的比例關(guān)系。在實際測試中，將設(shè)置被測成像芯片的光電傳感器6與標準鏡頭4相配合，并安置于暗室6中。暗室的內(nèi)部可以采用階梯狀螺紋設(shè)計，可以起到消除雜散光的作用，從而進一步提高光源發(fā)出光線的均勻性，有利于MTF測試的準確性。
[0060]上述測試系統(tǒng)還包括圖像處理系統(tǒng)，所述圖像處理系統(tǒng)與所述圖像采集系統(tǒng)電連接；還包括架設(shè)且固定在所述被測光電傳感器下方的多維調(diào)整臺7，所述圖像處理系統(tǒng)與所述多維調(diào)整臺7的全角度控制器電連接。這樣的測試系統(tǒng)，形成了從圖像采集到測試位置調(diào)整之間的反饋電路，而且在硬件設(shè)備上，構(gòu)造簡單，僅僅利用了多維調(diào)整臺的全角度調(diào)整器對被測光電傳感器位置的調(diào)控，而全角度調(diào)整器的調(diào)控是由圖像處理系統(tǒng)的控制的。
[0061]為了排除測試空間中的一切震動對測試結(jié)果產(chǎn)生干擾，所述光源1、成像系統(tǒng)、光電傳感器6以及所述多維調(diào)整臺7均位于隔震光學平臺8上。
[0062]進一步對上述測試系統(tǒng)進行優(yōu)化，所述圖像處理系統(tǒng)包括:依次電連接的圖像清晰度分析模塊和圖像MTF計算模塊；所述圖像清晰度分析模塊與所述圖像采集系統(tǒng)電連接。
[0063]工作過程為:不論在初始測試位置、當前測試位置、較佳測試位置或最佳測試位置，圖像采集系統(tǒng)采集的圖像發(fā)送至圖像清晰度分析模塊，在此模塊中，計算本圖像的清晰度并與獲取的預(yù)設(shè)的清晰度范圍值進行比較，判斷結(jié)果將傳送至多維調(diào)整臺的全角度控制器中，并觸發(fā)全角度控制器采用任一規(guī)定的策略移動，可以先在上下方向移動，每次移動后均重復上述判斷過程，且將造成判斷結(jié)果為否的移動方向儲存為錯誤方向，下一次移動時，沿與上述錯誤方向的相反反向移動，即不停的修正上一次移動直至找到上述的較佳測試位置或最佳測試位置。當然上述策略，這在現(xiàn)有的技術(shù)下，可以有很多選擇，本發(fā)明在此不做限定，只要能實現(xiàn)最佳測試位置確定的策略均在本發(fā)明實施例提供的一種成像芯片MTF值的自動測試方法和系統(tǒng)的保護范圍內(nèi)。
[0064]通過以上的方法實施例的描述，所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本發(fā)明可借助軟件加必需的通用硬件平臺的方式來實現(xiàn)，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可以是個人計算機，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括:只讀存儲器(R0M)、隨機存取存儲器(RAM)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。
[0065]以上所述僅是本發(fā)明的【具體實施方式】，使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠理解或?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明。對這些實施例的多種修改對本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種成像芯片MTF值的自動測試方法，其特征在于，包括以下步驟: 獲取在設(shè)置有被測成像芯片的光電傳感器的模擬使用狀態(tài)下，當標準鏡頭與所述光電傳感器之間的相對位置位于初始測試位置時，采集到的圖像可達到的清晰度范圍； 在所述初始測試位置下，采集包含所述標準標靶的一組初始圖像； 判斷所述包含所述標準標靶的一組初始圖像的清晰度是否均介于所述清晰度范圍內(nèi)，若是則繼續(xù)獲取包含所述標準標靶的下一組圖像，若否，則改變所述光電傳感器相對所述標準標靶的位置至當前測試位置； 在所述當前測試位置下，采集包含所述標準靶標的一組當前圖像； 判斷所述包含所述標準標靶的一組當前圖像的清晰度是否均大于所述上一組圖像的清晰度，若是則將所述當前測試位置作為測試位置；若否，則將上一組圖像對應(yīng)的測試位置作為較佳測試位置； 在所述較佳測試位置下，采集一組測試圖像； 根據(jù)所述測試圖像計算MTF值，且選擇其中的最大值作為所述成像芯片的MTF測試結(jié)果Ο2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像芯片MTF值的自動測試方法，其特征在于，所述獲取在模擬設(shè)置有被測成像芯片的被測光電傳感器的模擬使用狀態(tài)包括:獲取模擬曝光量和模擬光波波長。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像芯片MTF值的自動測試方法，其特征在于，在所述在所述較佳測試位置下，采集一組測試圖像之后還包括: 判斷所述較佳測試位置相對應(yīng)的圖像的清晰度是否為所述清晰度范圍內(nèi)的最大值；若是，則將所述較佳測試位置作為最佳測試位置；若否，則改變所述光電傳感器相對所述標準標靶的位置至當前測試位置。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像芯片MTF值的自動測試方法，其特征在于，在所述判斷所述包含所述標準標靶的一組當前圖像的清晰度是否均介于所述清晰度范圍內(nèi)，若否，則改變所述光電傳感器相對所述標準標靶的位置至當前測試位置包括: 以所述標準標靶的位置為原點，調(diào)整所述光電傳感器相對所述原點的三維方向上的至少一個方向的距離； 調(diào)整所述光電傳感器相對于所述標準標靶所在的平面的角度。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的成像芯片MTF值的自動測試方法，其特征在于，利用架設(shè)在所述被測光電傳感器下方的多維調(diào)整臺來改變所述光電傳感器相對所述標準標靶的位置。6.一種成像芯片MTF值的自動測試系統(tǒng)，其特征在于，包括依次排列的光源、成像系統(tǒng)和設(shè)置被測成像芯片的光電傳感器；所述成像系統(tǒng)包括依次排列的標準標靶、平行光管和標準鏡頭，所述光源照向所述標準標靶的光通過所述平行光管后，經(jīng)所述標準鏡頭匯聚于所述光電傳感器內(nèi)的圖像采集系統(tǒng)； 還包括圖像處理系統(tǒng)，所述圖像處理系統(tǒng)與所述圖像采集系統(tǒng)電連接；還包括架設(shè)且固定在所述被測光電傳感器下方的多維調(diào)整臺，所述圖像處理系統(tǒng)與所述多維調(diào)整臺的全角度控制器電連接。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種成像芯片MTF值的自動測試系統(tǒng)，其特征在于，所述光源、成像系統(tǒng)、光電傳感器以及所述多維調(diào)整臺均位于隔震光學平臺上。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種成像芯片MTF值的自動測試系統(tǒng)，其特征在于，所述圖像處理系統(tǒng)包括:依次電連接的圖像清晰度分析模塊和圖像MTF計算模塊；所述圖像清晰度分析模塊與所述圖像采集系統(tǒng)電連接。
【專利摘要】本發(fā)明實施公開了一種成像芯片MTF值的自動測試方法，在測試前，設(shè)定本次測試的圖像清晰度范圍；在所述初始測試位置下，采集初始圖像；判斷其清晰度是否均介于所述范圍內(nèi)，若是則繼續(xù)獲取下一圖像，若否，則改變光電傳感器相對標準標靶的位置至當前測試位置后，再采集當前圖像；判斷所述當前圖像的清晰度是否均大于上一組，若是則將當前測試位置作為測試位置；若否，則將上一組圖像對應(yīng)的測試位置作為較佳測試位置；在較佳測試位置下采集測試圖像。此外，本發(fā)明還提供了一種成像芯片MTF值的自動測試系統(tǒng)，用于實現(xiàn)上述方法。本發(fā)明實現(xiàn)了對被測成像芯片位置的微調(diào)過程的自動化控制，減少了測試中的人為影響，達到了較高精度測試成像芯片MTF值的目的。
【IPC分類】G01D18/00
【公開號】CN105371885
【申請?zhí)枴緾N201510660965
【發(fā)明人】林海峰, 楊藝, 張勇
【申請人】凌云光技術(shù)集團有限責任公司
【公開日】2016年3月2日
【申請日】2015年10月14日