可以包括如圓周狀位于吸收樣品池512的光透射部分外周的周圍的螺旋光能來源516 (例如，螺旋低壓汞燈)或其他構(gòu)造。在一個實例中，向光能來源516中的放電提供了強的光發(fā)射，如包括包含約254nm的自由空間波長的第一范圍的波長。
[0039]如在圖4、6A至6C和7的實例中，利用入口端口 518向吸收樣品池512提供的分析物氣體可以包含可以使用第一范圍的波長激發(fā)的物種如汞蒸氣。分析物氣體可以利用出口端口 520從吸收樣品池中排出。在使用螺旋光能來源516激發(fā)之后，可以將探測光508耦合至吸收樣品池512?？梢圆贾玫谝环瓷潴w514A和第二反射體514B以提供高精細(xì)光學(xué)共振腔。探測光508可以包括第二范圍的波長，如與第一范圍的波長不同。例如，第二范圍的波長可以包括具有約404.66nm的自由空間波長的光能?？梢哉{(diào)節(jié)吸收樣品池512的腔幾何形狀(例如，長度)或探測光來源508的輸出波長中的一種或多種，以對光學(xué)腔的共振提供操作。
[0040]腔內(nèi)的光能528可以跨越反射體514A和514B之間的往返距離以提供可以在外耦合的光能522中檢測的衰蕩特性。如在其他地方提及的，使用在404.66nm的探測光將會誘發(fā)預(yù)激發(fā)后的汞的吸收峰，在預(yù)激發(fā)的情況下，當(dāng)汞存在時，預(yù)激發(fā)可以在一部分汞原子中誘導(dǎo)受激亞穩(wěn)能級。以這種方式，可以檢測分析物氣體中汞的存在或水平。在一個實例中，用于螺旋光能來源516的外殼532可以包括反射部，以將激發(fā)能量聚焦至吸收樣品池512。
[0041]圖6A至6C —般地說明了吸收樣品池組件的一部分的橫截面圖的說明性實例，其可以包括一個或多個直線型排列的光能來源。如在圖4、5和7的實例中一樣，可以使用圖6A至6C中所示的吸收樣品池構(gòu)造，以用于分析物氣體中的物種(例如，汞)的痕量檢測。可以布置一個或多個燈，如低壓汞蒸氣燈616A或616B，以為吸收樣品池612提供光能。如關(guān)于其他實例所提及的，吸收樣品池612可以包括透射壁以允許來自汞蒸氣燈616A或616B的光能耦合至吸收樣品池612。
[0042]在一個實例中，直線型燈616A或616B的長軸可以與吸收樣品池612的長軸對齊。在圖6A至6C的中，外殼632A可以包括反射部(外殼材料本身可以是反射的，或者其可以被反射材料覆蓋，以反射紫外輻射)。外殼632A可以包括橢圓形橫截面，以將由燈616A發(fā)射的光能聚焦在吸收樣品池612上?？梢允褂闷渌麡?gòu)造，如圖6B或6C的實例中所示的多個橢圓的組合，或其他反射體構(gòu)造，如被配置成使來自一個或多個燈616A或616B的、將要提供給吸收樣品池612的光能聚焦或?qū)?zhǔn)。在圖6B中，示出了具有兩個燈616A和616B的雙橢圓外殼632B。在圖6C中，示出了具有多個燈的多橢圓外殼632C。外殼和燈的組合可以被稱為抽運幾何形狀。外殼632A至632C的內(nèi)部區(qū)域640可以形成腔，以容納冷卻介質(zhì)。例如，冷卻介質(zhì)可以包括循環(huán)流體，例如水或空氣。
[0043]圖7 —般地說明了一種技術(shù)700，如一種方法。在702處，技術(shù)700可以包括，如使用第一范圍的波長將位于共振腔中的分析物氣體中包含的物種光激發(fā)，所述第一范圍的波長包括被規(guī)定為提供分析物氣體中待探測物種的亞穩(wěn)激發(fā)態(tài)的波長。在704處，可以產(chǎn)生光能，如使用具有第二范圍的波長的光能的激光器(例如，二極管激光器)，所述第二范圍的波長包括被規(guī)定為由分析物氣體中待探測物種的亞穩(wěn)激發(fā)態(tài)吸收的波長。
[0044]在706處，可以將具有第二范圍的波長的產(chǎn)生的光能光耦合至光學(xué)共振腔。例如，光學(xué)共振腔可以包括如在本文中的其他實例中示出和描述的吸收樣品池?？梢允褂米杂煽臻g耦合，或者例如，使用光纖技術(shù)或使用光波導(dǎo)的一些其他形式，來耦合這種光能。這種在第二范圍的波長內(nèi)的耦合光能可以在作為光學(xué)共振腔的一部分而包括的反射體之間反復(fù)反射，以探測腔內(nèi)的分析物氣體。在708處，可以將具有第二頻率范圍的光能的一部分外耦合至光學(xué)檢測器。例如，外耦合的光能的強度廓線可以包括相對于時間的逐漸衰減的強度，如在將光能的一個脈沖耦合至光學(xué)共振腔之后，或在通過腔的共振掃描光能或共振腔之后。這種逐漸衰減的強度可以包括表示分析物氣體中目標(biāo)物種如汞蒸氣的存在或量的衰減速率或持續(xù)時間?？梢?如在模擬或數(shù)字域中電子地)處理檢測器輸出，以確定腔內(nèi)部的輻射損失速率。這種輻射損失速率一般地與池內(nèi)部的汞濃度成比例。之后可以估算汞濃度。
[0045]額外注釋
[0046]本文中描述的非限制性實例中的每一個可以獨立存在，或者可以以與一個或多個其他實例的各種排列或組合的形式組合。
[0047]上述詳細(xì)描述包括參考形式詳細(xì)描述的一部分的附圖。附圖通過說明的方式示出了其中可以實施本發(fā)明的具體實施方案。這些實施方案在本文中也被稱為“實例”。這些實例可以包括除示出或描述的那些以外的要素。然而，本發(fā)明人還預(yù)期其中僅提供示出或描述的那些要素的實例。此外，本發(fā)明的發(fā)明人還預(yù)期使用針對特定實例(或其一個或多個方面)或針對本文中示出或描述的其他實例(或其一個或多個方面)而示出或描述的那些要素(或者這些要素的一個或多個方面)的任意組合或排列的實例。
[0048]在本文和通過引用這樣結(jié)合的任何文獻(xiàn)之間存在不一致的用法的情況下，以本文中的用法為準(zhǔn)。
[0049]在本文中，如在專利文獻(xiàn)中常見的，術(shù)語“一個”或“一種”用來包括一個或多于一個，與任何其他“至少一個”或“一個或多個”的實例或應(yīng)用無關(guān)。在本文中，除非另外說明，術(shù)語“或”用來指代非排他性的，因此“A或B”包括“A而不是B”、“B而不是A”以及“A和B”。在本文中，術(shù)語“包括(including)”和“其中(in which) ”用作各自的術(shù)語“包括(comprising) ”和“其中(wherein) ”的白話英語等同物。此外，在以下權(quán)利要求中，術(shù)語“包括”和“包含”是開放性的，即，包括除在權(quán)利要求中在所述術(shù)語后列出的那些之外的要素的系統(tǒng)、裝置、制品、組合物、配制物或方法仍然被認(rèn)為落在所述權(quán)利要求的范圍內(nèi)。此外，在以下權(quán)利要求中，術(shù)語“第一”、“第二”、和“第三”等僅被用作標(biāo)記，并且并非意在對其目標(biāo)賦予數(shù)字要求。
[0050]在本文中所描述的方法實例可以至少部分是機器或計算機實現(xiàn)的。一些實例可以包括編碼有指令的計算機可讀介質(zhì)或機器可讀介質(zhì)，所述指令是可操作的從而配置電子設(shè)備執(zhí)行如以上實例所描述的方法。這些方法的執(zhí)行可以包括代碼，如微碼、匯編語言代碼、高級語言代碼等。這些代碼可以包括用于執(zhí)行多種方法的計算機可讀指令。代碼可以形成計算機程序產(chǎn)品的多個部分。此外，在一個實例中，如在執(zhí)行期間或在其他時間，可以將代碼有形地存儲在一個或多個易失性、非瞬時性、或非易失性有形計算機可讀介質(zhì)上。這些有形計算機可讀介質(zhì)的實例可以包括但不限于，硬盤、可移動磁盤、可移動光盤(例如，壓縮光盤和數(shù)字視頻光盤)、磁帶盒、存儲卡或記憶棒、隨機存取存儲器(RAM)、只讀存儲器(ROM)等。
[0051]以上描述意圖是說明性的，而不是限制性的。例如，上述實例(或其一個或多個方面)可以彼此結(jié)合使用。如由本領(lǐng)域普通技術(shù)人員基于回顧以上描述，可以使用其他實施方案。提供概要以符合37C.F.R.§ 1.72(b)，從而允許讀者迅速確定技術(shù)公開內(nèi)容的本質(zhì)。摘要是在理解不會將其用于解釋或限制權(quán)利要求的范圍或含義的情況下提交的。此外，在以上詳細(xì)描述中，可以將多種特征集合在一起，以簡化公開內(nèi)容。這不應(yīng)該被解釋為意指未要求保護(hù)的公開特征對任何權(quán)利要求是必需的。相反，本發(fā)明的主題可以在于，少于具體公開的實施方案的全部特征。因此，以下權(quán)利要求在此作為實例或?qū)嵤┓桨附Y(jié)合到詳細(xì)說明中，并且每個權(quán)利要求作為單獨的實施方案獨立存在，并且預(yù)期的是，這種實施方案可以彼此以各種組合或排列進(jìn)行組合。本發(fā)明的范圍應(yīng)該參照所附權(quán)利要求以及與這些權(quán)利要求授予的等價物的全部范圍來確定。
【主權(quán)項】
1.一種方法，所述方法包括: 使用具有第一范圍的波長的光能將光學(xué)共振