1.一種芯片顯示性能測(cè)試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，確定至少一個(gè)測(cè)試指令和所述芯片對(duì)應(yīng)的虛擬顯示屏，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述設(shè)備類(lèi)型，確定所述至少一個(gè)測(cè)試指令，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述應(yīng)用場(chǎng)景，獲取所述電子設(shè)備待測(cè)試的至少一個(gè)應(yīng)用程序，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述至少一個(gè)測(cè)試指令，對(duì)所述虛擬顯示屏進(jìn)行測(cè)試，得到芯片顯示性能的測(cè)試結(jié)果，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，獲取測(cè)試請(qǐng)求，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述測(cè)試請(qǐng)求，確定所述電子設(shè)備的至少一個(gè)處理器的目標(biāo)工作模式，包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
9.一種芯片顯示性能測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括：
10.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
11.一種存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令的非瞬時(shí)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，其中，所述計(jì)算機(jī)指令用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的方法。
12.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的方法。