>[0031]其中:
[0032]1-光源，2_標準標革E，3-平行光管，4_標準鏡頭，5-暗室，6_光電傳感器，7_多維調(diào)整臺，8-隔震光學平臺。
【具體實施方式】
[0033]為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明中的技術(shù)方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都應(yīng)當屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0034]參見圖1，為本發(fā)明實施例提供的一種成像芯片MTF值的自動測試方法的流程示意圖A。如圖所示，該自動測試方法，包括以下步驟:
[0035]在步驟S101中，獲取在設(shè)置有被測成像芯片的光電傳感器的模擬使用狀態(tài)下，在初始測試位置時，采集到的圖像可達到的清晰度范圍。
[0036]當做針對成像芯片的MTF測試時，要將測試環(huán)境模擬此成像芯片使用在光電傳感器中時的狀態(tài)，這樣的話，得到的測試結(jié)果所反映光電傳感器之間的性能差異才能在真實使用中反映出來。此處所指的模擬使用狀態(tài)可以包括:獲取模擬曝光量和模擬光波波長。例如可以將曝光量設(shè)定為滿曝光量的65% -75%之間，來模擬使用狀態(tài)，這樣做也能排除曝光量對測試MTF的影響。并且選定最符合此成像芯片的使用狀態(tài)的光源的波長，例如紅外相機使用的成像芯片的測試光源一定是紅外光。
[0037]我們知道在獲取圖像時，使用不同種類、批次或品牌的成像芯片的光電傳感器，在相同的位置采集的圖像的清晰度也不同，因此預設(shè)針對測試成像芯片的清晰度范圍值，有助于快速獲得最精準的測試位置，即對標準標靶成像最清晰的位置。
[0038]在步驟S102中，在所述初始測試位置下，采集包含所述標準標靶的一組初始圖像。
[0039]在光電傳感器的MTF測試中，標靶、平行光管、鏡頭以及成像芯片等各部分均會對測試結(jié)果產(chǎn)生修正，因此在利用MTF已知的標準標靶、平行光管、標準鏡頭時，測出的設(shè)置有被測成像芯片的光電傳感器的MTF就可以完全反應(yīng)被測成像芯片的差異。當然上述一組中采集的次數(shù)可以設(shè)定為一次或多次。
[0040]在步驟S103中，判斷所述包含所述標準標靶的一組初始圖像的清晰度是否均介于所述清晰度范圍內(nèi)。
[0041]若是則進入步驟S103A:繼續(xù)獲取包含所述標準標靶的下一組圖像。
[0042]若否，則進入步驟S103B:改變所述光電傳感器相對所述標準標靶的位置至當前測試位置。
[0043]本發(fā)明實施例提供的成像芯片MTF值的自動測試方法，可以作為MTF值計算的圖像是在此次測試中清晰度最佳的圖像，否則測試結(jié)果是不可信的。而實際測試中，放置被測試光電傳感器的位置相對標準標靶的位置并不可能是每個被測試的成像芯片的最佳測試位置，因此利用上述的判斷過程，快速找到成像芯片的最佳測試位置關(guān)系到測試的效率和精度。因為成像芯片相對標準標靶的三維方向上的任一改變都對采集圖像的清晰度有影響，而清晰度又與最佳測試位置的確定相關(guān)，因此上述的改變所述光電傳感器相對所述標準標靶的位置至當前測試位置的路徑可以有很多可能性，可以按照如下的控制方式進行，請結(jié)合參考圖2，該圖示出了圖2為本發(fā)明實施例提供的一種成像芯片MTF值的自動測試方法的流程示意圖B。
[0044]在步驟S103B01:以所述標準標靶的位置為原點，調(diào)整所述光電傳感器相對所述原點的三維方向上的至少一個方向的距離。
[0045]在步驟S103B02:調(diào)整所述光電傳感器相對于所述標準標靶所在的平面的角度。
[0046]可以利用架設(shè)在所述被測光電傳感器下方的多維調(diào)整臺來改變所述光電傳感器相對所述標準標靶的位置。多維調(diào)整臺是可以使得放置其上的光電傳感器，即被測成像芯片相對標準標靶發(fā)生上下、左右、前后和360度的轉(zhuǎn)動的調(diào)整臺。
[0047]在步驟S104中，在所述當前測試位置下，采集包含所述標準靶標的一組當前圖像。
[0048]在步驟S105中，判斷所述包含所述標準標靶的一組當前圖像的清晰度是否均大于所述上一組圖像的清晰度。
[0049]若是，則將所述當前測試位置作為測試位置。
[0050]若否，則將上一組圖像對應(yīng)的測試位置作為較佳測試位置。
[0051]此處對于較佳測試位置的確定過程中，采集的圖像的清晰度應(yīng)該經(jīng)過從小變大，再從大變小的變化，即拐點清晰度的圖像對應(yīng)的測試位置應(yīng)該是較佳測試位置。這樣將清晰度范圍縮小至此拐點清晰度和預設(shè)的清晰度范圍的最大值之間。那么當前的測試位置比初始測試位置一定更接近于最佳測試位置。這樣的調(diào)整過程相比于一次將測試位置調(diào)整至最佳測試位置的方式更高效。
[0052]在步驟S106中，在所述較佳測試位置下，采集一組測試圖像。
[0053]在步驟S107中，根據(jù)所述測試圖像計算MTF值，且選擇其中的最大值作為所述成像芯片的MTF測試結(jié)果。
[0054]由上述技術(shù)方案可見，本發(fā)明提供的上述測試方法，可以利用特定的計算機軟件程序，實現(xiàn)了對被測成像芯片位置的微調(diào)過程的自動化控制，整個測試方法的自動化程度較高，大大減少了整個測試環(huán)節(jié)中的人為影響，可以滿足日益增長的市場需求。
[0055]當然，如上述技術(shù)方案中提到的，這樣將清晰度范圍縮小至拐點清晰度和預設(shè)的清晰度范圍的最大值之間，并不能保證當前測試位置就一定是最佳測試位置。但是基于自動化測試的發(fā)明目的已經(jīng)實現(xiàn)了，而且整個測試過程的工作效率較高。為了獲取最精準的測試結(jié)果，該方法還可以包括以下技術(shù)方案，請結(jié)合參考圖3，該圖示出了該圖示出了本發(fā)明實施例提供的一種成像芯片MTF值的自動測試方法的流程示意圖C。
[0056]在步驟S106之后，還包括在步驟S106B中，判斷所述較佳測試位置相對應(yīng)的圖像的清晰度是否為所述清晰度范圍內(nèi)的最大值。
[0057]若是，則將所述較佳測試位置作為最佳測試位置；若否，則改變所述光電傳感器相對所述標準標靶的位置至當前測試位置。
[0058]這是上述技術(shù)方案的優(yōu)選技術(shù)方案，得到的MTF測試結(jié)果是最精確的。在實際應(yīng)用中，是否選擇此優(yōu)選方案，測試人員可根據(jù)預設(shè)的清晰度的范圍跨度和測試精確度要求自行決定。當預設(shè)的精確度范圍較小或測試精確度要求較低時，可以采用上述較佳測試位置的圖像作為測試圖像，反之則否。
[0059]同時，本發(fā)明是提供了一種成像芯片MTF值的自動測試系統(tǒng)，用于實現(xiàn)上述方法，請參考圖4，該圖示出了本發(fā)明實施例提供的一種成像芯片MTF值的自動測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖所示，所述測試系統(tǒng)包括依次排列的光源1、成像系統(tǒng)和設(shè)置被測成像芯片的光電傳感器6 ;所述成像系統(tǒng)包括依次排列的標準標靶2、平行光管3和標準鏡頭4，所述光源1照向所述標準標靶2的光通過所述平行光管3后，經(jīng)所述標準鏡頭4匯聚于所述光電傳感器6內(nèi)的圖像采集系統(tǒng)。本測試系統(tǒng)的光源選擇，可以是目前使用的LED面光源，也可以是出口直徑滿足要求的積分球，二者均可以滿足測試系統(tǒng)對光源的使用要求。本測試系統(tǒng)的標準鏡頭4需要和平行光管3滿足一定