技術(shù)特征：

1.一種實(shí)測地面合成電場數(shù)據(jù)的處理方法，所述方法包括：

根據(jù)實(shí)測的地面合成電場數(shù)據(jù)的缺失值寫入規(guī)則對所述缺失值進(jìn)行判斷并剔除；

利用拉依達(dá)準(zhǔn)則法對實(shí)測的地面合成電場數(shù)據(jù)的異常值分段進(jìn)行判斷并剔除；

利用線性回歸方法對地面合成電場數(shù)據(jù)中被剔除的缺失值和異常值進(jìn)行彌補(bǔ)，獲取所述彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)；

判斷彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)是否符合預(yù)期，若不符合預(yù)期，則調(diào)整分段方式，對異常值重新利用線性回歸方法進(jìn)行彌補(bǔ)；

若所述彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)是符合預(yù)期，則利用奇異值分解濾除所述彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)中的隨機(jī)干擾值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述利用拉依達(dá)準(zhǔn)則法對實(shí)測的地面合成電場數(shù)據(jù)的缺失值分段進(jìn)行判斷包括：

通過Bezier公式計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差：

公式(1)中，x₁,x₂,…,x_n是某個位置下地面合成電場數(shù)據(jù)的n次觀測，為這n次觀測的均值，△x_i是第i次觀測與均值的偏差；

對△x_i進(jìn)行判斷，當(dāng)△x_i大于3σ時，確認(rèn)第i次觀測的地面合成電場數(shù)據(jù)為異常值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述利用線性回歸方法對實(shí)測的地面合成電場數(shù)據(jù)中被剔除的缺失值和異常值進(jìn)行彌補(bǔ)包括：

獲取經(jīng)過缺失值和異常值判斷后的地面合成電場數(shù)據(jù)為X⁽¹⁾，X⁽¹⁾列矩陣表示不同位置，行矩陣表示不同時間采樣點(diǎn)的地面合成電場數(shù)據(jù)矩陣；

確定包括缺失值和異常值的地面合成電場數(shù)據(jù)的位置為擬合位置；

利用擬合位置地面合成電場數(shù)據(jù)外的其余不同位置下的地面合成電場強(qiáng)度建立所述擬合位置的擬合地面合成電場數(shù)據(jù)的線性回歸預(yù)測模型，確認(rèn)所述線性回歸預(yù)測模型的組合系數(shù)；

利用所述擬合位置的線性回歸預(yù)測模型，對擬合位置的判斷出來的缺失值和異常值進(jìn)行彌補(bǔ)，確定對所述缺失值和異常值彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)X⁽²⁾。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，所述線性回歸預(yù)測模型的組合系數(shù)通過最小二乘方式求解，包括：

確認(rèn)X⁽¹⁾中所有不含缺失值和異常值地面合成電場數(shù)據(jù)為X^*，

構(gòu)造矩陣A及向量a，Q^*為矩陣X^*擬合位置地面合成電場數(shù)據(jù)外的其余列構(gòu)成的矩陣，向量a為所述線性回歸預(yù)測模型的組合系數(shù)，

根據(jù)線性方程Aa獲取X⁽¹⁾中對應(yīng)擬合位置的列矩陣，并確認(rèn)所述線性方程Aa的最小二乘問題的解為擬合位置的組合系數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述利用奇異值分解濾除所述擬合后的地面合成電場數(shù)據(jù)中的隨機(jī)干擾值包括：

對于經(jīng)過缺失值和異常值擬合后的地面合成電場數(shù)據(jù)X⁽²⁾，進(jìn)行奇異值分解：

$X^{\left(2\right)}={\mathrm{USV}}^T=\underset{i=1}{\overset{r}{\Σ}}{\mathrm{\σ}}_i\·u_i{v}_i^T$

其中，U＝[u₁,u₂,…,u_r]，S＝diag(σ₁,σ₂,…,σ_r)，V＝[v₁,v₂,…,v_r]，U的列向量組是X⁽²⁾X^(2)T的標(biāo)準(zhǔn)正交特征向量，V的列向量組是X^(2)TX⁽²⁾的標(biāo)準(zhǔn)正交特征向量，r為矩陣X⁽²⁾的秩，σ₁,σ₂,…,σ_r分別為矩陣X⁽²⁾的r個奇異值；

利用表征有效信號的前m個奇異值重構(gòu)矩陣，得到去掉隨機(jī)干擾值后的地面合成電場數(shù)據(jù)X⁽³⁾，

$X^{\left(3\right)}=\underset{i=1}{\overset{m}{\Σ}}{\mathrm{\σ}}_i\·u_i{v}_i^T.$

6.一種實(shí)測地面合成電場數(shù)據(jù)的處理系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：

第一判斷單元，用于根據(jù)實(shí)測的地面合成電場數(shù)據(jù)的缺失值寫入規(guī)則對所述缺失值進(jìn)行判斷并剔除；

第二判斷單元，用于利用拉依達(dá)準(zhǔn)則法對實(shí)測的地面合成電場數(shù)據(jù)的異常值分段進(jìn)行判斷并剔除；

第一處理單元，用于利用線性回歸方法對地面合成電場數(shù)據(jù)中被剔除的缺失值和異常值進(jìn)行彌補(bǔ)，獲取所述彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)；判斷彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)是否符合預(yù)期，若不符合預(yù)期，則調(diào)整分段方式，對異常值重新利用線性回歸方法進(jìn)行彌補(bǔ)；

第二處理單元，用于若所述彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)是符合預(yù)期，則利用奇異值分解濾除所述彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)中的隨機(jī)干擾值。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，所述第二判斷單元還用于：

通過Bezier公式計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差：

公式(1)中，x₁,x₂,…,x_n是某個位置下地面合成電場數(shù)據(jù)的n次觀測，為這n次觀測的均值，△x_i是第i次觀測與均值的偏差；

對△x_i進(jìn)行判斷，當(dāng)△x_i大于3σ時，確認(rèn)第i次觀測的地面合成電場數(shù)據(jù)為異常值。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，所述第一處理單元還用于：

獲取經(jīng)過缺失值和異常值判斷后的地面合成電場數(shù)據(jù)為X⁽¹⁾，X⁽¹⁾列矩陣表示不同位置，行矩陣表示不同時間采樣點(diǎn)的地面合成電場數(shù)據(jù)矩陣；

確定包括缺失值和異常值的地面合成電場數(shù)據(jù)的位置為擬合位置；

利用擬合位置地面合成電場數(shù)據(jù)外的其余不同位置下的地面合成電場強(qiáng)度建立所述擬合位置的擬合地面合成電場數(shù)據(jù)的線性回歸預(yù)測模型，確認(rèn)所述線性回歸預(yù)測模型的組合系數(shù)；

利用所述擬合位置的線性回歸預(yù)測模型，對擬合位置的判斷出來的缺失值和異常值進(jìn)行彌補(bǔ)，確定對所述缺失值和異常值彌補(bǔ)后的地面合成電場數(shù)據(jù)X⁽²⁾。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，所述線性回歸預(yù)測模型的組合系數(shù)通過最小二乘方式求解，包括：

確認(rèn)X⁽¹⁾中所有不含缺失值和異常值地面合成電場數(shù)據(jù)為X^*，

構(gòu)造矩陣A及向量a，Q^*為矩陣X^*擬合位置地面合成電場數(shù)據(jù)外的其余列構(gòu)成的矩陣，向量a為所述線性回歸預(yù)測模型的組合系數(shù)，

根據(jù)線性方程Aa獲取X⁽¹⁾中對應(yīng)擬合位置的列矩陣，并確認(rèn)所述線性方程Aa的最小二乘問題的解為擬合位置的組合系數(shù)。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，所述第二處理單元用于：

對于經(jīng)過缺失值和異常值擬合后的地面合成電場數(shù)據(jù)X⁽²⁾，進(jìn)行奇異值分解：

$X^{\left(2\right)}={\mathrm{USV}}^T=\underset{i=1}{\overset{r}{\Σ}}{\mathrm{\σ}}_i\·u_i{v}_i^T$

其中，U＝[u₁,u₂,…,u_r]，S＝diag(σ₁,σ₂,…,σ_r)，V＝[v₁,v₂,…,v_r]，U的列向量組是X⁽²⁾X^(2)T的標(biāo)準(zhǔn)正交特征向量，V的列向量組是X^(2)TX⁽²⁾的標(biāo)準(zhǔn)正交特征向量，r為矩陣X⁽²⁾的秩，σ₁,σ₂,…,σ_r分別為矩陣X⁽²⁾的r個奇異值；

利用表征有效信號的前m個奇異值重構(gòu)矩陣，得到去掉隨機(jī)干擾值后的地面合成電場數(shù)據(jù)X⁽³⁾，

$X^{\left(3\right)}=\underset{i=1}{\overset{m}{\Σ}}{\mathrm{\σ}}_i\·u_i{v}_i^T.$