1.一種抗干擾晶圓測(cè)試機(jī)外殼，包括本體外殼(4)和測(cè)試機(jī)(8)，其特征在于：所述本體外殼(4)的內(nèi)頂部固定連接于探針臺(tái)(3)的上端，所述探針臺(tái)(3)上安裝有探針卡(2)，所述本體外殼(4)內(nèi)底部固定連接于支柱(7)的底端，所述支柱(7)固定連接于測(cè)試臺(tái)(6)的下表面，所述測(cè)試臺(tái)(6)的上表面通過負(fù)壓吸附固定有轉(zhuǎn)接板(5)，所述轉(zhuǎn)接板(5)上電性連接有待測(cè)晶圓(9)，所述探針臺(tái)(3)通過屏蔽信號(hào)線(10)電性連接于測(cè)試機(jī)(8)，所述測(cè)試機(jī)(8)電性連接有顯示模塊(1)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種抗干擾晶圓測(cè)試機(jī)外殼，其特征在于：所述測(cè)試機(jī)(8)內(nèi)設(shè)有穩(wěn)壓電路，所述穩(wěn)壓電路內(nèi)包括LDO穩(wěn)壓器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種抗干擾晶圓測(cè)試機(jī)外殼，其特征在于：所述測(cè)試臺(tái)(6)的表面設(shè)有環(huán)形負(fù)壓吸附槽(601)，所述負(fù)壓吸附槽(601)相互連通，所述支柱(7)內(nèi)部設(shè)有負(fù)壓通道(701)，所述負(fù)壓通道(701)的頂部固定連接于負(fù)壓吸附槽(601)，所述負(fù)壓通道(701)的底部通過管道連接于負(fù)壓泵。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種抗干擾晶圓測(cè)試機(jī)外殼，其特征在于：所述轉(zhuǎn)接板(5)的底部固定連接有一層橡膠墊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種抗干擾晶圓測(cè)試機(jī)外殼，其特征在于：所述，所述轉(zhuǎn)接板(5)上包括與待測(cè)晶圓(9)上MOS管(901)電性連接的印刷電路，所述印刷電路包括串聯(lián)和并聯(lián)電路，所述印刷電路設(shè)有測(cè)試電路接線端(501)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種抗干擾晶圓測(cè)試機(jī)外殼，其特征在于：所述本體外殼(4)為絕緣材料制成，且本體外殼(4)的內(nèi)部設(shè)有接地金屬屏蔽網(wǎng)。