本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試，尤其涉及一種用于檢測(cè)集成電路性能的測(cè)試方法。

背景技術(shù)：

1、集成電路（integratedcircuit）是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝，把一個(gè)電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上，然后封裝在一個(gè)管殼內(nèi)，成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)；其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個(gè)整體，使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進(jìn)了一大步。

2、集成電路是新型半導(dǎo)體器件。它是經(jīng)過氧化、光刻、擴(kuò)散、外延、蒸鋁等半導(dǎo)體制造工藝，把構(gòu)成具有一定功能的電路所需的半導(dǎo)體、電阻、電容等元件及它們之間的連接導(dǎo)線全部集成在一小塊硅片上，然后焊接封裝在一個(gè)管殼內(nèi)的電子器件。其封裝外殼有圓殼式、扁平式或雙列直插式等多種形式。集成電路技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計(jì)技術(shù)，主要體現(xiàn)在加工設(shè)備，加工工藝，封裝測(cè)試，批量生產(chǎn)及設(shè)計(jì)創(chuàng)新的能力上。

3、由于很多集成電路設(shè)置有接口，在傳統(tǒng)的測(cè)試中，均需要人工進(jìn)行測(cè)試，人工測(cè)試效率低，無法達(dá)到工業(yè)化生產(chǎn)的要求。在現(xiàn)有的技術(shù)中，均需要設(shè)置測(cè)試接口板，然后將測(cè)試接口插在測(cè)試接口板上進(jìn)行測(cè)試，這種測(cè)試方法也需要人工進(jìn)行輔助，效率也不高。

4、中國(guó)專利公開號(hào)：cn110404823b，公開了一種集成電路性能檢測(cè)裝置，包括電控箱，設(shè)置在電控箱上部的測(cè)試平臺(tái)，設(shè)置在測(cè)試平臺(tái)上部右側(cè)一端的進(jìn)料槽，在進(jìn)料槽左側(cè)末端設(shè)置有翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，在翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)后端設(shè)置有上下料機(jī)構(gòu)，在翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)的左側(cè)末端設(shè)置有測(cè)試定位機(jī)構(gòu)，測(cè)試定位機(jī)構(gòu)后端設(shè)置測(cè)試插頭機(jī)構(gòu)，測(cè)試插頭機(jī)構(gòu)的左側(cè)末端設(shè)置有分揀機(jī)構(gòu)，在分揀機(jī)構(gòu)的左側(cè)一端設(shè)置有ccd相機(jī)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，ccd相機(jī)檢測(cè)機(jī)構(gòu)左側(cè)設(shè)置有出料槽；由此可見，上述技術(shù)方案存在以下問題：無法在對(duì)電路板檢測(cè)的過程中自動(dòng)化調(diào)節(jié)檢測(cè)參數(shù)，影響了對(duì)電路板的檢測(cè)準(zhǔn)確性，進(jìn)一步影響了對(duì)電路板的檢測(cè)效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為此，本發(fā)明提供一種用于檢測(cè)集成電路性能的測(cè)試方法，用以克服現(xiàn)有技術(shù)中無法在對(duì)電路板檢測(cè)的過程中自動(dòng)化調(diào)節(jié)檢測(cè)參數(shù)，影響了對(duì)電路板的檢測(cè)準(zhǔn)確性，進(jìn)一步影響了對(duì)電路板的檢測(cè)效率的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種用于檢測(cè)集成電路性能的測(cè)試方法，包括：

3、s1，供能機(jī)械臂夾持電源供應(yīng)器的電源輸出端為固定夾具固定的電路板提供電源，檢測(cè)機(jī)械臂夾持電壓表的輸出探頭獲取電路板中對(duì)應(yīng)測(cè)試觸點(diǎn)的檢測(cè)電壓；

4、s2，將測(cè)試數(shù)據(jù)輸入到電路板中，監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)回報(bào)頻率；

5、s3，對(duì)電路進(jìn)行濾波；

6、s4，基于檢測(cè)電壓和測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定電路板是否合格，在判定電路板異常時(shí)，基于電壓波動(dòng)參量確定針對(duì)電路板異常的處理方式，處理方式為將各機(jī)械臂針對(duì)電路板的對(duì)應(yīng)觸點(diǎn)施加的測(cè)試壓力調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值，或?qū)?duì)電路的濾波區(qū)間調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值；

7、在判定電路板合格，或判定發(fā)出針對(duì)電路板異常的警報(bào)信息時(shí)，對(duì)下一電路板進(jìn)行測(cè)試。

8、進(jìn)一步地，在所述步驟s4中，基于檢測(cè)電壓確定電路板是否合格，包括：

9、若檢測(cè)電壓小于等于第一預(yù)設(shè)電壓，則判定電路板異常，并基于電壓波動(dòng)參量確定針對(duì)電路板異常的處理方式；

10、若檢測(cè)電壓小于等于第二預(yù)設(shè)電壓且大于第一預(yù)設(shè)電壓，則結(jié)合測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定電路板是否合格；

11、若檢測(cè)電壓大于第二預(yù)設(shè)電壓，則判定電路板合格，并判定對(duì)下一電路板進(jìn)行測(cè)試。

12、進(jìn)一步地，基于測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定電路板是否合格，包括：

13、若測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量小于等于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)量，則判定電路板異常，并基于電壓波動(dòng)參量確定針對(duì)電路板異常的處理方式；

14、若測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量大于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)量，則基于測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量將第一預(yù)設(shè)電壓調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值。

15、進(jìn)一步地，基于測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量將第一預(yù)設(shè)電壓調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值，其中：

16、基于測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定的第一預(yù)設(shè)電壓的增加幅度與測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量成正比。

17、進(jìn)一步地，基于電壓波動(dòng)參量確定針對(duì)電路板異常的處理方式，包括：

18、確定電壓波動(dòng)參量，獲取若干時(shí)間節(jié)點(diǎn)下的檢測(cè)電壓值，并求解各監(jiān)測(cè)電壓值的方差，得到電壓波動(dòng)參量；

19、若電壓波動(dòng)參量小于等于第一預(yù)設(shè)電壓波動(dòng)參量，則基于數(shù)據(jù)回報(bào)頻率確定針對(duì)電路板異常的處理方式；

20、若電壓波動(dòng)參量小于等于第二預(yù)設(shè)電壓波動(dòng)參量且大于第一預(yù)設(shè)電壓波動(dòng)參量，則基于電壓波動(dòng)參量將各機(jī)械臂針對(duì)對(duì)應(yīng)觸點(diǎn)施加的測(cè)試壓力調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值；

21、若電壓波動(dòng)參量大于第二預(yù)設(shè)電壓波動(dòng)參量，則基于電壓積分參量將對(duì)電路的濾波區(qū)間調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值。

22、進(jìn)一步地，基于數(shù)據(jù)回報(bào)頻率確定針對(duì)電路板異常的處理方式，包括：

23、若數(shù)據(jù)回報(bào)頻率小于等于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)回報(bào)頻率，則基于電壓波動(dòng)參量將各機(jī)械臂針對(duì)對(duì)應(yīng)觸點(diǎn)施加的測(cè)試壓力調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值；

24、若數(shù)據(jù)回報(bào)頻率大于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)回報(bào)頻率，則發(fā)出針對(duì)電路板異常的警報(bào)信息。

25、進(jìn)一步地，基于電壓波動(dòng)參量將各機(jī)械臂針對(duì)對(duì)應(yīng)觸點(diǎn)施加的測(cè)試壓力調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值，其中：

26、基于電壓波動(dòng)參量確定的測(cè)試壓力的增加幅度與電壓波動(dòng)參量成正比。

27、進(jìn)一步地，在完成對(duì)測(cè)試壓力的調(diào)節(jié)時(shí)，將調(diào)節(jié)后的測(cè)試壓力與預(yù)設(shè)最大壓力進(jìn)行比對(duì)，若調(diào)節(jié)后的測(cè)試壓力小于等于預(yù)設(shè)最大壓力，則使用調(diào)節(jié)后的測(cè)試壓力作為針對(duì)電路板的檢測(cè)參數(shù)；若調(diào)節(jié)后的測(cè)試壓力大于預(yù)設(shè)最大壓力，則使用預(yù)設(shè)最大壓力作為針對(duì)電路板的檢測(cè)參數(shù)，并使用預(yù)設(shè)夾緊力調(diào)節(jié)系數(shù)將固定夾具固定的電路板的夾緊力調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值。

28、進(jìn)一步地，基于電壓積分參量將對(duì)電路的濾波區(qū)間調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值，包括：

29、確定電壓積分參量，基于獲取的若干時(shí)間節(jié)點(diǎn)下的檢測(cè)電壓值，繪制電壓時(shí)域曲線，求解電壓時(shí)域曲線的積分值，得到電壓積分參量；

30、基于電壓積分參量確定的濾波區(qū)間的縮小幅度與電壓積分參量成正比。

31、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果在于，獲取電路板的電參數(shù)，對(duì)電路板是否合格進(jìn)行檢測(cè)，在確定電路板異常時(shí)，依據(jù)電壓波動(dòng)參量進(jìn)一步對(duì)電路板的檢測(cè)參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)，在提高了對(duì)電路板的檢測(cè)準(zhǔn)確性的同時(shí)，進(jìn)一步提高了對(duì)電路板的檢測(cè)效率。

32、進(jìn)一步地，依據(jù)檢測(cè)電壓對(duì)電路板是否合格進(jìn)行判定，在檢測(cè)電壓小于等于第二預(yù)設(shè)電壓且大于第一預(yù)設(shè)電壓時(shí)，電路板的輸出電壓偏低，此情況下獲取電路板的數(shù)據(jù)處理量即測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量，在測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量大于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)量時(shí)，電路板的數(shù)據(jù)處理量過大，集成電路中的晶體管開關(guān)切換頻繁，導(dǎo)致芯片內(nèi)部的電流需求增大，電流通過電路板上的線路和元件時(shí)，由于線路電阻和元件內(nèi)阻產(chǎn)生電壓降，從而使輸出端實(shí)際測(cè)量到的電壓降低，此情況下依據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量對(duì)電路板的判定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)節(jié)，以依據(jù)具體檢測(cè)情況適應(yīng)性調(diào)節(jié)針對(duì)電路板的檢測(cè)參數(shù)，有效提高了針對(duì)電路板的檢測(cè)精度。

33、進(jìn)一步地，在確定電路板異常時(shí)，獲取電壓波動(dòng)參量和數(shù)據(jù)回報(bào)頻率以進(jìn)一步確定是否由于針對(duì)電路板的檢測(cè)參數(shù)出現(xiàn)異常導(dǎo)致對(duì)電路板進(jìn)行誤判，在確定不存在誤判的情況下發(fā)出針對(duì)電路板異常的警報(bào)信息，并對(duì)下一電路板進(jìn)行檢測(cè)；電壓波動(dòng)參量表征了針對(duì)單個(gè)電路板獲取的若干檢測(cè)電壓值的波動(dòng)情況，在電壓波動(dòng)參量小于等于第二預(yù)設(shè)電壓波動(dòng)參量且大于第一預(yù)設(shè)電壓波動(dòng)參量時(shí)，檢測(cè)電壓值的波動(dòng)相對(duì)較大，此情況下由于在對(duì)電路板進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，與觸點(diǎn)的接觸不良導(dǎo)致檢測(cè)數(shù)據(jù)出現(xiàn)偏差，此時(shí)將各機(jī)械臂針對(duì)對(duì)應(yīng)觸點(diǎn)施加的測(cè)試壓力調(diào)節(jié)至對(duì)應(yīng)值，以對(duì)電路板進(jìn)行穩(wěn)定的標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)，在電壓波動(dòng)參量小于等于第一預(yù)設(shè)電壓波動(dòng)參量時(shí)，此情況下檢測(cè)電壓穩(wěn)定，此時(shí)獲取數(shù)據(jù)回報(bào)頻率，在數(shù)據(jù)回報(bào)頻率大于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)回報(bào)頻率時(shí)，此情況下由于電路板部分出現(xiàn)故障，導(dǎo)致數(shù)據(jù)產(chǎn)生和傳輸?shù)乃俣燃涌?，高頻數(shù)據(jù)產(chǎn)生的電磁干擾耦合到電源線路中，造成檢測(cè)電壓降低，以致工作狀態(tài)異常，此情況下確定單個(gè)電路板異常，且針對(duì)電路板的檢測(cè)參數(shù)正常；在數(shù)據(jù)回報(bào)頻率小于等于預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)回報(bào)頻率時(shí)，此情況下數(shù)據(jù)回報(bào)頻率正常，由于針對(duì)觸點(diǎn)的檢測(cè)不穩(wěn)定導(dǎo)致對(duì)電路板存在誤判，此時(shí)針對(duì)測(cè)試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)，進(jìn)一步提高了針對(duì)電路板的檢測(cè)效率。

34、進(jìn)一步地，在電壓波動(dòng)參量大于第二預(yù)設(shè)電壓波動(dòng)參量時(shí)，檢測(cè)電壓值的波動(dòng)大，此情況下由于電路板中存在高頻的雜波信號(hào)，這些雜波影響對(duì)集成電路正常工作電壓的測(cè)量和判斷，此情況下對(duì)濾波區(qū)間進(jìn)行調(diào)節(jié)以通過濾波將高頻雜波濾除，提高了對(duì)電路板的檢測(cè)電壓的觀察清晰度，進(jìn)一步提高了對(duì)電路板的檢測(cè)效率。