技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
避免EBSD測試樣品表面再次拋光的方法，屬于樣品制備領(lǐng)域。EBSD測試前，通過EBSD對樣品的晶體取向進(jìn)行觀察；將樣品封存于真空的玻璃管中或放置于含有干燥劑的密封的玻璃器皿中；一起置于力學(xué)、熱學(xué)以及電學(xué)的測試環(huán)境中，進(jìn)行測試；將測試完的樣品從真空的玻璃管或含有干燥劑的密封的玻璃器皿中取出來進(jìn)行EBSD測試，分析樣品的晶體取向信息。該方法可以有效避免樣品的再次拋光，確保實驗結(jié)果和結(jié)論的準(zhǔn)確性。

技術(shù)研發(fā)人員：漢晶;郭福;劉建萍
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京工業(yè)大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：2017.05.05
技術(shù)公布日：2017.08.04