技術(shù)特征：

1.三維微波近場掃描架，其特征在于：包括安裝架(1)、掃描臺(2)、移動架(3)、固定架(4)、升降架(5)、角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)(6)和探針(7)，其中，

2.如權(quán)利要求1所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)(6)包括回轉(zhuǎn)臺(61)，所述回轉(zhuǎn)臺(61)包括固定框(611)、轉(zhuǎn)動臺(612)和第一螺桿(613)，其中，

3.如權(quán)利要求2所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)(6)還包括位移器(62)，所述位移器(62)包括底座(621)、滑座(622)和第二螺桿(623)，其中，

4.如權(quán)利要求3所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)(6)還包括延伸固定架(63)，所述延伸固定架(63)的一端固定設(shè)置在所述轉(zhuǎn)動臺(612)上，所述探針(7)固定設(shè)置在所述延伸固定架(63)遠(yuǎn)離所述轉(zhuǎn)動臺(612)的一端，所述探針(7)與所述升降架(5)的周側(cè)之間設(shè)置有間隔。

5.如權(quán)利要求1所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述安裝架(1)包括第一架體(11)、第一絲桿(12)、第一電機(jī)(13)和第一導(dǎo)軌(14)，所述移動架(3)包括第二架體(31)和第一滑塊(32)，其中，

6.如權(quán)利要求5所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述移動架(3)還包括第二絲桿(33)、第二電機(jī)(34)和第二導(dǎo)軌(35)，所述固定架(4)包括第三架體(41)和第二滑塊(42)，其中，

7.如權(quán)利要求6所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述固定架(4)還包括第三電機(jī)(43)、齒輪(44)和第三滑塊(45)，所述升降架(5)包括第四架體(51)、齒條(52)和第三導(dǎo)軌(53)，其中，

8.如權(quán)利要求7所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述第一架體(11)上設(shè)置有所述第一絲桿(12)的一側(cè)與其設(shè)置有所述第一導(dǎo)軌(14)的一側(cè)相垂直；

9.如權(quán)利要求1所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述掃描臺(2)包括孔板(21)和多個(gè)剪式升降器(22)，其中，

10.如權(quán)利要求9所述的三維微波近場掃描架，其特征在于：所述掃描臺(2)還包括微調(diào)座(23)和夾持桿(24)，所述微調(diào)座(23)包括定位座(231)、調(diào)節(jié)座(232)和第三螺桿(233)，其中，

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)涉及掃描架技術(shù)領(lǐng)域，提出了三維微波近場掃描架，包括安裝架、掃描臺、移動架、固定架、升降架、角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)和探針，其中，所述掃描臺固定設(shè)置在所述安裝架上；所述移動架以能夠滑動的方式固定設(shè)置在所述安裝架上，所述固定架以能夠滑動的方式固定設(shè)置在所述移動架上；所述角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)固定設(shè)置在所述升降架和所述探針之間，并能夠帶動所述探針相對所述升降架進(jìn)行轉(zhuǎn)動；所述探針位于所述掃描臺的上方。本技術(shù)通過設(shè)置角度調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，可以讓探針進(jìn)行轉(zhuǎn)動，以配合移動架、固定架和升降架的三維平移，滿足探針的移動需求，并規(guī)避裝置與待測物體發(fā)生干涉碰撞，從而使本掃描架可以對不同的待測物體進(jìn)行全面掃描。

技術(shù)研發(fā)人員：鄭咸昌,鄭方龍
受保護(hù)的技術(shù)使用者：武漢市夏睿琪科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240529
技術(shù)公布日：2025/1/6