無損檢測設備的制造方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及工業(yè)探傷及無損檢測領域，特別涉及一種基于X射線的無損檢測設備。
【背景技術】
[0002]工業(yè)上利用X光檢測的原理是:X射線通過物質被吸收時，可使組成物質的分子分解成為正負離子，稱為電離作用，離子的多少和物質吸收的X射線量成正比。通過空氣或其它物質產生電離作用，利用儀表測量電離的程度就可以計算X射線的量。由成像器轉換成數字信號，再通過計算機輔助軟件還原成圖像以后進行判圖、標注、儲存等。
[0003]目前的X射線檢測設備基本上都是按照行業(yè)定制，不能適應新工件規(guī)格，大小等其他因素的改變，因此，局限性很大。如果檢測一個新工件，就需要重新購買檢測設備，一般檢測設備都比較昂貴，這就會增加企業(yè)的運行成本，且耗時耗力；結構凌亂，占用空間較大，移動不便；另外，使用傳統的檢測設備時，若需要檢測同一個工件的不同側面和角度，就要挪動工件，加上有時工件過于龐大，因此操作起來非常困難。

【發(fā)明內容】

[0004]發(fā)明目的:針對現有技術中存在的問題，本發(fā)明提供一種無損檢測設備，在檢測同一個工件的不同側面和角度時，無需移動工件，只需移動光源，操作輕便，適用范圍廣泛。
[0005]技術方案:本發(fā)明提供了一種無損檢測設備，包括底座、X軸滑軌、Y軸滑軌、Z軸滑軌、能夠在垂直平面內旋轉的C型臂、支架、固定塊、驅動機構、傳動機構、X光機、X射線平板探測器以及可水平移動的載物臺；所述Y軸滑軌水平固定在所述底座上，所述X軸滑軌與所述Y軸滑軌滑動連接且相互垂直，所述支架固定在所述X軸滑軌上，所述Z軸滑軌固定在所述支架上且垂直于所述底座，所述C型臂與所述固定塊轉動連接，所述固定塊與所述Z軸滑軌滑動連接；所述驅動機構通過所述傳動機構與所述支架和所述C型臂驅動連接；所述X光機固定在所述C型臂的上端，所述X射線平板探測器位于所述X光機的正下方且固定在所述C型臂的下端；在檢測時，所述載物臺能夠移動到所述X光機和所述X射線平板探測器之間。
[0006]進一步地，所述驅動機構包含X軸伺服電機、Y軸伺服電機、Z軸伺服電機和C軸伺服電機，所述傳動機構包含X軸傳動桿、Y軸傳動桿、Z軸傳動桿和C軸傳動桿；所述X軸伺服電機通過所述X軸傳動桿與所述支架驅動連接，所述Y軸伺服電機通過所述Y軸傳動桿與所述支架驅動連接，所述Z軸伺服電機通過所述Z軸傳動桿與所述固定塊驅動連接，所述C軸伺服電機通過所述C軸傳動桿與所述C型臂驅動連接。本發(fā)明中的X、Y、Z三軸方向的滑軌以及C型臂的旋轉分別通過一個伺服電機和一個傳動桿驅動，所以可以四軸同時移動，即四軸聯動，相比于傳統的單軸、雙軸聯動，能夠更迅速的調整X光機(即光源)的位置，進行二次或多次檢測，大大節(jié)省了檢測的時間。
[0007]進一步地，所述的無損檢測設備還包含防護鉛房，所述X軸滑軌、所述Y軸滑軌、所述Z軸滑軌、所述C型臂、所述支架、所述固定塊、所述X光機以及所述X射線平板探測器均位于所述防護鉛房外部；在檢測前，所述載物臺位于所述防護鉛房內；在檢測時，所述載物臺通過所述防護鉛房的屏蔽門移動到所述X光機和所述X射線平板探測器之間。防護鉛房的設置有效將操作工與光源隔離開來，在載物臺將待檢測工件送達X光機和X射線平板探測器之間后，屏蔽門關閉，緊接著驅動機構按照設定好的程序進行移動和旋轉C型臂，當C型臂到達預定位置并調整好拍攝角度之后，X光機(即光源)自動打開并拍照檢測，隨即儲存到計算機當中；檢測完畢之后，屏蔽門自動打開，載物臺自動將已檢測好的工件移除并檢查下一待檢測工件，以此類推，有效避免光源對操作工身體的輻射。
[0008]進一步地，所述的無損檢測設備還包含人機交互控制裝置，所述人機交互控制裝置固定在所述防護鉛房外部。人機交互控制裝置與防護鉛房固定在一起，方便設備的整體移動。
[0009]進一步地，所述防護鉛房的側面還設有維護門。維護門的設置便于用戶對設備進行安裝調試和維修。
[0010]進一步地，所述維護門上設有自鎖機構，在所述載物臺移動到所述X光機和所述X射線平板探測器之間后，所述自鎖機構自動將所述維護門鎖死。自鎖機構能有效防止用戶在設備運行時打開維護門受到光源的輻射傷害。
[0011]優(yōu)選地，所述載物臺為轉盤式載物臺或滾筒式載物臺。轉盤式和滾筒式的載物臺使得放置工件可以完全自動化，減少人力成本。
[0012]有益效果:本發(fā)明中的X光機和X射線平板探測器分別固定在C型臂的上下端，且該C型臂能夠在垂直平面內順時針或逆時針轉動，待檢測工件通過載物臺移動到X光機與X射線平板探測器之間進行檢測，當需要檢測待檢測工件的不同側面和角度時，只需控制驅動機構通過傳動機構驅動C型臂逆時針或順時針旋轉，此時X光機和X射線平板探測器也就跟著旋轉，即實現了光源和光源探測器的旋轉，如此就能夠實現在待檢測工件不動的情況下對其進行多方位的缺陷檢測，精確查找并定位缺陷、瑕疵點(或區(qū)域)的幾何位置，判斷更為精準，直觀；可以大幅度提高本設備對各類工件的適應能力，擴大本設備使用行業(yè)的局限性；尤其是當待檢測工件較大不便移動時更加凸顯本發(fā)明的優(yōu)勢，操作更加輕便簡單，除此之外，本發(fā)明中的X光機和X射線平板探測器也可以根據檢測要求進行更換以適應不同的工件，C型臂也能夠上下左右前后移動，適用性更廣泛；本設備結構緊湊，體積較小，占用空間小，移動、搬運較為方便。
【附圖說明】
[0013]圖1為無損檢測設備的立體結構示意圖；
圖2為無損檢測設備的側視圖。
【具體實施方式】
[0014]下面結合附圖對本發(fā)明進行詳細的介紹。
[0015]實施方式1:
本實施方式提供了一種無損檢測設備，如圖1和2所示，該設備主要由底座1、X軸滑軌
2、Y軸滑軌3、Z軸滑軌4、C型臂5、支架6、固定塊7、驅動機構、傳動機構、X光機8、X射線平板探測器9以及載物臺10組成，Y軸滑軌3水平固定在底座I上，X軸滑軌2與Y軸滑軌3相互垂直且滑動連接，支架6固定在X軸滑軌2上，Z軸滑軌4固定在支架6上且與底座I垂直，固定塊7與Z軸滑軌4滑動連接，C型臂5轉動固定在固定塊7上，且C型臂5所在平面在初始時狀態(tài)下垂直于底座I所在平面，驅動機構通過傳動機構與支架6和C型臂5驅動連接，C型臂5能夠在驅動機構的驅動下在垂直平面內順時針或逆時針旋轉，支架6能夠在驅動機構的驅動下沿X軸滑軌2和Y軸滑軌3左右、前后滑動，進而帶動C型臂5左右、前后移動，固定塊7能夠在驅動機構的驅動下沿Z軸滑軌4上下滑動，進而帶動C型臂5上下移動，C型臂5能夠在驅動機構的驅動下在垂直平面內順時針或逆時針轉動；X光機8和X射線平板探測器9分別固定在C型臂5的上下端，且二者中心點在同一直線上，載物臺10能夠在水平方向上移動，在檢測時，載物臺10載著待檢測工件移動到X光機8與X射線平板探測器9之間。
[0016]在檢測前，除載物臺10之外其它上述各部件均可以設置在防護鉛房11內部，在檢測時，載物臺10載著待檢測工件100從防護鉛房11的屏蔽門111移動到防護鉛房11內、X光機8和X射線平板探測器9之間；在防護鉛房11的側面還開設有維護門，以便于用戶對設備進行安裝維護；為了防止設備運行時用戶不小心打開維護門受到光源輻射，在維護門上還可以設置自鎖機構，在載物臺10載著待檢測工件100移動到X光機8和