1.一種測(cè)試方法，其特征在于，包括：
接收測(cè)試指令；
根據(jù)所述測(cè)試指令調(diào)用測(cè)試代碼進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試代碼中攜帶有性能監(jiān)測(cè)代碼；
接收性能監(jiān)測(cè)指令，調(diào)用所述性能監(jiān)測(cè)代碼來(lái)監(jiān)測(cè)性能指標(biāo)；
測(cè)試結(jié)束后輸出測(cè)試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試指令與所述性能監(jiān)測(cè)指令同步執(zhí)行，當(dāng)調(diào)用測(cè)試代碼進(jìn)行測(cè)試時(shí)，同步調(diào)用性能監(jiān)測(cè)代碼監(jiān)測(cè)性能指標(biāo)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述性能監(jiān)測(cè)代碼整體封裝在所述測(cè)試代碼中，封裝好的所述性能監(jiān)測(cè)代碼包含調(diào)用接口。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試結(jié)果包括功能測(cè)試數(shù)據(jù)、性能監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)和性能監(jiān)測(cè)時(shí)序圖。
5.一種測(cè)試裝置，其特征在于，包括：
指令接收模塊，用于接收測(cè)試指令；
測(cè)試指令執(zhí)行模塊，用于根據(jù)所述測(cè)試指令調(diào)用測(cè)試代碼進(jìn)行測(cè)試，所述測(cè)試代碼中攜帶有性能監(jiān)測(cè)代碼；
性能監(jiān)測(cè)指令執(zhí)行模塊，用于接收性能監(jiān)測(cè)指令，調(diào)用所述性能監(jiān)測(cè)代碼來(lái)監(jiān)測(cè)性能指標(biāo)；
反饋模塊，用于在測(cè)試結(jié)束后輸出測(cè)試結(jié)果。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試指令執(zhí)行模塊和所述性能監(jiān)測(cè)指令執(zhí)行模塊在測(cè)試過(guò)程中同步運(yùn)行，當(dāng)調(diào)用測(cè)試代碼進(jìn)行測(cè)試時(shí)，同步調(diào)用性能監(jiān)測(cè)代碼監(jiān)測(cè)性能指標(biāo)。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置，其特征在于，性能監(jiān)測(cè)代碼整體封裝在測(cè)試代碼中，封裝好的性能監(jiān)測(cè)代碼包含調(diào)用接口。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述反饋模塊輸出的測(cè)試結(jié)果包括功能測(cè)試數(shù)據(jù)、性能監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)和性能監(jiān)測(cè)時(shí)序圖。