1.一種用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,在所述步驟s4中,基于檢測電壓確定電路板是否合格,包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,基于測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量確定電路板是否合格,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,基于測試數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)量將第一預(yù)設(shè)電壓調(diào)節(jié)至對應(yīng)值,其中:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,基于電壓波動參量確定針對電路板異常的處理方式,包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,基于數(shù)據(jù)回報(bào)頻率確定針對電路板異常的處理方式,包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,基于電壓波動參量將各機(jī)械臂針對對應(yīng)觸點(diǎn)施加的測試壓力調(diào)節(jié)至對應(yīng)值,其中:
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,在完成對測試壓力的調(diào)節(jié)時(shí),將調(diào)節(jié)后的測試壓力與預(yù)設(shè)最大壓力進(jìn)行比對,若調(diào)節(jié)后的測試壓力小于等于預(yù)設(shè)最大壓力,則使用調(diào)節(jié)后的測試壓力作為針對電路板的檢測參數(shù);若調(diào)節(jié)后的測試壓力大于預(yù)設(shè)最大壓力,則使用預(yù)設(shè)最大壓力作為針對電路板的檢測參數(shù),并使用預(yù)設(shè)夾緊力調(diào)節(jié)系數(shù)將固定夾具固定的電路板的夾緊力調(diào)節(jié)至對應(yīng)值。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于檢測集成電路性能的測試方法,其特征在于,基于電壓積分參量將對電路的濾波區(qū)間調(diào)節(jié)至對應(yīng)值,包括: