1.一種測試用連接裝置，用于將檢測裝置上的輸入接口與待測裝置上的探針連接，其特征在于：所述測試用連接裝置包括連接板及連接座，所述連接座上設(shè)有連接柱，所述輸入接口與所述連接柱的一端插接，所述連接柱的另一端設(shè)有收容孔且插接在所述連接板上，所述探針穿過所述連接板插接在所述收容孔內(nèi)，以使所述探針與所述輸入接口電性連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述連接座的一側(cè)表面上設(shè)有卡接槽，所述輸入接口與所述連接柱插接時，所述輸入接口卡接在所述卡接槽內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述連接柱呈條狀，所述連接柱包括第一段柱體及第二段柱體，所述第一段柱體設(shè)于所述卡接槽的底部且與所述輸入接口插接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述第二段柱體設(shè)于所述連接座的另一側(cè)表面上，且與所述第一段柱體處于同一直線上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述收容孔設(shè)于所述第二段柱體上，且延伸至所述第一段柱體內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述第二段柱體設(shè)于一個第一凹槽的底部，所述第一凹槽的深度小于所述第二段柱體的長度。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述連接板上設(shè)有通孔，所述第二段柱體插接在所述通孔上，所述探針穿過所述通孔插接在所述收容孔內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述卡接槽包括第一槽壁，所述第一槽壁遠離所述卡接槽的底部的一側(cè)設(shè)有第一缺口。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述第一槽壁的外側(cè)表面上設(shè)有與所述卡接槽連通的兩個第二凹槽，所述兩個第二凹槽分別設(shè)于所述第一缺口的兩側(cè)的相應(yīng)位置上，且與所述連接座位于所述第二段柱體的一側(cè)表面連通。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試用連接裝置，其特征在于：所述卡接槽包括與所述一槽壁相鄰的兩個第二槽壁，所述兩個第二槽壁的相應(yīng)位置上均設(shè)有第二缺口，所述第二缺口位于所述第二槽壁遠離所述卡接槽的底部的一側(cè)，所述第二缺口的寬度小于所述第一缺口的寬度。