技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提出了一種能夠消除亞穩(wěn)態(tài)的多電源系統(tǒng)上電檢測電路。該上電檢測電路主要由外部電源、外部電源電平檢測單元、N個內(nèi)部電源、N個內(nèi)部電源電平檢測及電平轉(zhuǎn)換單元、以及N+1輸入的或非門，所述外部電源電平檢測單元的輸出和N個內(nèi)部電源電平檢測及電平轉(zhuǎn)換單元的輸出共同形成該或非門的N+1輸入；該或非門的輸出即為上電檢測電路的最終輸出；每個內(nèi)部電源電平檢測及電平轉(zhuǎn)換單元中，通過增加初始態(tài)鎖存器，用以設(shè)定內(nèi)部電源電平轉(zhuǎn)換信號(與內(nèi)部電源對應(yīng)的或非門輸入信號)的初始值，并進行鎖存，直至內(nèi)部電源電壓達(dá)到設(shè)定的內(nèi)部電源檢測閾值之后才將其釋放，從而消除了上電檢測中出現(xiàn)亞穩(wěn)態(tài)。

技術(shù)研發(fā)人員：張曉晨
受保護的技術(shù)使用者：西安紫光國芯半導(dǎo)體有限公司
文檔號碼：201710017245
技術(shù)研發(fā)日：2017.01.10
技術(shù)公布日：2017.06.27