圖2?圖4，圖4為本發(fā)明測試座于一較佳實施例中的局部結構示意圖。導電板體23具有對應于多個測試探針24的多個開孔232，圖3僅顯示一支測試探針24以及相對應的開孔232。測試探針24包括外管241、內管242、彈性元件243、針軸244以及連接線245，內管242部分容置于外管241內，彈性元件243容置于內管242內，其功能為提供一彈性力。針軸244部分容置內管242內且針軸244的第一端2441與彈性元件243接觸，而針軸244的第二端2442于導電板體23接近承載座22時與被測物20上的電性接點201接觸。多個絕緣層25分別設置于相對應的外管241的外表面2411上，連接線245設置于外管241上且電性連接于傳輸線26。于本較佳實施例中，絕緣層25是由絕緣油墨而形成，且以涂布方式或印刷方式設置于外管241的外表面2411上。藉此，外管241不與導電板體23的開孔232接觸，但可穿過開孔232。而測試探針24穿設于導電板體23的開孔232，且絕緣層25分隔外管241以及開孔232的情形如圖4所示。
[0028]接下來說明利用本發(fā)明測試座2進行被測物20的測試的運作情形。請同時參閱圖2?圖5，圖5為本發(fā)明測試座的測試探針于第一較佳實施例中與被測物接觸的局部結構示意圖。當使用者欲測試被測物20時，先放置被測物20于承載座22上，使承載座22上的多個固定柱體221分別穿過被測物20的固定開孔202，以固定被測物20于承載座22上。接下來，操作而使導電板體23往下移動，且多個針軸244的第二端2442分別與被測物20上所對應的多個電性接點201接觸。此時，由于被測物20被固定而無法移動，使得電性接點201施加一推抵力至針軸244上，亦即針軸244被電性接點201推抵而可相對于內管242移動，同時，針軸244的第一端2441推抵彈性元件243，使彈性元件243被壓縮而累積彈性力。
[0029]于被測物20被固定于承載座20之后，使用者進行供電工作，使被測物20被導電，此時，多個測試探針24可分別偵測到相對應的電性接點201的電性數值(例如電阻值、電容值或電感值等)。之后，該些電性數值可藉由連接線245以及傳輸線26被傳輸至電腦系統(tǒng)。另一方面，電腦系統(tǒng)中安裝有測試程序，其記錄有預設電性數值，當電腦系統(tǒng)接收到電性數值時，可將其與預設電性數值比較而判斷被測物20是否通過測試。其中，當電性數值等于或接近于預設電性數值時，測試程序可判斷電性接點正常，且決定被測物20通過測試。反之，電性數值與預設電性數值差異過大時，測試程序則判斷電性接點異常，且決定被測物20未通過測試。
[0030]于被測物20的測試完成之后，使用者操作而控制導電板體23遠離承載座22，以便取出被測物20，同時，多個測試探針24不再被推抵，且因應彈性元件243釋放彈性力而使測試探針24回復至未被推抵前的位置。之后，使用者可放置下一被測物于承載座22上，以進行下一被測物的測試。
[0031]需特別說明的有二，第一，于多個測試探針24分別與相對應的電性接點201接觸時，被導電的被測物20所產生的電流藉由電性接點201流至針軸244、內管242以及外管241，最后該電流被外管241上的絕緣層25阻隔，以避免漏電現象發(fā)生。因此，本發(fā)明測試座2的測試過程中不但不會受靜電放電影響，亦不會發(fā)生漏電現象。第二，本較佳實施例中，絕緣層25是設置于外管241的外表面2411上，但非以此為限。于另一較佳實施例中，絕緣層35設置于導電板體23的開孔232的側壁2321上，如圖6所示。當測試探針24穿過開孔232而穿設于導電板體23上時，絕緣層35亦可分隔測試探針24以及導電板體23而避免測試探針24與導電板體23接觸，以避免漏電發(fā)生。
[0032]根據上述內容可知，本發(fā)明測試座藉由以導電板體取代傳統(tǒng)的塑料板體，而解決靜電放電的問題，且于測試探針與導電板體之間設置絕緣層而分隔測試探針以及導電板體，以避免電流由測試探針被傳導至導電板體。因此，本發(fā)明測試座可同時解決靜電放電以及漏電的問題，不但不會損壞被測物，且不會產生測試準確度下降的問題。
[0033]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例，并非用以限定本發(fā)明的權利要求范圍，因此凡其它未脫離本發(fā)明所揭示的精神下所完成的等效改變或修飾，均應包含于本發(fā)明的專利保護范圍內。
【主權項】
1.一種測試座，用以測試一被測物，且該被測物上具有一電性接點，其特征在于，該測試座包括: 座體； 承載座，設置于該座體上，用以承載該被測物； 導電板體，設置于該座體上且位于該承載座的上方，用以相對于該座體移動而接近或遠離該承載座； 測試探針，穿設于該導電板體上且該測試探針伸出于該導電板體的一下表面，用以于該導電板體接近該承載座時與該電性接點接觸；以及 絕緣層，設置于該測試探針上或該導電板體上，用以分隔該測試探針以及該導電板體。2.如權利要求1所述的測試座，其特征在于，該絕緣層設置于該測試探針的一外表面上，且分隔該測試探針以及該導電板體。3.如權利要求2所述的測試座，其特征在于，該絕緣層是由絕緣油墨形成，且以涂布方式或印刷方式設置于該測試探針的該外表面上。4.如權利要求2所述的測試座，其特征在于，該測試探針包括: 外管，該絕緣層設置于該外管的一外表面上； 內管，部分容置于該外管內； 彈性元件，容置于該內管內，用以提供一彈性力；以及 針軸，部分容置于該內管內且該針軸的一第一端與該彈性元件接觸，而該針軸的一第二端與該電性接點接觸；其中當該針軸的該第二端與該電性接點接觸時，該針軸被該電性接點推抵而可相對于該內管移動。5.如權利要求4所述的測試座，其特征在于，當該針軸的該第二端與該電性接點接觸時，該被測物的一電流藉由該電性接點流至該針軸、該內管以及該外管，且該電流被設置于該外管上的該絕緣層阻隔以避免進入該導電板體。6.如權利要求1所述的測試座，其特征在于，該導電板體具有一開孔，該開孔貫穿該導電板體，且該絕緣層設置于該開孔的側壁上，以分隔該測試探針以及該導電板體。7.如權利要求6所述的測試座，其特征在于，該絕緣層是絕緣油墨形成，且以涂布方式或印刷方式設置于該開孔的該側壁上。8.如權利要求6所述的測試座，其特征在于，當該測試探針與該電性接點接觸時，該被測物的一電流藉由該電性接點流至該測試探針，且該電流被設置于該開孔上的該絕緣層阻隔以避免進入該導電板體。9.如權利要求1所述的測試座，其特征在于，該承載座具有多個固定柱體，用以穿過該被測物中相對應的多個固定開孔，而固定該被測物于該承載座上。10.如權利要求1所述的測試座，其特征在于，該導電板體是以金屬材料所制成。
【專利摘要】本發(fā)明關于一種測試座，包括座體、承載座、導電板體、測試探針以及絕緣層。該承載座設置于該座體上，用以承載該被測物。該導電板體設置于該座體上且位于該承載座的上方，用以相對于該座體移動而接近或遠離該承載座。該測試探針穿設于該導電板體上，且該測試探針伸出于該導電板體的一下表面，用以于該導電板體接近該承載座時與該電性接點接觸。該絕緣層設置于該測試探針上或該導電板體上，用以分隔該測試探針以及該導電板體。由此，本發(fā)明測試座不但可避免因靜電放電而損壞被測物，且可改善測試準確度下降的問題。
【IPC分類】G01R1/067, G01R1/04
【公開號】CN105588957
【申請?zhí)枴緾N201410635334
【發(fā)明人】張倍銘
【申請人】致伸科技股份有限公司
【公開日】2016年5月18日
【申請日】2014年11月12日