技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種過孔的尺寸測量方法及測量設(shè)備，該方法包括：獲取過孔及其周邊區(qū)域的圖像；在圖像中設(shè)置一圖像抓取框；沿預(yù)設(shè)方向根據(jù)圖像的像素的灰階繪出變化曲線；在變化曲線中設(shè)定中間基準點；在變化曲線上以所述中間基準點為起點分別向兩側(cè)搜索滿足預(yù)設(shè)條件的波峰；根據(jù)所述中間基準點兩側(cè)的波峰之間的距離計算過孔沿預(yù)設(shè)方向的尺寸。通過上述方式，本發(fā)明能夠找到對應(yīng)的波峰，準確測量出過孔的直徑。

技術(shù)研發(fā)人員：葉巧云
受保護的技術(shù)使用者：深圳市華星光電技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.07
技術(shù)公布日：2017.07.28