測(cè)試座的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明關(guān)于一種測(cè)試座，尤其是關(guān)于用以測(cè)試具有電性接點(diǎn)的物件的測(cè)試座。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的發(fā)展，電子裝置已普及化至個(gè)人使用者，常見(jiàn)的電子裝置包括桌上型電腦、筆記型電腦、智能型手機(jī)以及平板電腦等，其中，該些電子裝置中皆包含有至少一電路板，且電路板上可設(shè)置至少一電子元件，該些電子元件可執(zhí)行特定的功能，且藉由該些電子元件共同運(yùn)作，使電子裝置得以被驅(qū)動(dòng)且運(yùn)作。其中，電路板上包含有多個(gè)導(dǎo)電接點(diǎn)，以電性連接于該些電子元件。
[0003]對(duì)于電子裝置制造商而言，電子裝置于制造過(guò)程中必須經(jīng)過(guò)測(cè)試以確?？烧９ぷ鳌６娮友b置的測(cè)試包括對(duì)電子裝置的電路板的測(cè)試以及對(duì)制造完成的電子裝置進(jìn)行完整性的測(cè)試，對(duì)電路板的測(cè)試是為了避免于電子裝置組裝完成之后發(fā)現(xiàn)電路板有缺陷存在，必須拆卸電子裝置來(lái)除錯(cuò)所造成的工時(shí)浪費(fèi)的缺失。
[0004]接下來(lái)說(shuō)明測(cè)試電路板的測(cè)試座的結(jié)構(gòu)。請(qǐng)參閱圖1，其為現(xiàn)有測(cè)試座的結(jié)構(gòu)示意圖。現(xiàn)有測(cè)試座I包括座體11、承載座12、塑料板體13以及多個(gè)測(cè)試探針14，承載座12設(shè)置于座體11上，且其功能為承載被測(cè)試的電路板10。塑料板體13設(shè)置于座體11上且位于承載座12的上方，塑料板體13的功能為設(shè)置多個(gè)測(cè)試探針14于其上，其中塑料板體13可因應(yīng)使用者的操作而相對(duì)于座體11移動(dòng)，以接近或遠(yuǎn)離承載座12。多個(gè)測(cè)試探針14穿設(shè)于塑料板體13上且多個(gè)測(cè)試探針14與塑料板體14的下表面垂直，使得多個(gè)測(cè)試探針14可于塑料板體13接近承載座12時(shí)，與承載座12上的電路板10接觸。
[0005]當(dāng)電路板10被放置于承載座12上而欲被測(cè)試時(shí)，使用者操作而使塑料板體13往下移動(dòng)，且多個(gè)測(cè)試探針14分別與電路板10上所對(duì)應(yīng)的多個(gè)電性接點(diǎn)(未顯示于圖中)接觸。之后供電予電路板10以偵測(cè)電路板10上的多個(gè)電性接點(diǎn)的電性功能(例如電阻值、電容值或電感值等)，最后，擷取該些電性功能的實(shí)際數(shù)值且與預(yù)設(shè)的電性數(shù)值比較，而判斷該些電性接點(diǎn)正常或異常，以決定電路板10是否通過(guò)測(cè)試。于測(cè)試電路板10的過(guò)程中，由于多個(gè)測(cè)試探針14分別與多個(gè)電性接點(diǎn)接觸而造成負(fù)電離子的移動(dòng)而會(huì)產(chǎn)生靜電放電效應(yīng)，其造成電路板10損壞的機(jī)率很高。
[0006]因此，需要一種可避免因靜電放電而損壞被測(cè)物的測(cè)試座。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的上述不足，提供一種避免因靜電放電而損壞被測(cè)物的測(cè)試座。
[0008]本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是提供一種測(cè)試座，用以測(cè)試一被測(cè)物，且該被測(cè)物上具有一電性接點(diǎn)，該測(cè)試座包括座體、承載座、導(dǎo)電板體、測(cè)試探針以及絕緣層。該承載座設(shè)置于該座體上，用以承載該被測(cè)物。該導(dǎo)電板體設(shè)置于該座體上且位于該承載座的上方，用以相對(duì)于該座體移動(dòng)而接近或遠(yuǎn)離該承載座。該測(cè)試探針穿設(shè)于該導(dǎo)電板體上且該測(cè)試探針伸出于該導(dǎo)電板體的一下表面，用以于該導(dǎo)電板體接近該承載座時(shí)與該電性接點(diǎn)接觸。該絕緣層設(shè)置于該測(cè)試探針上或該導(dǎo)電板體上，用以分隔該測(cè)試探針以及該導(dǎo)電板體。
[0009]較佳地，該絕緣層設(shè)置于該測(cè)試探針的一外表面上，且分隔該測(cè)試探針以及該導(dǎo)電板體而避免漏電現(xiàn)象。
[0010]較佳地，該絕緣層是由絕緣油墨形成，且以涂布方式或印刷方式設(shè)置于該測(cè)試探針的該外表面上。
[0011]較佳地，該測(cè)試探針包括外管、內(nèi)管、彈性元件以及針軸，該絕緣層設(shè)置于該外管的一外表面上；該內(nèi)管部分容置于該外管內(nèi)；該彈性元件容置于該內(nèi)管內(nèi)，用以提供一彈性力；該針軸部分容置于該內(nèi)管內(nèi)且該針軸的一第一端與該彈性元件接觸，而該針軸的一第二端與該電性接點(diǎn)接觸；其中當(dāng)該針軸的該第二端與該電性接點(diǎn)接觸時(shí)，該針軸被該電性接點(diǎn)推抵而可相對(duì)于該內(nèi)管移動(dòng)。
[0012]較佳地，當(dāng)該針軸的該第二端與該電性接點(diǎn)接觸時(shí)，該被測(cè)物的一電流藉由該電性接點(diǎn)流至該針軸、該內(nèi)管以及該外管，且該電流被設(shè)置于該外管上的該絕緣層阻隔以避免進(jìn)入該導(dǎo)電板體，從而避免漏電現(xiàn)象。
[0013]較佳地，該導(dǎo)電板體具有一開(kāi)孔，該開(kāi)孔貫穿該導(dǎo)電板體，且該絕緣層設(shè)置于該開(kāi)孔的側(cè)壁上，以分隔該測(cè)試探針以及該導(dǎo)電板體。
[0014]較佳地，該絕緣層是絕緣油墨形成，且以涂布方式或印刷方式設(shè)置于該開(kāi)孔的該側(cè)壁上。
[0015]較佳地，當(dāng)該測(cè)試探針與該電性接點(diǎn)接觸時(shí)，該被測(cè)物的一電流藉由該電性接點(diǎn)流至該測(cè)試探針，且該電流被設(shè)置于該開(kāi)孔上的該絕緣層阻隔以避免進(jìn)入該導(dǎo)電板體，從而避免漏電現(xiàn)象。
[0016]較佳地，該承載座具有多個(gè)固定柱體，用以穿過(guò)該被測(cè)物中相對(duì)應(yīng)的多個(gè)固定開(kāi)孔，而固定該被測(cè)物于該承載座上。
[0017]較佳地，該導(dǎo)電板體是以金屬材料所制成。
[0018]本發(fā)明測(cè)試座藉由以導(dǎo)電板體取代傳統(tǒng)的塑料板體，而解決靜電放電的問(wèn)題，且于測(cè)試探針與導(dǎo)電板體之間設(shè)置絕緣層而分隔測(cè)試探針以及導(dǎo)電板體，以避免電流由測(cè)試探針被傳導(dǎo)至導(dǎo)電板體發(fā)生漏電。因此，本發(fā)明測(cè)試座可同時(shí)解決靜電放電以及漏電的問(wèn)題，不但可確保被測(cè)物于測(cè)試過(guò)程中不受損壞，且可避免產(chǎn)生測(cè)試準(zhǔn)確度下降的問(wèn)題。
【附圖說(shuō)明】
[0019]圖1是現(xiàn)有測(cè)試座的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]圖2是本發(fā)明測(cè)試座于第一較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0021]圖3是本發(fā)明測(cè)試座的導(dǎo)電板體及測(cè)試探針于第一較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)分解示意圖。
[0022]圖4是本發(fā)明測(cè)試座于第一較佳實(shí)施例中的局部結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]圖5是本發(fā)明測(cè)試座的測(cè)試探針于第一較佳實(shí)施例中與被測(cè)物接觸的局部結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]圖6是本發(fā)明測(cè)試座的導(dǎo)電板體及測(cè)試探針于第二較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)分解示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0025]鑒于現(xiàn)有技術(shù)的問(wèn)題，本發(fā)明提供一種可解決現(xiàn)有技術(shù)問(wèn)題的測(cè)試座。首先簡(jiǎn)單說(shuō)明本發(fā)明測(cè)試座的結(jié)構(gòu)。請(qǐng)同時(shí)參閱圖2以及圖3，圖2為本發(fā)明測(cè)試座于一較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)示意圖，而圖3為本發(fā)明測(cè)試座的導(dǎo)電板體及測(cè)試探針于第一較佳實(shí)施例中的結(jié)構(gòu)分解示意圖。本發(fā)明測(cè)試座2包括座體21、承載座22、導(dǎo)電板體23、多個(gè)測(cè)試探針24、對(duì)應(yīng)于多個(gè)測(cè)試探針24的多個(gè)絕緣層25 (請(qǐng)參照?qǐng)D4)以及傳輸線26。承載座22設(shè)置于座體21上，且其功能為承載被測(cè)物20，導(dǎo)電板體23設(shè)置于座體21上且位于承載座22的上方，導(dǎo)電板體23可因應(yīng)使用者的操作而相對(duì)于座體21移動(dòng)，以接近或遠(yuǎn)離承載座22。多個(gè)測(cè)試探針24穿設(shè)于導(dǎo)電板體23上且多個(gè)測(cè)試探針24伸出于導(dǎo)電板體23的下表面231，使得多個(gè)測(cè)試探針24于導(dǎo)電板體23接近承載座22時(shí)，與承載座22上的被測(cè)物20接觸。絕緣層25的功能為分隔多個(gè)測(cè)試探針24與導(dǎo)電板體23。傳輸線26的功能為建立測(cè)試座2與電腦系統(tǒng)(未顯示于圖中)之間的連接，且傳輸被測(cè)物20的測(cè)試數(shù)據(jù)至電腦系統(tǒng)。于本較佳實(shí)施例中，導(dǎo)電板體23是以金屬材料所制成，而被測(cè)物20為具有多個(gè)電性接點(diǎn)201的電路板。
[0026]接下來(lái)說(shuō)明本發(fā)明測(cè)試座2的發(fā)明發(fā)想。由于現(xiàn)有測(cè)試座I會(huì)發(fā)生靜電放電的問(wèn)題，故于本發(fā)明測(cè)試座2中采用以金屬材料所制成的導(dǎo)電板體23，導(dǎo)電板體23具有可導(dǎo)電的功效，其可引導(dǎo)負(fù)電離子移動(dòng)而避免靜電放電損壞被測(cè)物20。然而，導(dǎo)電板體23可導(dǎo)電的功效造成被測(cè)物20反而會(huì)發(fā)生漏電現(xiàn)象，以造成測(cè)試準(zhǔn)確度下降的問(wèn)題。為了解決測(cè)試準(zhǔn)確度下降的問(wèn)題，于本發(fā)明測(cè)試座2中設(shè)置多個(gè)絕緣層25，以阻止漏電現(xiàn)象發(fā)生。
[0027]請(qǐng)同時(shí)參閱