技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┮环N用于PCB測試的長針高密治具，其包括承載座、穿針座及多根測試針，穿針座設(shè)置于所述承載座，并具有多個穿針通道，每一個穿針通道相對于垂直線傾斜，每一個穿針通道與垂直線間的夾角為6度；多根測試針分別穿設(shè)于對應(yīng)的穿針通道，每一根測試針相對于垂直線傾斜，每一根測試針與垂直線間的夾角為6度，其長度為58毫米，并分別對應(yīng)PCB的多個測試點。本申請的長針高密治具因測試針的傾斜角度小，PCB對多根測試針的壓力小，避免多根測試針受到壓傷。

技術(shù)研發(fā)人員：陳春霞
受保護的技術(shù)使用者：惠州市齊嘉電子有限公司
文檔號碼：201621401877
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.20
技術(shù)公布日：2017.09.15