本技術(shù)實(shí)施例涉及芯片，尤其涉及一種芯片顯示性能測試方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、在芯片安裝在電子設(shè)備之后，可以對芯片的性能進(jìn)行測試。在進(jìn)行芯片性能測試時，可以通過顯示屏對芯片的顯示相關(guān)性能進(jìn)行測試。

2、由于不同的顯示屏對應(yīng)的顯示規(guī)格(分辨率和刷新率)不同，芯片只能通過顯示規(guī)格匹配的顯示屏進(jìn)行測試。為了使得一個屏幕可以適用于多個顯示規(guī)格的芯片，在實(shí)際應(yīng)用過程中，可以在soc之外搭配專用的fpga或serdes芯片做縮放處理，從而在同一塊或固定幾塊顯示屏上就可以適配不同顯示規(guī)格的屏幕性能測試。在上述過程中，由于額外搭配芯片的成本和復(fù)雜度較高，且測試幀率取決于物理屏幕的參數(shù)，不能任意配置。導(dǎo)致測試芯片顯示性能的靈活性較低。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實(shí)施例提供一種芯片顯示性能測試方法、裝置及電子設(shè)備，用以解決測試芯片顯示性能的靈活性較低的問題。

2、第一方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種顯示屏測試方法，包括：

3、獲取測試請求，所述測試請求包括芯片對應(yīng)的分辨率和刷新率，所述芯片設(shè)置在電子設(shè)備中；

4、根據(jù)所述測試請求，確定所述電子設(shè)備的至少一個處理器的目標(biāo)工作模式；

5、確定至少一個測試指令和所述芯片對應(yīng)的虛擬顯示屏；

6、根據(jù)所述至少一個測試指令，對所述虛擬顯示屏進(jìn)行測試，得到芯片顯示性能的測試結(jié)果。

7、在一種可能的實(shí)施方式中，確定至少一個測試指令和所述芯片對應(yīng)的虛擬顯示屏，包括：

8、確定所述電子設(shè)備的設(shè)備類型；

9、根據(jù)所述設(shè)備類型，確定所述至少一個測試指令；

10、確定所述芯片對應(yīng)的顯示驅(qū)動框架，并將所述顯示驅(qū)動框架確定為所述虛擬顯示屏。

11、在一種可能的實(shí)施方式中，根據(jù)所述設(shè)備類型，確定所述至少一個測試指令，包括：

12、根據(jù)所述設(shè)備類型，確定所述電子設(shè)備的應(yīng)用場景；

13、根據(jù)所述應(yīng)用場景，獲取所述電子設(shè)備待測試的至少一個應(yīng)用程序；

14、確定每個應(yīng)用程序的運(yùn)行指令，以得到所述至少一個測試指令。

15、在一種可能的實(shí)施方式中，根據(jù)所述應(yīng)用場景，獲取所述電子設(shè)備待測試的至少一個應(yīng)用程序，包括：

16、響應(yīng)于所述電子設(shè)備插設(shè)至終端設(shè)備上，通過所述終端設(shè)備顯示測試控件；

17、接收所述終端設(shè)備發(fā)送的、所述電子設(shè)備待測試的至少一個應(yīng)用程序，所述至少一個應(yīng)用程序?yàn)樗鼋K端設(shè)備響應(yīng)于對所述測試控件中、測試頁面的輸入選中操作生成的。

18、在一種可能的實(shí)施方式中，根據(jù)所述至少一個測試指令，對所述虛擬顯示屏進(jìn)行測試，得到芯片顯示性能的測試結(jié)果，包括：

19、針對任意一個測試指令，控制所述電子設(shè)備運(yùn)行所述測試指令，得到所述測試指令對應(yīng)的運(yùn)行結(jié)果；

20、根據(jù)每個測試指令對應(yīng)的運(yùn)行結(jié)果，確定所述芯片顯示性能的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果至少包括每個應(yīng)用程序的啟動速度、滑動幀率、切換頁面的反應(yīng)速度以及每個應(yīng)用程序?qū)?yīng)的顯示幀率。

21、在一種可能的實(shí)施方式中，獲取測試請求，包括：

22、響應(yīng)于所述電子設(shè)備插設(shè)至終端設(shè)備上，通過所述終端設(shè)備顯示測試控件；

23、接收所述終端設(shè)備發(fā)送的測試請求，所述測試請求為所述終端設(shè)備響應(yīng)于對所述測試控件中、設(shè)置頁面的輸入選中操作生成的。

24、在一種可能的實(shí)施方式中，根據(jù)所述測試請求，確定所述電子設(shè)備的至少一個處理器的目標(biāo)工作模式，包括：

25、根據(jù)所述測試請求，將每個處理器的顯示參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，得到每個處理器的目標(biāo)顯示參數(shù)；

26、確定所述電子設(shè)備的至少一個處理器的目標(biāo)工作模式為每個處理器在對應(yīng)的目標(biāo)顯示參數(shù)下運(yùn)行。

27、在一種可能的實(shí)施方式中，所述方法還包括：

28、獲取預(yù)設(shè)存儲路徑；

29、根據(jù)所述預(yù)設(shè)存儲路徑，控制所述終端設(shè)備存儲所述測試結(jié)果。

30、第二方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種芯片顯示性能測試裝置，所述裝置包括：

31、獲取模塊，用于獲取測試請求，所述測試請求包括顯示屏的分辨率和刷新率，所述顯示屏設(shè)置在電子設(shè)備中；

32、第一確定模塊，用于根據(jù)所述測試請求，確定所述電子設(shè)備的至少一個處理器的目標(biāo)工作模式；

33、第二確定模塊，用于確定至少一個測試指令和所述顯示屏對應(yīng)的虛擬顯示屏；

34、測試模塊，用于根據(jù)所述至少一個測試指令，對所述虛擬顯示屏進(jìn)行測試，得到測試結(jié)果。

35、在一種可能的實(shí)施方式中，所述第二確定模塊具體用于：

36、確定所述電子設(shè)備的設(shè)備類型；

37、根據(jù)所述設(shè)備類型，確定所述至少一個測試指令；

38、確定所述芯片對應(yīng)的顯示驅(qū)動框架，并將所述顯示驅(qū)動框架確定為所述虛擬顯示屏。

39、在一種可能的實(shí)施方式中，所述第二確定模塊具體用于：

40、根據(jù)所述設(shè)備類型，確定所述電子設(shè)備的應(yīng)用場景；

41、根據(jù)所述應(yīng)用場景，獲取所述電子設(shè)備待測試的至少一個應(yīng)用程序；

42、確定每個應(yīng)用程序的運(yùn)行指令，以得到所述至少一個測試指令。

43、在一種可能的實(shí)施方式中，所述第二確定模塊具體用于：

44、響應(yīng)于所述電子設(shè)備插設(shè)至終端設(shè)備上，通過所述終端設(shè)備顯示測試控件；

45、接收所述終端設(shè)備發(fā)送的、所述電子設(shè)備待測試的至少一個應(yīng)用程序，所述至少一個應(yīng)用程序?yàn)樗鼋K端設(shè)備響應(yīng)于對所述測試控件中、測試頁面的輸入選中操作生成的。

46、在一種可能的實(shí)施方式中，所述測試模塊具體用于：

47、針對任意一個測試指令，控制所述電子設(shè)備運(yùn)行所述測試指令，得到所述測試指令對應(yīng)的運(yùn)行結(jié)果；

48、根據(jù)每個測試指令對應(yīng)的運(yùn)行結(jié)果，確定所述芯片顯示性能的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果至少包括每個應(yīng)用程序的啟動速度、滑動幀率、切換頁面的反應(yīng)速度以及每個應(yīng)用程序?qū)?yīng)的顯示幀率。

49、在一種可能的實(shí)施方式中，所述獲取模塊具體用于：

50、響應(yīng)于所述電子設(shè)備插設(shè)至終端設(shè)備上，通過所述終端設(shè)備顯示測試控件；

51、接收所述終端設(shè)備發(fā)送的測試請求，所述測試請求為所述終端設(shè)備響應(yīng)于對所述測試控件中、設(shè)置頁面的輸入選中操作生成的。

52、在一種可能的實(shí)施方式中，所述第一確定模塊具體用于：

53、根據(jù)所述測試請求，將每個處理器的顯示參數(shù)進(jìn)行調(diào)整，得到每個處理器的目標(biāo)顯示參數(shù)；

54、確定所述電子設(shè)備的至少一個處理器的目標(biāo)工作模式為每個處理器在對應(yīng)的目標(biāo)顯示參數(shù)下運(yùn)行。

55、在一種可能的實(shí)施方式中，所述裝置還包括存儲模塊。

56、其中，所述存儲模塊用于：

57、獲取預(yù)設(shè)存儲路徑；

58、根據(jù)所述預(yù)設(shè)存儲路徑，控制所述終端設(shè)備存儲所述測試結(jié)果。

59、第三方面，本技術(shù)提供一種芯片，所述芯片上存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被所述芯片執(zhí)行時，實(shí)現(xiàn)如第一方面任一項(xiàng)所述的方法。

60、第四方面，本技術(shù)提供一種芯片模組，所述芯片模組上存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被所述芯片模組執(zhí)行時，實(shí)現(xiàn)如第一方面任一項(xiàng)所述的方法。

61、第五方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，包括：

62、至少一個處理器；以及

63、與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，

64、所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行第一方面任一項(xiàng)所述的方法。

65、第六方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種存儲有計(jì)算機(jī)指令的非瞬時計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中，所述計(jì)算機(jī)指令用于使所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行第一方面中任一項(xiàng)所述的方法。

66、第七方面，本技術(shù)實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)第一方面中任一項(xiàng)所述的方法。

67、本技術(shù)實(shí)施例提供的芯片顯示性能測試方法、裝置及電子設(shè)備，確定芯片對應(yīng)的虛擬顯示屏，并通過虛擬現(xiàn)實(shí)屏對芯片的顯示性能進(jìn)行測試。虛擬顯示屏可以適用于各種顯示規(guī)格的芯片，避免額外搭配芯片的成本和復(fù)雜度較高，且測試幀率取決于物理屏幕的參數(shù)，不能任意配置的情況，提高了測試芯片顯示性能的靈活性。