1.一種電機(jī)測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述歷史標(biāo)定任務(wù)中包括多個(gè)測試參數(shù)，所述歷史標(biāo)定記錄中包括與所述測試參數(shù)對應(yīng)的歷史測試結(jié)果，所述方法還包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試結(jié)果與所述已標(biāo)定的測試參數(shù)的歷史測試結(jié)果，確定所述電機(jī)的標(biāo)定優(yōu)化方案，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根據(jù)所述歷史標(biāo)定任務(wù)重新標(biāo)定所述電機(jī)之后，所述方法還包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)預(yù)設(shè)的電機(jī)零偏確認(rèn)策略對電機(jī)進(jìn)行零偏確認(rèn)，直至所述電機(jī)零位校準(zhǔn)完成，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根據(jù)預(yù)設(shè)的電機(jī)零偏確認(rèn)策略對電機(jī)進(jìn)行零偏確認(rèn)之前，所述方法還包括：
8.一種電機(jī)測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：
9.一種電機(jī)測試設(shè)備，包括權(quán)利要求8所述的電機(jī)測試裝置，所述電機(jī)測試設(shè)備還包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法的步驟。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法的步驟。