技術(shù)特征：

1.一種使用太赫茲脈沖測量材料參數(shù)和材料厚度的方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

A、將測量得到的不含樣品信息的太赫茲脈沖作為參考信號；

B、將測量得到的含有樣品信息的太赫茲脈沖作為樣品信號；

C、從樣品信號中提取第p次回波信號，其中，p為大于或等于0的整數(shù)；

D、獲取第p次回波信號的透射系數(shù)的實驗值；

E、測量得到樣品厚度L的測量值L′；

F、建立主峰/回波透射模型；

G、根據(jù)主峰/回波透射模型和樣品厚度的測量值L′，計算得到對應(yīng)于測量值L′的第p次回波對應(yīng)的透射系數(shù)計算值；

H、根據(jù)樣品信號中的主峰，計算得到透射系數(shù)的實驗值和計算值的最小差值所對應(yīng)的第一材料電磁參數(shù)；根據(jù)樣品信號中的第p次回波，計算得到透射系數(shù)的實驗值和計算值的最小差值所對應(yīng)的第二材料電磁參數(shù)；

I、根據(jù)第一材料電磁參數(shù)和第二材料電磁參數(shù)得到材料參數(shù)總差值函數(shù)；

J、判斷材料參數(shù)總差值函數(shù)是否滿足預(yù)設(shè)條件，如果是，則執(zhí)行步驟K；否則，修改樣品厚度，返回執(zhí)行步驟G；

K、將材料參數(shù)總差值函數(shù)所對應(yīng)的樣品厚度作為樣品精確厚度，代入主峰/回波透射模型，得到對應(yīng)于樣品厚度L的主峰對應(yīng)的透射系數(shù)的計算值

L、根據(jù)計算得到最小值對應(yīng)的樣品復(fù)折射率的實部和虛部，其中，為主峰對應(yīng)的透射系數(shù)的實驗值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，無樣品時太赫茲脈沖的參考信號為：

${\tilde{E}}_{ref}^{cal}\left(\mathrm{\ω}\right)=E_{init}{P}_0;$

其中，為參考信號，ω為頻率，P₀為相移因子。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，太赫茲脈沖透過樣品的樣品信號為：

${\tilde{E}}_{sam}^{cal}\left(\mathrm{\ω}\right)=\underset{p}{\Σ}{\tilde{E}}_{sam}^{cal}(\mathrm{\ω},p)=\underset{p}{\Σ}{E}_{init}{T}_{01}{P_1}^{2p+1}{T}_{10}{R}_{10}^{2p};$

其中，T₀₁和T₁₀分別為太赫茲脈沖透過樣品上、下表面的透射系數(shù)，R₁₀為太赫茲脈沖被樣品上表面反射的反射系數(shù)，相移因子

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，太赫茲透過樣品的第p次回波的透射系數(shù)的實驗值為：

${\tilde{T}}_{\exp }(\mathrm{\ω},p)=\frac{{\tilde{E}}_{sam}^{\exp }(\mathrm{\ω},p)}{{\tilde{E}}_{ref}^{\exp }\left(\mathrm{\ω}\right)}={\mathrm{\ρ}}_p(\mathrm{\ω},p)\exp \[-i\mathrm{\φ}(\mathrm{\ω},p)\].$

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述主峰/回波透射模型為：

$\begin{array}{c}{\tilde{T}}_{cal}(\mathrm{\ω},p)=\frac{{\tilde{E}}_{sam}^{cal}(\mathrm{\ω},p)}{{\tilde{E}}_{ref}^{cal}\left(\mathrm{\ω}\right)}\\ =\frac{4\tilde{n}\left(\mathrm{\ω}\right){\left(\tilde{n}\right(\mathrm{\ω})-1)}^{2p}}{{\[\tilde{n}\left(\mathrm{\ω}\right)+1\]}^{2p+1}}\exp {\[-i\tilde{n}\left(\mathrm{\ω}\right)\frac{\mathrm{\ω}}{c}L\]}^{2p+1}\exp \left(i\frac{\mathrm{\ω}}{c}L\right)\end{array}$

其中，為透過樣品后的太赫茲脈沖的第p次回波的透射系數(shù)的計算值，ω為頻率，為樣品信號中的第p次回波信號，為無樣品時太赫茲脈沖的參考信號，為復(fù)折射率，L為樣品厚度，c為真空中的光速。