述待測(cè)過(guò)流組件的外側(cè)設(shè)置有用于測(cè)試的水循環(huán)管路；
水循環(huán)系統(tǒng)，連接所述水循環(huán)管路，為所述水循環(huán)管路內(nèi)的冷卻水提供循環(huán)動(dòng)力；
水源系統(tǒng)，用于為所述水循環(huán)管路提供所述冷卻水；
其特征在于，還包括：去離子系統(tǒng)，分別與所述水源系統(tǒng)和所述水循環(huán)系統(tǒng)連接，將所述冷卻水進(jìn)行去離子化后送入所述水循環(huán)系統(tǒng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，還包括氣源系統(tǒng)，與所述水循環(huán)系統(tǒng)通過(guò)閥門(mén)連接，用于儲(chǔ)存氣源并調(diào)節(jié)所述水循環(huán)系統(tǒng)壓力。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，所述去離子系統(tǒng)包括離子交換器和緩沖罐，其中
所述離子交換器，用于對(duì)來(lái)自所述水源系統(tǒng)的冷卻水進(jìn)行去離子化；
所述緩沖罐，與所述氣源系統(tǒng)閥門(mén)連接，用于將所述水源系統(tǒng)中經(jīng)過(guò)所述去離子化的所述冷卻水，通過(guò)所述緩沖罐輸送到所述水循環(huán)系統(tǒng)中。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，所述水源系統(tǒng)設(shè)置在所述測(cè)試平臺(tái)內(nèi)，與所述水循環(huán)管路連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，所述氣源系統(tǒng)通過(guò)閥門(mén)與所述水循環(huán)管路連接，測(cè)試結(jié)束后，通過(guò)所述氣源系統(tǒng)將水循環(huán)管路的所述冷卻水吹回到所述水源系統(tǒng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，所述水循環(huán)系統(tǒng)還包括脫氣罐，所述脫氣罐通過(guò)閥門(mén)與所述氣源系統(tǒng)連接，用于當(dāng)測(cè)試結(jié)束時(shí)，脫除水循環(huán)管路中的氣體。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，所述水循環(huán)系統(tǒng)還包括：至少兩條不同流速的冷卻水循環(huán)管路，用于滿(mǎn)足不同待測(cè)試組件的測(cè)試要求條件。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，還包括測(cè)試系統(tǒng)與所述測(cè)試平臺(tái)連接，還與外部測(cè)試控制器連接，接收所述外部測(cè)試器的測(cè)試操作指令通過(guò)測(cè)試平臺(tái)對(duì)所述待測(cè)過(guò)流組件進(jìn)行測(cè)試，
所述測(cè)試平臺(tái)還包括模擬發(fā)熱單元，用于提供模擬測(cè)試熱量。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試系統(tǒng)包括測(cè)試儀表，用于測(cè)試并顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的過(guò)流組件測(cè)試裝置，其特征在于，還包括存 儲(chǔ)系統(tǒng)與散熱系統(tǒng)，其中
所述存儲(chǔ)系統(tǒng)，分別與所述測(cè)試系統(tǒng)以及所述外部測(cè)試系統(tǒng)連接，用于記錄所述測(cè)試數(shù)據(jù)；
所述散熱系統(tǒng)，與所述水循環(huán)系統(tǒng)通過(guò)閥門(mén)連接，用于對(duì)所述水循環(huán)系統(tǒng)的冷卻水進(jìn)行散熱。