本實(shí)用新型涉及一種電子測(cè)試設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于PCB測(cè)試的長(zhǎng)針高密治具。
背景技術(shù)：
目前用于PCB測(cè)試的治具使用36毫米長(zhǎng)度的多個(gè)測(cè)試針，測(cè)試針相對(duì)于垂直線傾斜的角度過大，當(dāng)PCB放置于多個(gè)測(cè)試針上時(shí)，因測(cè)試針相對(duì)于垂直線傾斜的角度過大，PCB對(duì)多個(gè)測(cè)試針的壓力過大，容易壓傷多個(gè)測(cè)試針，而且不是用于測(cè)試具有高密度的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的PCB。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本實(shí)用新型的目的是提供一種用于PCB測(cè)試的長(zhǎng)針高密治具。
為了解決上述技術(shù)問題，本申請(qǐng)揭示了一種長(zhǎng)針高密治具，其特征在于，包括：承載座；穿針座，其設(shè)置于所述承載座，并具有多個(gè)穿針通道，每一個(gè)穿針通道相對(duì)于垂直線傾斜，每一個(gè)穿針通道與所述垂直線間的夾角為6度；以及多根測(cè)試針，其分別穿設(shè)于對(duì)應(yīng)的穿針通道，每一根測(cè)試針相對(duì)于所述垂直線傾斜，每一根測(cè)試針與所述垂直線間的夾角為6度，其長(zhǎng)度為58毫米，并分別對(duì)應(yīng)PCB的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)。
根據(jù)本申請(qǐng)的一實(shí)施方式，上述穿針座包括第一固定板、第二固定板、多個(gè)調(diào)節(jié)板及多個(gè)固定結(jié)構(gòu)，所述第一固定板設(shè)置于所述承載座，所述第二固定板與所述第一固定板相對(duì)，所述多個(gè)調(diào)節(jié)板間隔設(shè)置于所述第一固定板與第二固定板間，每一個(gè)固定結(jié)構(gòu)穿設(shè)所述多個(gè)調(diào)節(jié)板，并固定于所述第一固定板及第二固定板，所述第一固定板、第二固定板及多個(gè)調(diào)節(jié)板分別具有多個(gè)穿孔，所述多個(gè)穿孔形成多個(gè)穿針通道。
根據(jù)本申請(qǐng)的一實(shí)施方式，上述多個(gè)固定結(jié)構(gòu)分別包括多個(gè)間隔環(huán)及連接柱，所述多個(gè)間隔環(huán)設(shè)置于所述多個(gè)調(diào)節(jié)板間，所述連接柱穿過多個(gè)調(diào)節(jié)板及多個(gè)間隔環(huán)，其兩端分別固定于所述第一固定板及第二固定板。
根據(jù)本申請(qǐng)的一實(shí)施方式，上述承載座包括底板、承載板組及多個(gè)支撐銅柱，所述承載板組設(shè)置于所述底板的上方，所述多個(gè)支撐銅柱設(shè)置于所述底板與承載板組間。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請(qǐng)可以獲得包括以下技術(shù)效果：
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N長(zhǎng)針高密治具，其主要使用58毫米長(zhǎng)度的測(cè)試針，測(cè)試針相對(duì)垂直線傾斜6度，多根測(cè)試針對(duì)應(yīng)PCB的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)，以對(duì)具有高密度的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的PCB進(jìn)行檢測(cè)。因測(cè)試針的傾斜角度小，PCB對(duì)多根測(cè)試針的壓力小，避免多根測(cè)試針受到壓傷。
附圖說明
圖1為本申請(qǐng)一實(shí)施方式的長(zhǎng)針高密治具的示意圖。
具體實(shí)施方式
以下將以圖式揭露本申請(qǐng)的多個(gè)實(shí)施方式，為明確說明起見，許多實(shí)務(wù)上的細(xì)節(jié)將在以下敘述中一并說明。然而，應(yīng)了解到，這些實(shí)務(wù)上的細(xì)節(jié)不應(yīng)用以限制本申請(qǐng)。也就是說，在本申請(qǐng)的部分實(shí)施方式中，這些實(shí)務(wù)上的細(xì)節(jié)是非必要的。此外，為簡(jiǎn)化圖式起見，一些習(xí)知慣用的結(jié)構(gòu)與組件在圖式中將以簡(jiǎn)單的示意的方式繪示之。
關(guān)于本文中所使用之“第一”、“第二”等，并非特別指稱次序或順位的意思，亦非用以限定本申請(qǐng)，其僅僅是為了區(qū)別以相同技術(shù)用語描述的組件或操作而已。
請(qǐng)參閱圖1，其是本申請(qǐng)一實(shí)施方式的長(zhǎng)針高密治具1的示意圖；如圖所示，本實(shí)施方式提供一種長(zhǎng)針高密治具1，長(zhǎng)針高密治具1包括承載座10、穿針座11及多根測(cè)試針12。穿針座11設(shè)置于承載座10，并具有多個(gè)穿針通道 111，每一個(gè)穿針通道111相對(duì)于垂直線H傾斜，其與垂直線H的夾角角度為 6度，多根測(cè)試針12分別穿過對(duì)應(yīng)的穿針通道111，每一根測(cè)試針12相對(duì)于垂直線H傾斜，并與垂直線H間的夾角角度為6度，即測(cè)試針12相對(duì)于垂直線H傾斜6度。每一個(gè)測(cè)試針12的長(zhǎng)度為58毫米，多根測(cè)試針12分別連接導(dǎo)線2，并對(duì)應(yīng)PCB的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)。本申請(qǐng)的長(zhǎng)針高密治具1使用58毫米長(zhǎng)度的測(cè)試針12，并使測(cè)試針12相對(duì)于垂直線H傾斜6度，隨著PCB的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的分布密度越高，因測(cè)試針12相對(duì)于垂直線H傾斜角度小，能于多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的分布范圍內(nèi)設(shè)置高密度的多根測(cè)試針12，使多根測(cè)試針12對(duì)應(yīng)PCB的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)，以對(duì)具有高密度排列的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的PCB進(jìn)行檢測(cè)。本申請(qǐng)的長(zhǎng)針高密治具1的測(cè)試針12相對(duì)于垂直線H傾斜的角度小，當(dāng)PCB放置于多根測(cè)試針12時(shí)，多根測(cè)試針12所承受的壓力小，不容易發(fā)生壓傷的問題。
復(fù)參閱圖1，本申請(qǐng)的穿針座11包括第一固定板112、第二固定板113、多個(gè)調(diào)節(jié)板114及多個(gè)固定結(jié)構(gòu)115，第二固定板113與第一固定板112相對(duì)設(shè)置，多個(gè)調(diào)節(jié)板114間隔設(shè)置于第一固定板112與第二固定板113間，多個(gè)固定結(jié)構(gòu)115穿設(shè)多個(gè)調(diào)節(jié)板114，并固定于第一固定板112及第二固定板 113。本實(shí)施方式的固定結(jié)構(gòu)115包括多個(gè)間隔環(huán)1151及連接柱1152，多個(gè)間隔環(huán)1151設(shè)置于多個(gè)調(diào)節(jié)板114間，連接柱1152穿過多個(gè)調(diào)節(jié)板114及多個(gè)間隔環(huán)1151，連接柱1152的兩端分別固定于第一固定板112及第二固定板 113。第一固定板112、第二固定板113及多個(gè)調(diào)節(jié)板114分別具有多個(gè)穿孔 116，多個(gè)穿孔116相連通形成多個(gè)穿針通道111。其中第一固定板112與第二固定板113間的多個(gè)調(diào)節(jié)板114及多個(gè)間隔環(huán)1151的數(shù)量，是根據(jù)測(cè)試針 12的長(zhǎng)度而定。
本申請(qǐng)的承載座10包括底板101、承載板組102及多個(gè)支撐銅柱103，承載板組102包括相互堆疊的多個(gè)承載板1021，并設(shè)置于底板101的上方，多個(gè)支撐銅柱103設(shè)置于底板101與承載板組102間，每一個(gè)支撐銅柱103的兩端分別鎖固于底板101及承載板組102。穿針座11的第一固定板112設(shè)置于承載板組102。
綜上所述，本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N長(zhǎng)針高密治具，其主要使用58毫米長(zhǎng)度的測(cè)試針，測(cè)試針相對(duì)垂直線傾斜6度，多根測(cè)試針對(duì)應(yīng)PCB的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)，以對(duì)具有高密度的多個(gè)測(cè)試點(diǎn)的PCB進(jìn)行檢測(cè)。因測(cè)試針的傾斜角度小，PCB對(duì)多根測(cè)試針的壓力小，避免多根測(cè)試針受到壓傷。
上所述僅為本申請(qǐng)的實(shí)施方式而已，并不用于限制本申請(qǐng)。對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，本申請(qǐng)可以有各種更改和變化。凡在本申請(qǐng)的精神和原理的內(nèi)所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包括在本申請(qǐng)的權(quán)利要求范圍之內(nèi)。