靜校正問(wèn)題。
[0031] 本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說(shuō)明書(shū)中闡述，并且部分地從說(shuō)明書(shū)中變得 顯而易見(jiàn)，或者通過(guò)實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過(guò)在說(shuō)明書(shū)、權(quán)利要 求書(shū)以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)和獲得。
【附圖說(shuō)明】
[0032] 圖1顯示了根據(jù)本發(fā)明的靜校正方法的流程圖；
[0033] 圖2a和2b分別顯示了采用本發(fā)明的靜校正前后的單炮記錄；
[0034] 圖3a顯示了采用速度比掃描法進(jìn)行靜校正后的疊加剖面；
[0035] 圖3b顯示了采用本發(fā)明的方法構(gòu)造格架控制進(jìn)行靜校正后的疊加剖面；以及
[0036] 圖4顯示了根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施例的轉(zhuǎn)換波靜校正裝置。
【具體實(shí)施方式】
[0037] 以下將結(jié)合附圖來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的實(shí)施方式，借此對(duì)本發(fā)明如何應(yīng)用技術(shù)手段 來(lái)解決技術(shù)問(wèn)題，并達(dá)成技術(shù)效果的實(shí)現(xiàn)過(guò)程能充分理解并據(jù)以實(shí)施。需要說(shuō)明的是，只要 不構(gòu)成沖突，本發(fā)明各實(shí)施例以及各實(shí)施例中的各個(gè)特征可以相互結(jié)合，所形成的技術(shù)方 案均在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
[0038] 如圖1所示，其中顯示了根據(jù)本發(fā)明的靜校正方法的流程圖。
[0039] 在步驟SlOl中，針對(duì)獲取地震波數(shù)據(jù)資料進(jìn)行縱橫波速度比序列掃描，并確定其 中最優(yōu)的速度比值，其中，地震波數(shù)據(jù)資料包括縱波資料和轉(zhuǎn)換橫波資料。采用縱橫波速度 比掃描法可以獲取針對(duì)縱波和轉(zhuǎn)換橫波的一系列的速度比值。這里可以采用本領(lǐng)域技術(shù)人 員熟知的掃描法來(lái)獲取速度比掃描序列。在確定哪一個(gè)速度比值為最優(yōu)的過(guò)程中，可以將 轉(zhuǎn)換橫波資料在表層上疊加的效果作為確定的準(zhǔn)則來(lái)考慮，從而得到最優(yōu)的表層縱橫波速 1匕。
[0040] 然后，在步驟S102中，根據(jù)得到的最優(yōu)速度比值并結(jié)合針對(duì)縱波檢波點(diǎn)的靜校正 量來(lái)計(jì)算轉(zhuǎn)換橫波中的第一時(shí)間差，并根據(jù)該時(shí)間差對(duì)轉(zhuǎn)換橫波資料進(jìn)行第一次靜校正。
[0041] 在本發(fā)明中，以縱波靜校正的結(jié)果為基礎(chǔ)，假設(shè)<為應(yīng)用過(guò)炮點(diǎn)靜校正量后轉(zhuǎn)換 波道集的走時(shí)。這里，例如以轉(zhuǎn)換波資料表層疊加效果最好為準(zhǔn)則來(lái)得到表層縱橫波速度 比γ_η。4為縱波檢波點(diǎn)校正量。先以常規(guī)的轉(zhuǎn)換波靜校正方法即速度比掃描方法來(lái)求 取第一次靜校正需要的校正量，如公式（1)所示。將最優(yōu)的速度比乘上縱波檢波點(diǎn)校 正量&就是第一時(shí)間差，其為轉(zhuǎn)換橫波檢波點(diǎn)的第一次靜校正需要的校正量。常規(guī)轉(zhuǎn)換波 檢波點(diǎn)靜校正方法校正后的走時(shí)tps如下：
[0042]
⑴
[0043] 接下來(lái)，在步驟S103中，分別在通過(guò)速度分析得到的縱波疊加剖面和轉(zhuǎn)換橫波疊 加剖面上拾取標(biāo)志層位。標(biāo)志層位是在各個(gè)疊加剖面上選取的指示共同反射縱波和轉(zhuǎn)換橫 波的層的位置。在縱波疊加剖面上拾取標(biāo)志層位時(shí)需要考慮到以下因素：其反應(yīng)的是否是 典型的層面，或者是否穩(wěn)定、連續(xù)等?；跇?biāo)志層位的實(shí)質(zhì)特點(diǎn)，即縱波和轉(zhuǎn)換橫波疊加后 在該層上應(yīng)當(dāng)反映相同的信息，并假設(shè)縱波靜校正后的結(jié)果是令人滿意的情況，基于縱波 疊加剖面上的標(biāo)志層位的拾取，同時(shí)在轉(zhuǎn)換橫波疊加剖面上的拾取對(duì)應(yīng)的標(biāo)志層位。也就 是說(shuō)，在本發(fā)明中，以縱波的格架構(gòu)成轉(zhuǎn)換橫波靜校正量求取的約束條件。
[0044] 步驟S104中，考慮到縱波的走時(shí)較短以及其他因素，將縱波疊加剖面的標(biāo)志層位 拉伸到轉(zhuǎn)換橫波疊加剖面對(duì)應(yīng)的時(shí)間上，從而得到兩個(gè)疊加剖面的第二時(shí)間差，基于該第 二時(shí)間差對(duì)已進(jìn)行第一次靜校正的轉(zhuǎn)換橫波資料進(jìn)行第二次靜校正。
[0045] 在常規(guī)靜校正后，進(jìn)行速度分析得到轉(zhuǎn)換波的疊加剖面后，通過(guò)對(duì)比縱波及轉(zhuǎn)換 波疊加剖面找到對(duì)應(yīng)的標(biāo)志層位得到縱橫波速度比Y〇。應(yīng)用這一速度比，將縱波疊加剖 面的標(biāo)志層位拉伸到轉(zhuǎn)換波的時(shí)間上，通過(guò)層位拾取得到二者的走時(shí)，并計(jì)算二者的時(shí)差， Atpi。即為由拾取得到的走時(shí)差，如公式（2)所示。
[0046]
[0047] (3)
[0048] 公式（3)中ζ是計(jì)算出的新的轉(zhuǎn)換波走時(shí)。這樣一來(lái)，轉(zhuǎn)換波疊加道的標(biāo)志層位 時(shí)間便被校正到縱波疊加道拉伸后對(duì)應(yīng)標(biāo)志層位的時(shí)間上了。
[0049] 在步驟S105中，以拉伸后的縱波疊加道為模型道，將對(duì)應(yīng)位置的經(jīng)過(guò)兩次靜校正 的轉(zhuǎn)換橫波ACP道集與模型道進(jìn)行相關(guān)，計(jì)算出所述ACP道集中各道與模型道的第三時(shí)間 差。接下來(lái)，基于該第三時(shí)間差對(duì)經(jīng)過(guò)兩次靜校正的轉(zhuǎn)換橫波資料進(jìn)行第三次靜校正。
[0050] 以前面校正過(guò)的轉(zhuǎn)換波疊加道為模型道，與對(duì)應(yīng)ACP位置動(dòng)校正后的轉(zhuǎn)換波疊 前道相關(guān)，相關(guān)時(shí)窗以標(biāo)志層位時(shí)間為中心，其中Itwin為相關(guān)時(shí)窗長(zhǎng)度，得到相關(guān)時(shí)差 ,如式（4)所示表示模型道與ACP道集互相關(guān)：
[0051]
[0052] 其中，mtr表示模型道，itracp表示ACP道集中的地震道，Δ te"對(duì)應(yīng)于使公式（4) 中互相關(guān)值最大的時(shí)差。
[0053] 在本發(fā)明的實(shí)施例中，通過(guò)采用相關(guān)時(shí)窗來(lái)對(duì)ACP道集與模型道進(jìn)行相關(guān)，從而 得到一系列的相關(guān)時(shí)差。這里，相關(guān)時(shí)窗的長(zhǎng)度的確定與地震資料的品質(zhì)有關(guān)，此外，也可 以根據(jù)工程人員的經(jīng)驗(yàn)來(lái)預(yù)先設(shè)定該長(zhǎng)度值。
[0054] 此時(shí)，將視作這一道對(duì)應(yīng)的檢波點(diǎn)位置的部分檢波點(diǎn)校正量。然而，這一具 體的檢波點(diǎn)可能分別歸屬到許多的ACP道集上。因此，單個(gè)檢波點(diǎn)可得到多個(gè)相關(guān)時(shí)差。 為此，將多個(gè)相關(guān)時(shí)差做平均或者取中值，將其作為最終的與檢波點(diǎn)位置一一對(duì)應(yīng)的相關(guān) 時(shí)差。也就是說(shuō)，求取一系列的相關(guān)時(shí)差的平均值，并將平均值作為第三時(shí)間差。以下公式 (5)中給出的是平均值：
[0055]
(5)
[0056] 這里表示的單一的檢波點(diǎn)對(duì)應(yīng)N個(gè)ACP道集，故單個(gè)檢波點(diǎn)有N個(gè)相關(guān)時(shí)差。于 是，最終的轉(zhuǎn)換波檢波點(diǎn)靜校正可表示成公式（6):
[0057]
[0058] 由式（6)可見(jiàn)，轉(zhuǎn)換波檢波點(diǎn)的靜校正量由三部分構(gòu)成，其中，第一部分為常規(guī)速 度比掃描得到的檢波點(diǎn)校正量，第二部分為拾取得到的校正量，第三部分為相關(guān)得到的校 正量。
[0059] 在高精度縱波靜校正的基礎(chǔ)下，本發(fā)明的方法分三步來(lái)獲得檢波點(diǎn)橫波靜校正 量。首先在通過(guò)速度比掃描的辦法獲得了長(zhǎng)波長(zhǎng)的橫波靜校正量，為后續(xù)的中、短波長(zhǎng)橫波 靜校正奠定了很好的基礎(chǔ)。在基于縱波、轉(zhuǎn)換波疊加剖面目標(biāo)層位構(gòu)造格架一致性的假設(shè) 下，來(lái)校正檢波點(diǎn)中存在的中波長(zhǎng)靜校正量。校正后，實(shí)現(xiàn)了縱波、轉(zhuǎn)換波資料的構(gòu)造格架 的基本一致性，從而為后續(xù)的層位對(duì)比解釋等工作打好了基礎(chǔ)。
[0060] 針對(duì)仍然存在的短波長(zhǎng)靜校正問(wèn)題，采取以標(biāo)志層位時(shí)間為時(shí)窗中心，小時(shí)窗長(zhǎng) 度下的互相關(guān)方法來(lái)得到剩余的短波長(zhǎng)靜校正。這可進(jìn)一步改善資料品質(zhì)，使得信噪比更 高，從而使有效反射軸更加光滑。
[0061] 針對(duì)三種不同波長(zhǎng)的轉(zhuǎn)換波檢波點(diǎn)靜校正量，逐步采用三種不同尺度的靜校正方 法，有針對(duì)性的、分層次的解決好了轉(zhuǎn)換波的靜校正問(wèn)題。
[0062] 本發(fā)明在陸上某區(qū)塊進(jìn)行了試驗(yàn)，取得了較好的效果。下面分別給出了單炮記錄 的靜校正前后的比較。圖2a是靜校正前的單炮記錄，圖2b顯示了采用本發(fā)明的靜校正方 法后的單炮記錄。
[0063] 從這些圖上能明顯的看出，在箭頭指示的位置處?kù)o校正后同相軸更連續(xù)、更光滑。
[0064] 圖3a和3b對(duì)比了常用的速度比掃描方法靜校正疊加剖面和構(gòu)造格架控制靜校正 方法的疊加剖面，從圖中能明顯的看出，構(gòu)造格架控制方法得到的疊加剖面信噪比更高、同 相軸更光滑。
[0065] 根據(jù)本發(fā)明的另一方面，并按照?qǐng)D4所示，其中顯示了一種針對(duì)轉(zhuǎn)換橫波的靜校 正裝置400