夠提高工作的效率性。
[0120]〈第二實施方式〉
[0121]接著，參照圖9?圖11說明本發(fā)明的第二實施方式。理想的是將第二實施方式應(yīng)用于統(tǒng)一處理方式。
[0122]圖9是表示第二實施方式的超聲波檢查方法的處理的概要的圖。
[0123]此外，圖9所示的處理是對圖3所示的被檢測體進行第二實施方式的超聲波檢查處理的例子。
[0124]另外，在圖9中，對與圖4相同的結(jié)構(gòu)附加相同的符號并省略說明。
[0125]檢查裝置100在圖4中無法檢測出觸發(fā)點的測定點P2、P5、P7，根據(jù)前后的測定點的觸發(fā)點TP計算插補值，將該插補值設(shè)定為測定點P2、P5、P7的插補觸發(fā)點TPS。
[0126]具體地說，檢查裝置100將測定點P1、P3的觸發(fā)點TP1、TP3的時刻平均值設(shè)定為測定點Ρ2的插補觸發(fā)點TPS2的時刻。同樣，檢查裝置100將測定點Ρ4、Ρ6的觸發(fā)點ΤΡ4、ΤΡ6的時刻平均值設(shè)定為測定點Ρ5的插補觸發(fā)點TPS5的時刻。另外，檢查裝置100將測定點Ρ6、Ρ8的觸發(fā)點ΤΡ6、ΤΡ8的時刻平均值設(shè)定為測定點Ρ7的插補觸發(fā)點TPS7的時刻。
[0127]由此，在圖4所示的方法中，即使在無法取得觸發(fā)點ΤΡ的測定點Ρ2、Ρ5、Ρ7，也能夠設(shè)定插補觸發(fā)點TPS。其結(jié)果是檢查裝置100即使在圖4中無法設(shè)定F選通FG的測定點Ρ2、Ρ5、Ρ7，也能夠設(shè)定F選通FG。
[0128]除此以外，相對于第一實施方式的技術(shù)，可以將插補后的F選通FG的位置設(shè)定為反映了被檢測體2的傾斜的位置。
[0129]圖10是表示使用了第二實施方式的超聲波檢查方法的結(jié)果而得到的檢查圖像的例子的圖。
[0130]進行了圖9所示的處理的結(jié)果是，由于被檢測體2表面的異質(zhì)性301，在比較例子的技術(shù)中，在如圖5(a)所示產(chǎn)生了數(shù)據(jù)缺失的測定點P2、P5、P7，能夠如圖10所示將與內(nèi)部構(gòu)造物S2的有無有關(guān)的信息正確地顯示為檢查圖像。
[0131](流程圖)
[0132]圖11是表示第二實施方式的超聲波檢查方法的詳細(xì)處理步驟的流程圖。適當(dāng)?shù)貐⒄請D2。
[0133]首先，判定部113判定是否通過取得部112取得了波形數(shù)據(jù)(S201)。
[0134]在步驟S201的結(jié)果是沒有取得波形數(shù)據(jù)的情況下(S201—否)，處理部111將處理返回到步驟S201，等待波形數(shù)據(jù)的取得。
[0135]在步驟S201的結(jié)果是取得了波形數(shù)據(jù)的情況下(步驟S201—是)，判定部113判定是否對所有的測定點完成了波形數(shù)據(jù)的取得(S202)。
[0136]在步驟S202的結(jié)果是沒有完成對所有測定點的波形數(shù)據(jù)取得的情況下(S202—否)，處理部111將處理返回到步驟S201，取得下一個測定點的波形數(shù)據(jù)。
[0137]在步驟S202的結(jié)果是完成了對所有測定點的波形數(shù)據(jù)取得的情況下(S202—是)，S選通處理部114選擇一個波形數(shù)據(jù)，進行S選通處理(S203)。
[0138]接著，判定部113判定是否對所有的測定點完成了S選通處理(S204)。
[0139]在步驟S204的結(jié)果是沒有對所有的測定點完成S選通處理的情況下(S204—否)，處理部111將處理返回到步驟S203。
[0140]在步驟S204的結(jié)果是對所有的測定點完成了S選通處理的情況下(S204—是)，判定部113判定是否對最初的波形數(shù)據(jù)檢測出觸發(fā)點(S205)。
[0141]在步驟S205的結(jié)果是能夠檢測出觸發(fā)點的情況下(S205—是)，處理部111將處理前進到步驟S209。
[0142]在步驟S205的結(jié)果是無法檢測出觸發(fā)點的情況下(S205—否)，判定部113判定是否能夠?qū)Τ蔀樘幚韺ο蟮牟ㄐ螖?shù)據(jù)進行插補(S206)。是否能夠插補是指是否能夠進行插補值的計算。具體地說，判定部113判定在成為處理對象的波形數(shù)據(jù)的前后是否存在通過S選通處理檢測出的觸發(fā)點。
[0143]在步驟S206的結(jié)果是不能夠進行插補的情況下(S206—否)，處理部111將處理前進到步驟S210。
[0144]在步驟S206的結(jié)果是能夠進行插補的情況下(S206—是)，觸發(fā)點設(shè)定處理部115根據(jù)成為處理對象的波形數(shù)據(jù)的前后的波形數(shù)據(jù)，計算觸發(fā)點的插補值(S207)。插補值的計算方法是前后的觸發(fā)點的平均值等。
[0145]接著，觸發(fā)點設(shè)定處理部115將計算出的插補值設(shè)定為成為處理對象的波形數(shù)據(jù)的插補觸發(fā)點(S208)。
[0146]然后，F(xiàn)選通處理部116基于在步驟S205中檢測出的觸發(fā)點、或在步驟S208中設(shè)定的插補觸發(fā)點，進行F選通處理(S209)。對于F選通處理在上述已經(jīng)說明，因此此處省略說明。
[0147]接著，處理部111判定是否對所有的測定點完成了步驟S205?S209的處理(S210)。
[0148]在步驟S210的結(jié)果是沒有對所有的測定點完成步驟S205?S209的處理的情況下(S210—否)，處理部111將處理返回到步驟S205，對下一個測定點的波形數(shù)據(jù)進行處理。
[0149]在步驟S209的結(jié)果是對所有的測定點完成了步驟S205?S209的處理的情況下(S210—是)，處理部111結(jié)束處理。
[0150]此外，在第二實施方式中，觸發(fā)點設(shè)定處理部115將成為處理對象的前后的波形數(shù)據(jù)的觸發(fā)點的平均作為插補觸發(fā)點TPS，但插補值的計算方法并不限于此。例如，也可以按照無法檢測出觸發(fā)點的測定點+1的個數(shù)，分割檢測出的觸發(fā)點間，將該分割點作為插補值。例如，在3處連續(xù)的測定點P22?P24(未圖示)中沒有檢測出觸發(fā)點，而在測定點P21、P25(未圖示)中檢測出觸發(fā)點的情況下，觸發(fā)點設(shè)定處理部115也可以進行以下的處理。即，觸發(fā)點設(shè)定處理部115也可以對在測定點P21檢測出的觸發(fā)點的時刻和在測定點P25檢測出的觸發(fā)點的時刻之間進行4分割，將各個分割點設(shè)定為測定點P22?P24各自的插補觸發(fā)點的時刻。
[0151]在這樣對檢測出觸發(fā)點的測定點間進行分割，將該分割點作為插補觸發(fā)點的情況下，也可以進行以下這樣的處理。即，在圖11的步驟S207中，觸發(fā)點設(shè)定處理部115也可以計算在前后幾個測定點是否沒有檢測出觸發(fā)點。然后，觸發(fā)點設(shè)定處理部115也可以按照沒有檢測出觸發(fā)點的測定點+1的個數(shù)，將檢測出觸發(fā)點的時刻間進行分割，由此計算插補值。
[0152]或者，在對檢測出觸發(fā)點的測定點之間進行分割，將該分割點作為插補觸發(fā)點的情況下，也可以進行以下的處理。即，觸發(fā)點設(shè)定處理部115在圖11的步驟S205中判定為“否”的情況下，對判定為“否”的個數(shù)進行計數(shù)。然后，觸發(fā)點設(shè)定處理部115如果在步驟S205中判定為“是”，則按照在步驟S205中判定為“否”的個數(shù)+1來分割檢測出觸發(fā)點的時刻間。接著，觸發(fā)點設(shè)定處理部115也可以將各個分割點設(shè)為沒有檢測出觸發(fā)點的測定點的插補觸發(fā)點的時刻。在該情況下，觸發(fā)點設(shè)定處理部115也可以在對所有測定點進行了 S1選通的處理后，進行S2選通的處理。
[0153]另外，也可以使用函數(shù)等，設(shè)定各自的補足值。
[0154]根據(jù)以上的處理，檢查裝置100根據(jù)在成為處理對象的波形數(shù)據(jù)的前后取得的波形數(shù)據(jù)的觸發(fā)點的值，計算該觸發(fā)點的插補值。然后，檢查裝置100將該計算出的插補值設(shè)為成為處理對象的波形數(shù)據(jù)的觸發(fā)點(插補觸發(fā)點)。由此，檢查裝置100能夠在接近實際的觸發(fā)點的值(時刻)設(shè)定進行了補足的觸發(fā)點。
[0155]〈第三實施方式〉
[0156]接著，參照圖12?圖15說明本申請發(fā)明的第三實施方式。在第三實施方式和后述的第四實施方式中，說明存在2個S選通的情況。此外，理想的是將第三實施方式應(yīng)用于同時處理方式，但也可以應(yīng)用于統(tǒng)一處理方式。
[0157](被檢測體)
[0158]圖12是表示第三、第四實施方式的被檢測體的例子的圖。在圖12中，對與圖3相同的結(jié)構(gòu)附加相同的符號并省略說明。
[0159]在此，與圖3同樣地，相對于水平面傾斜地配置了被檢測體2。
[0160]在測定點？1、？3、？5、？7中存在內(nèi)部構(gòu)造52。另外，在測定點？2、？5、？7中，在被檢測體2表面存在異質(zhì)性301。進而，在測定點P4、P7中，在內(nèi)部界面S1也存在異質(zhì)性301。
[0161](處理概要)
[0162]圖13是表示第三實施方式的超聲波檢查方法的概要的圖。
[0163]此外，在圖13中，對與圖4、圖6相同的結(jié)構(gòu)附加相同的符號并省略說明。
[0164]在此，檢查裝置100進行S1選通SGa的檢測，基于該S1選通SGa的S選通位置，檢測S2選通SGb。然后，檢查裝置100根據(jù)S2選通SGb，在F選通位置設(shè)定F選通FG。
[0165]在此，在普通的跟蹤選通方式中，在測定點P2由于被檢測體2表面的異質(zhì)性301，沒有檢測出S1選通SGa，而在測定點P4由于內(nèi)部界面S1的異質(zhì)性301，沒有檢測出S2選通SGb。另外，在普通的跟蹤選通方式中，在測定點P5由于被檢測體2表面的異質(zhì)性301，沒有檢測出S1選通SGa，而在測定點P7由于被檢測體2表面和內(nèi)部界面S1的異質(zhì)性301，沒有分別檢測出S1選通SGa、S2選通SGb。
[0166]因此，檢查裝置100將測定點P1的S1選通SGa的觸發(fā)點TP11作為測定點P2的S1選通SGa的插補觸發(fā)點TPS21。同樣，檢查裝置100將測定點P3的S2選通SGb的觸發(fā)點TP32作為測定點P4的S2選通SGb的插補觸發(fā)點TPS42。另外，檢查裝置100將測定點P4的S1選通SGa的觸發(fā)點TP41作為測定點P5的S1選通SGa的插補觸發(fā)點TPS51。進而，檢查裝置100將測定點P6的S1選通SGa和S2選通SGb的觸發(fā)點TP6UTP62分別作為測定點P7的S1選通SGa和S2選通SGb的插補觸發(fā)點TPS71、TPS72。
[0167]由此，檢查裝置100在無法檢測出S1選通SGa的測定點P2、P5、P7、以及無法檢測出S2選通SGb的測定點P4、P7，也能夠確定F選通FG。
[0168]圖14是表示使用第三實施方式的超聲波檢查方法的結(jié)果而得到的檢查圖像的例子的圖。
[0169]進行了圖13所示的處理的結(jié)果是，在由于被檢測體2表面、內(nèi)部界面S1的異質(zhì)性301而產(chǎn)生了數(shù)據(jù)缺失的測定點P2、P4、P5、P7中，能夠如圖14所示那樣正確地將與內(nèi)部構(gòu)造物的有無相關(guān)的信息顯示為檢查圖像。
[0170](流程圖)
[0171]圖15是表示第三實施方式的超聲波檢查方法的詳細(xì)處理步驟的流程圖。適當(dāng)?shù)貐⒄請D2。
[0172]首先，判定部113判定通過取得部112是否取得了波形數(shù)據(jù)(S301)。
[0173]在步驟S301的結(jié)果是沒有取得波形數(shù)據(jù)的情況下(S301—否)，處理部111將處理返回到步驟S301，等待波形數(shù)據(jù)的取得。
[0174]在步驟S