本實用新型涉及一種測試用連接裝置。
背景技術：
：隨著電子技術的不斷發(fā)展，為了減小電子設備的體積，往往將電子設備當中的電子元件盡可能的集成在印刷電路板上，從而達到減小電子設備體積的目的，因此印刷電路板廣泛運用于我們生活當中。目前在生成印刷電路板的過程當中，需要通過檢測設備對印刷電路板的參數(shù)進行檢測，判斷是否與預設的參數(shù)一致，現(xiàn)有技術中，目前在檢測過程當中，需要將印刷電路板上的待檢測部位所對應的探針焊接在連接接口的線路上，以實現(xiàn)通過連接接口與檢測設備進行數(shù)據(jù)通信，從而到達參數(shù)檢測的目的。上述檢測方法，在焊接探針的過程當中，通常是通過人工焊接，一方面焊接過程繁瑣且焊接時間長，影響印刷電路板的生產(chǎn)效率，另一方面同時容易焊接錯誤，一旦焊接錯誤，需要投入大量的精力對焊接線路進行排查和維護，因此目前印刷電路板在檢測參數(shù)時，由于沒有連接方便的測試用連接裝置，從而導致只能通過人工焊線的方式來與檢測設備連接，嚴重影響了印刷電路板的檢測和生產(chǎn)效率。技術實現(xiàn)要素：基于此，本實用新型的目的是提供一種連接方便的測試用連接裝置。一種測試用連接裝置，用于將檢測裝置上的輸入接口與待測裝置上的探針連接，所述測試用連接裝置包括連接板及連接座，所述連接座上設有連接柱，所述輸入接口與所述連接柱的一端插接，所述連接柱的另一端設有收容孔且插接在所述連接板上，所述探針穿過所述連接板插接在所述收容孔內(nèi)，以使所述探針與所述輸入接口電性連接。上述測試用連接裝置，通過設置的所述連接板和所述連接座，當需要對所述待測裝置進行檢測時，只需將所述待測裝置上的所述探針穿過所述連接板插接在所述連接柱一端的所述收容孔內(nèi)，并將所述連接柱的另一端插接在所述輸入接口上，從而使得所述探針與所述輸入接口電性連接，進而使得所述待測裝置與所述檢測裝置實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸，以完成檢測動作。因此所述測試用連接裝置，結(jié)構(gòu)簡單且連接及拆卸方便，大大提高所述待測裝置的檢測效率。進一步地，所述連接座的一側(cè)表面上設有卡接槽，所述輸入接口與所述連接柱插接時，所述輸入接口卡接在所述卡接槽內(nèi)。進一步地，所述連接柱呈條狀，所述連接柱包括第一段柱體及第二段柱體，所述第一段柱體設于所述卡接槽的底部且與所述輸入接口插接。進一步地，所述第二段柱體設于所述連接座的另一側(cè)表面上，且與所述第一段柱體處于同一直線上。進一步地，所述收容孔設于所述第二段柱體上，且延伸至所述第一段柱體內(nèi)。進一步地，所述第二段柱體設于一個第一凹槽的底部，所述第一凹槽的深度小于所述第二段柱體的長度。進一步地，所述連接板上設有通孔，所述第二段柱體插接在所述通孔上，所述探針穿過所述通孔插接在所述收容孔內(nèi)。進一步地，所述卡接槽包括第一槽壁，所述第一槽壁遠離所述卡接槽的底部的一側(cè)設有第一缺口。進一步地，所述第一槽壁的外側(cè)表面上設有與所述卡接槽連通的兩個第二凹槽，所述兩個第二凹槽分別設于所述第一缺口的兩側(cè)的相應位置上，且與所述連接座位于所述第二段柱體的一側(cè)表面連通。進一步地，所述卡接槽包括與所述一槽壁相鄰的兩個第二槽壁，所述兩個第二槽壁的相應位置上均設有第二缺口，所述第二缺口位于所述第二槽壁遠離所述卡接槽的底部的一側(cè)，所述第二缺口的寬度小于所述第一缺口的寬度。附圖說明圖1為本實用新型第一實施例中的測試用連接裝置與待測裝置和檢測裝置連接的立體結(jié)構(gòu)分解圖。圖2為本實用新型第一實施例中的測試用連接裝置與待測裝置和檢測裝置連接的立體結(jié)構(gòu)圖。圖3為本實用新型第一實施例中的測試用連接裝置的立體結(jié)構(gòu)圖。圖4為連接座的結(jié)構(gòu)示意圖。圖5為圖4中I處的放大圖。主要元件符號說明測試用連接裝置100檢測裝置200輸入接口210待測裝置300探針310連接板10連接座20通孔11卡接槽21連接柱22收容孔23第一槽壁211第二槽壁212第一缺口2111第二凹槽2112第二缺口2121第一段柱體221第二段柱體222第一凹槽24如下具體實施方式將結(jié)合上述附圖進一步說明本實用新型。具體實施方式為了便于理解本實用新型，下面將參照相關附圖對本實用新型進行更全面的描述。附圖中給出了本實用新型的若干實施例。但是，本實用新型可以以許多不同的形式來實現(xiàn)，并不限于本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本實用新型的公開內(nèi)容更加透徹全面。需要說明的是，當元件被稱為“固設于”另一個元件，它可以直接在另一個元件上或者也可以存在居中的元件。當一個元件被認為是“連接”另一個元件，它可以是直接連接到另一個元件或者可能同時存在居中元件。本文所使用的術語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬于本實用新型的
技術領域：
的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本實用新型的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在于限制本實用新型。本文所使用的術語“及/或”包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。請參閱圖1至圖2，所示為本實用新型第一實施例中的測試用連接裝置與待測裝置和檢測裝置連接的結(jié)構(gòu)示意圖，所述測試用連接裝置100用于將檢測裝置200上的輸入接口210與待測裝置300上的探針310連接，所述測試用連接裝置100包括連接板10及與所述連接板10連接的連接座20。請參閱圖3至圖5，所示為本實用新型第一實施例中的測試用連接裝置100，所述連接板10上設有通孔11，所述連接板10用于與所述待測裝300連接，且當所述待測裝置300與所述連接板10連接時，所述待測裝置300上的所述探針310穿過所述通孔11與所述連接座20連接。在本實施例當中，所述連接板10上設有多個所述通孔11，并且所有的所述通孔11相互平行且間隔設置，所述待測裝置300上設有與所述通孔11的數(shù)量和位置對應的多個所述探針310，所述連接板10與所述待測裝置300連接時，所有的所述探針310均穿過對應位置上的所述通孔11與所述連接座20連接。所述連接座20用于與所述檢測裝置200上的所述輸入接口210連接，所述連接座20上設有卡接槽21及連接柱22，所述輸入接口210與所述連接柱22的一端插接，所述連接柱22的另一端設有收容孔23且插接在所述通孔11上，所述探針310穿過所述通孔11插接在所述收容孔23內(nèi)，以實現(xiàn)將所述探針310與所述輸入接口210電性連接，進而將所述待測裝置300與所述檢測裝置200電性連接，以實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸。其中，所述卡接槽21設于所述連接座20的一側(cè)表面上，當所述輸入接口210與所述連接柱22插接時，所述輸入接口210卡接在所述卡接槽21內(nèi)。具體的，所述卡接槽21包括第一槽壁211及與所述一槽壁211相鄰的兩個第二槽壁212。所述第一槽壁211遠離所述卡接槽21的底部的一側(cè)設有第一缺口2111，所述第一槽壁211的外側(cè)表面上設有分別與所述卡接槽21連通的兩個第二凹槽2112，所述兩個第二凹槽2112分別設于所述第一缺口2111的兩側(cè)的相應位置上。所述兩個第二槽壁212的相應位置上均設有第二缺口2121，所述第二缺口2121位于所述第二槽壁212遠離所述卡接槽21的底部的一側(cè)，所述第二缺口2121的寬度小于所述第一缺口2111的寬度。具體的，所述連接柱22呈條狀，所述連接柱22包括第一段柱體221及第二段柱體222。所述第一段柱體221設于所述卡接槽21的底部且與所述輸入接口210插接，所述第二段柱體222設于所述連接座20的另一側(cè)表面上，且與所述第一段柱體221處于同一直線上，所述第二凹槽2112與所述連接座20位于所述第二段柱體222的一側(cè)表面連通。所述收容孔23設于所述第二段柱體222上，且延伸至所述第一段柱體221內(nèi)，即在所述第二段柱體222的端部平面上設置所述收容孔23，所述收容孔23貫通至所述第一段柱體221的部位上。所述第二段柱體222設于一個第一凹槽24的底部，所述第一凹槽24的深度小于所述第二段柱體222的長度，所述第一凹槽24的兩端均為貫通狀態(tài)。所述第二段柱體222插接在所述通孔11內(nèi)，使得所述探針310插接在所述收容孔23內(nèi)，且延伸至所述第一段柱體221內(nèi)，由于所述第一段柱體221插接在所述輸入接口210內(nèi)，而所述探針310延伸到了所述第一段柱體221上，從而使所述探針310與所述輸入接口210電性連接，進而使得所述待測裝置300與所述檢測裝置200電性連接。需要指出的是，至少的所述第一段柱體221及所述探針310由導電材料制作而成。在本實施例當中，所述連接柱22的形狀呈方形，并且所述連接座20上設有與所述通孔11的數(shù)量和位置對應的多個所述連接柱22，且每個所述連接柱22均設于一個所述第一凹槽24內(nèi)，當所述連接座20與所述連接板10連接時，所有的所述第二段柱體222均插接在對應位置上的所述通孔11內(nèi)，并且均與對應位置的所述探針310插接，使得每個所述探針310均插接在對應的所述收容孔23內(nèi)，且均延伸至所述第一段柱體221上，從而使得每個所述探針310均能夠與所述輸入接口210電性連接。在其它實施例當中，所述連接柱22的形狀還可以為圓形或者橢圓形當中的一種。其中，所述待測裝置300可以為印刷電路板或者其它類似帶有探針的電子元件?？梢岳斫獾模梢栽谒鲞B接板10上的不同位置上設置多種所述通孔11，實現(xiàn)多個所述連接座20共用一個所述連接板10，進而實現(xiàn)同時對多個所述待測裝置300進行檢測，同時也可實現(xiàn)對不同的所述待測裝置300進行檢測。所述測試用連接裝置100具體使用時，首先將所述連接板10放置在所述待測裝置300上，使得所述待測裝置300上的所有所述探針310穿過對應位置上的穿過所述通孔11，然后將所述連接座20插接在所述連接板10上，使得所述連接座20上的所有所述第二段柱體222插接在對應位置上的所述通孔11內(nèi)，從而使得每個所述通孔11內(nèi)的所述探針310均插接在對應位置上的所述收容孔23內(nèi)，并延伸至對應位置上的所述第一段柱體221上，然后將所述檢測裝置200上的所述輸入接口210插接在所述卡接槽21內(nèi)，使得所述連接座20上的所有所述第一段柱體221對應的插接在所述輸入接口210上，由于所述探針310延伸至了所述第一段柱體221內(nèi)，因此所述輸入接口210將與所述探針310電性連接，進而使得所述待測裝置300與所述檢測裝置200實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸，以完成檢測動作。當測試完之后，只需要依次將所述輸入接口210、連接座20及連接板10拔出即可完成拆卸動作。綜上，本實用新型上述實施例中，通過設置的所述連接板10和所述連接座20，當需要對所述待測裝置300進行檢測時，只需將所述待測裝置300上的所述探針310穿過所述連接板10插接在所述連接柱22一端的所述收容孔23內(nèi)，并將所述連接柱22的另一端插接在所述輸入接口210上，從而使得所述探針310與所述輸入接口210電性連接，進而使得所述待測裝置300與所述檢測裝置200實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸，以完成檢測動作。因此所述測試用連接裝置100的結(jié)構(gòu)簡單且連接及拆卸方便，大大提高所述待測裝置300的檢測效率。以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型專利的保護范圍應以所附權利要求為準。當前第1頁1 2 3