本發(fā)明涉及電子測(cè)試系統(tǒng)，具體為一種通用背光電阻測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

1、目前針對(duì)電子待測(cè)試件背光和電阻的測(cè)試方法，存在測(cè)試效率低、過(guò)程監(jiān)測(cè)難度大等問(wèn)題，且由于待測(cè)試件型號(hào)復(fù)雜多樣，缺乏通用性的測(cè)試設(shè)備及上位機(jī)軟件；

2、此外，現(xiàn)有的背光測(cè)試一般都采用人眼目視檢測(cè)，僅能夠進(jìn)行明顯的明暗和瑕疵的辨別，無(wú)法針對(duì)更細(xì)節(jié)的背光分布情況進(jìn)行測(cè)試分析，且長(zhǎng)時(shí)間的目視檢測(cè)會(huì)使人眼勞動(dòng)強(qiáng)度大，影響視力健康；而且現(xiàn)有的電阻測(cè)試也僅僅停留在電阻阻值的簡(jiǎn)單檢測(cè)與閾值判斷上，僅僅從單一的角度去測(cè)試和評(píng)判相關(guān)元器件的優(yōu)劣，這種方式不夠精細(xì)化，難以對(duì)產(chǎn)品的劃分以及生產(chǎn)進(jìn)行指導(dǎo)。故亟需一種準(zhǔn)確有效的通用背光電阻測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于提供了一種通用背光電阻測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法解決背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。

2、本發(fā)明可以通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：一種通用背光電阻測(cè)試系統(tǒng)，包括上位機(jī)軟件和硬件控制和采集組件，所述上位機(jī)軟件包括modbus通信模塊、參數(shù)配置模塊、自檢學(xué)習(xí)模塊、檢測(cè)判斷模塊和數(shù)據(jù)處理模塊，硬件控制和采集組件包括硬件控制和采集組件包括功能切換模塊、通斷路自檢模塊、電阻值檢測(cè)模塊、背光供電模塊和外接引腳模塊；

3、上位機(jī)軟件通過(guò)modbus通信模塊與硬件控制和采集組件進(jìn)行通信，硬件控制和采集組件中的各模塊主要通過(guò)包括多個(gè)c型繼電器、ai接口和d?i接口的電性連接組合進(jìn)行實(shí)現(xiàn)；

4、上位機(jī)軟件中的自檢學(xué)習(xí)模塊在通斷路自檢模塊對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣件進(jìn)行自檢時(shí)記錄學(xué)習(xí)各引腳通斷狀態(tài)，電阻值監(jiān)測(cè)模塊對(duì)對(duì)應(yīng)外接引腳功能項(xiàng)下的阻值進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試且背光供電模塊在對(duì)待測(cè)試件進(jìn)行供電，數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行記錄，同時(shí)數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)電阻測(cè)試和背光測(cè)試的整體偏差率進(jìn)行分析計(jì)算，并根據(jù)計(jì)算結(jié)果進(jìn)行評(píng)分，按照評(píng)分對(duì)待測(cè)試件的品質(zhì)進(jìn)行評(píng)價(jià)。

5、本發(fā)明的進(jìn)一步技術(shù)改進(jìn)在于：c型繼電器的常開(kāi)、常閉觸點(diǎn)和公共端共同構(gòu)成功能切換模塊，將c型繼電器標(biāo)記為y1-y48，則，y33～y48的公共端為外接引腳模塊；ai接口包括i?n1+、i?n1-～i?n8+、i?n8-，構(gòu)成電阻值監(jiān)測(cè)模塊；背光供電模塊包括vout與gnd，用于提供12v正電和接地；d?i接口包括x1～x16，構(gòu)成通斷路自檢模塊。

6、一種通用背光電阻測(cè)試方法，包括如下步驟：

7、步驟一、運(yùn)用參數(shù)配置模塊對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行配置，modbus通信模塊基于ip和端口配置建立modbus通信；

8、步驟二、通過(guò)外接引腳模塊接入標(biāo)準(zhǔn)樣件對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣件的各引腳通斷路狀態(tài)進(jìn)行自檢，自檢學(xué)習(xí)模塊對(duì)自檢結(jié)果進(jìn)行記錄學(xué)習(xí)；

9、步驟三、通過(guò)外接引腳模塊接入待測(cè)試件進(jìn)行通斷路測(cè)試，檢測(cè)判斷模塊將測(cè)試結(jié)果與自檢學(xué)習(xí)模塊的學(xué)習(xí)記錄進(jìn)行一致性比對(duì)，根據(jù)比對(duì)結(jié)果決定是否進(jìn)行后續(xù)測(cè)試，并記錄當(dāng)前檢測(cè)結(jié)果；

10、步驟四、功能切換模塊切換觸點(diǎn)連接狀態(tài)，將引腳分配值電阻值檢測(cè)模塊和背光供電模塊分別進(jìn)行電阻測(cè)試和背光測(cè)試；

11、步驟五、數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)電阻測(cè)試的阻值數(shù)據(jù)以及背光測(cè)試的視覺(jué)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，得到兩者的整體偏差率，依據(jù)整體偏差率進(jìn)行計(jì)算評(píng)分，并最終評(píng)價(jià)待測(cè)試件的品質(zhì)；

12、步驟六、數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)待測(cè)試件的檢測(cè)項(xiàng)的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行記錄。更換待測(cè)試件后重復(fù)步驟三～步驟五，開(kāi)展后續(xù)測(cè)試。

13、本發(fā)明的進(jìn)一步技術(shù)改進(jìn)在于：阻值測(cè)試的具體過(guò)程包括：

14、切換待測(cè)試件開(kāi)關(guān)或檔位開(kāi)關(guān)，并實(shí)時(shí)讀取反饋的阻值數(shù)據(jù)；

15、檢測(cè)判斷模塊將組織數(shù)據(jù)與配置的阻值范圍進(jìn)行比較：

16、當(dāng)處于阻值范圍內(nèi)，則阻值測(cè)試通過(guò)；否則，記錄為一次對(duì)應(yīng)引腳的ng；當(dāng)在設(shè)定的檢測(cè)次數(shù)內(nèi)僅出現(xiàn)一次ng時(shí)，增加檢測(cè)次數(shù)至一定值，若后續(xù)不在出現(xiàn)ng，將待測(cè)試件放回測(cè)試上游隊(duì)列，以便后續(xù)重新測(cè)試，否則該次測(cè)試不通過(guò)；

17、數(shù)據(jù)處理模塊針對(duì)同一批次的待測(cè)試件得到的阻值數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，得到待測(cè)試件在不同開(kāi)關(guān)狀態(tài)下的阻值穩(wěn)定系數(shù)εi和該批次不同待測(cè)試件間阻值數(shù)據(jù)的整體偏差率γ，其中i表示開(kāi)關(guān)或檔位開(kāi)關(guān)的狀態(tài)種類(lèi)編號(hào)。

18、本發(fā)明的進(jìn)一步技術(shù)改進(jìn)在于：背光測(cè)試主要通過(guò)視覺(jué)相機(jī)對(duì)背光圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行采集，對(duì)背光圖像數(shù)據(jù)的無(wú)背光字符、字符缺失的劣品情況進(jìn)行篩選過(guò)濾，并對(duì)經(jīng)過(guò)過(guò)濾后的待測(cè)試件背光字符的亮度與色度分布進(jìn)行分析處理，得到背光測(cè)試的整體偏差率p。

19、本發(fā)明的進(jìn)一步技術(shù)改進(jìn)在于：數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)待測(cè)試件品質(zhì)進(jìn)行評(píng)價(jià)區(qū)分的過(guò)程為：

20、基于評(píng)分公式得出待測(cè)試件的阻值穩(wěn)定性和背光效果綜合評(píng)分其中α、β分別表示阻值、背光影響權(quán)重系數(shù)，α∈[0.45～0.72]，β∈[0.42～0.55]，imax表示開(kāi)關(guān)或檔位開(kāi)關(guān)的狀態(tài)種類(lèi)數(shù)；

21、當(dāng)綜合評(píng)分超過(guò)設(shè)定的評(píng)分閾值時(shí)，則認(rèn)定該待測(cè)試件為優(yōu)品，否則為良品。

22、本發(fā)明的進(jìn)一步技術(shù)改進(jìn)在于：電阻測(cè)試中阻值穩(wěn)定系數(shù)的獲得過(guò)程包括：

23、將單個(gè)待測(cè)件的在不同開(kāi)關(guān)狀態(tài)下的測(cè)試阻值按照矩陣形式記錄，其中行數(shù)代表設(shè)定檢測(cè)次數(shù)，列數(shù)代表表示開(kāi)關(guān)或檔位開(kāi)關(guān)的狀態(tài)種類(lèi)數(shù)；

24、針對(duì)單個(gè)矩陣計(jì)算其單列數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差si，代入公式中得到待測(cè)試件在開(kāi)關(guān)狀態(tài)i時(shí)的阻值穩(wěn)定系數(shù)εi。

25、本發(fā)明的進(jìn)一步技術(shù)改進(jìn)在于：電阻測(cè)試中同一批次不同待測(cè)試件間阻值數(shù)據(jù)的整體偏差率的計(jì)算過(guò)程包括：

26、選擇每個(gè)待測(cè)試件總標(biāo)準(zhǔn)差σsi最小的矩陣作為基準(zhǔn)矩陣d；

27、計(jì)算其他矩陣相對(duì)于基準(zhǔn)矩陣的差異矩陣c；

28、對(duì)差異矩陣和基準(zhǔn)矩陣分別應(yīng)用frobenius范數(shù)并進(jìn)行比值運(yùn)算，即得到整體偏差率，公式為其中||*||f表示frobenius范數(shù)。

29、本發(fā)明的進(jìn)一步技術(shù)改進(jìn)在于：背光測(cè)試中亮度和色度分布情況分析過(guò)程包括：

30、s1：對(duì)背光圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行降噪和增強(qiáng)處理；

31、s2：利用opencv技術(shù)確定背光字符軌跡，并在軌跡通道內(nèi)連續(xù)繪制彼此外切且內(nèi)切于軌跡通道的內(nèi)切圓，確定對(duì)應(yīng)內(nèi)切圓的圓心像素坐標(biāo)和半徑；

32、s3：統(tǒng)計(jì)每個(gè)內(nèi)切圓內(nèi)完整像素點(diǎn)，并計(jì)算各內(nèi)切圓內(nèi)的三基色分量的平均值，將其定義為對(duì)應(yīng)內(nèi)切圓內(nèi)的該通道的特征值；

33、s4：將三通道的rgb色彩空間轉(zhuǎn)化為yuv色彩空間，分別得到對(duì)應(yīng)內(nèi)切圓的亮度y，色度值[u,v]，其中u和v分別代表藍(lán)色色度分量和紅色色度分量；

34、s5：計(jì)算所有內(nèi)切圓內(nèi)的亮度平均值和亮度標(biāo)準(zhǔn)差sy，得到關(guān)于亮度的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差率為以及整體亮度設(shè)定值與該背光字符平均亮度值的偏差率

35、s6：同理于s5，首先計(jì)算所有內(nèi)切圓內(nèi)藍(lán)色色度分量均值和紅色色度分量均值和標(biāo)準(zhǔn)差，并得出關(guān)于藍(lán)色色度分量以及紅色色度分量的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差率δu和δv，則色度值相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差率為

36、s7：綜合色度和亮度分布的相關(guān)偏差率，得出背光測(cè)試中的整體偏差率p＝aδy+bδc+cλy，其中a+b+c＝1,且c＞a≥b。

37、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具備以下有益效果：

38、1、本發(fā)明通過(guò)上位機(jī)軟件、硬件控制和采集組件進(jìn)行實(shí)時(shí)mosbus通信，將多種測(cè)試需求進(jìn)行整合，通過(guò)切換觸點(diǎn)狀態(tài)快速進(jìn)行到對(duì)應(yīng)的測(cè)試需求中，從而使得待測(cè)試件不需要經(jīng)過(guò)多次安裝拆卸，可以一次性完成多項(xiàng)檢測(cè)，大大縮短了測(cè)試所需的時(shí)間，提高了測(cè)試效率。

39、2、本發(fā)明不僅限于對(duì)電阻進(jìn)行基本的阻值測(cè)試，還對(duì)電阻的穩(wěn)定性進(jìn)行進(jìn)一步分析，并結(jié)合機(jī)器視覺(jué)技術(shù)對(duì)背光圖像進(jìn)行獲取，快速對(duì)背光字符亮度以及色度分布進(jìn)行分析，綜合考慮電阻測(cè)試以及背光測(cè)試中的相關(guān)參數(shù)穩(wěn)定性，對(duì)單個(gè)待測(cè)試件進(jìn)行綜合評(píng)分，進(jìn)而依據(jù)評(píng)分對(duì)待測(cè)試件的品質(zhì)進(jìn)行區(qū)分，更精細(xì)化地對(duì)產(chǎn)品的檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行分類(lèi)，從另一方面也能夠發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)中的問(wèn)題集中產(chǎn)生的位置，為生產(chǎn)產(chǎn)生指導(dǎo)價(jià)值。